【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及模拟集成电路，尤其涉及一种电路设计方法和系统。
技术介绍
1、模拟集成电路在电路系统设计中发挥着重要作用，其中各cmos(互补金属氧化物半导体)管的宽(w)、长(l)、数量(m)等电路参数对于电路性能具有重要影响，优化这些参数可以提高电路性能并降低功耗。目前，传统的电路参数优化方法依赖人工经验和试错，这些方法不仅效率低，而且容易出错，这限制了电路参数优化的应用范围和效果。现有技术中，电路设计方法效率低、电路参数的精确度低。
技术实现思路
1、以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
2、本专利技术实施例提供了一种电路设计方法和系统，有效地提高了效率和电路参数的精确度。
3、一方面，本专利技术实施例提供了一种电路设计方法，包括以下步骤：
4、初始化第一电路参数、动态步长因子和动态方向因子；
5、对所述第一电路参数进行编码，得到第一基因编码，所述第一基因编码用于将解空间划分为三维网格空间；
<...【技术保护点】
1.一种电路设计方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种电路设计方法，其特征在于，所述对所述第一电路参数进行编码，得到第一基因编码，包括：
3.根据权利要求1所述的一种电路设计方法，其特征在于，所述根据所述第一基因编码、所述三维网格空间、所述动态步长因子和负反馈信息素，计算第一适应度值，包括：
4.根据权利要求3所述的一种电路设计方法，其特征在于，在计算得到所述第一适应度值后，所述方法还包括以下步骤：
5.根据权利要求3所述的一种电路设计方法，其特征在于，所述根据电路性能范围值，计算电路性能的违反程
...【技术特征摘要】
1.一种电路设计方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种电路设计方法，其特征在于，所述对所述第一电路参数进行编码，得到第一基因编码，包括：
3.根据权利要求1所述的一种电路设计方法，其特征在于，所述根据所述第一基因编码、所述三维网格空间、所述动态步长因子和负反馈信息素，计算第一适应度值，包括：
4.根据权利要求3所述的一种电路设计方法，其特征在于，在计算得到所述第一适应度值后，所述方法还包括以下步骤：
5.根据权利要求3所述的一种电路设计方法，其特征在于，所述根据电路性能范围值，计算电路性能的违反程度值，包括：
6.根据权利要求3所述的一种电...
【专利技术属性】
技术研发人员：曾衍瀚，陈晓菲，唐超英，俞晓飞，李成霖，杨琳钧，
申请(专利权)人：广州大学，
类型：发明
国别省市：
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