传感器性能评估方法、装置、电子设备和介质制造方法及图纸

技术编号:40984910 阅读:21 留言:0更新日期:2024-04-18 21:29
本发明专利技术公开了一种传感器性能评估方法、装置、电子设备和介质,所述方法包括:获取传感器在每个采样时刻实际采集的第一数据和模拟采集的第二数据;为每个所述采样时刻配置多种类型的时间窗口,根据每个所述采样时刻的每种时间窗口内的所述第一数据和所述第二数据,分别确定每个所述采样时刻配置的每种时间窗口对应的第一特征和第二特征;根据每个所述采样时刻配置的每种时间窗口对应的所述第一特征和所述第二特征,确定每种时间窗口在所述传感器采样过程中的偏离值;根据每种时间窗口对应的偏离值,确定所述传感器的性能评分。采用该方法能够实现从全样本评估的角度,通过全量的、真实的传感器采样数据,全面准确地监测评估传感器的性能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及传感器,特别是涉及一种传感器性能评估方法、装置、电子设备和介质


技术介绍

1、随着城市生命线工程以及工业互联网生态项目的快速发展,各类传感器遍布在各个角落运行,通过海量的传感器实时采集各类参数,上传至云端,并开展多种业务及各种模型的数据计算,为城市生命线工程提供多种监测运行服务。在这个业务场景中,城市安全监测运行的所有生态应用都必须基于传感器数据才能有效运行,因此,需要保证传感器所采集到的数据真实可靠。在相关技术中,对于传感器的质检主要依赖人工抽样和检测,存在着很多问题,如样本数量太小、实验室送检过程繁琐、结果容易误判等,无法准确、全面地监测和评估传感器性能。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够全面准确地评估传感器性能的传感器性能评估方法、装置、电子设备和介质。

2、一种传感器性能评估方法,包括:获取传感器在每个采样时刻实际采集的第一数据和模拟采集的第二数据;

3、为每个所述采样时刻配置多种类型的时间窗口,根据每个所述采样时刻的每种时间窗口内本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种传感器性能评估方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的传感器性能评估方法,其特征在于,在根据每个所述采样时刻配置的每种时间窗口对应的所述第一特征和所述第二特征,确定每种时间窗口在所述传感器采样过程中的偏离值时,所述方法包括:

3.根据权利要求1或2所述的传感器性能评估方法,其特征在于,在根据每个所述采样时刻配置的每种时间窗口对应的所述第一特征和所述第二特征,确定每种时间窗口在所述传感器采样过程中的偏离值时,所述方法包括:

4.根据权利要求2所述的传感器性能评估方法,其特征在于,所述按照设定顺序依次确定每种时间窗口对应的偏离值,包括:<...

【技术特征摘要】

1.一种传感器性能评估方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的传感器性能评估方法,其特征在于,在根据每个所述采样时刻配置的每种时间窗口对应的所述第一特征和所述第二特征,确定每种时间窗口在所述传感器采样过程中的偏离值时,所述方法包括:

3.根据权利要求1或2所述的传感器性能评估方法,其特征在于,在根据每个所述采样时刻配置的每种时间窗口对应的所述第一特征和所述第二特征,确定每种时间窗口在所述传感器采样过程中的偏离值时,所述方法包括:

4.根据权利要求2所述的传感器性能评估方法,其特征在于,所述按照设定顺序依次确定每种时间窗口对应的偏离值,包括:

5.根据权利要求4所述的传感器性能评估方法,其特征在于,在确定所述偏离值大于所述预设偏离值的情况下,所述方法还包括:

...

【专利技术属性】
技术研发人员:戴佳昆陈涛任毅
申请(专利权)人:清华大学合肥公共安全研究院
类型:发明
国别省市:

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