跟踪扫描系统以及跟踪扫描处理方法技术方案

本申请提供了一种跟踪扫描系统以及跟踪扫描处理方法，其中，该系统包括：扫描装置、跟踪装置以及控制装置；扫描装置用于对待检测工件进行扫描，并将扫描信息发送至控制装置；跟踪装置用于对扫描装置进行跟踪，并将跟踪信息发送至控制装置；控制装置用于实时对扫描信息与跟踪信息进行数据同步处理，并根据同步处理的结果，确定待检测工件的坐标信息。本申请通过控制装置对扫描信息以及跟踪信息进行数据同步，能够消除扫描信息与跟踪信息之间的各种误差，并得到待检测工件的坐标信息，实现对待检测工件的扫描，提高了得到的待检测工件的坐标信息的准确度。同时，对于使用环境的要求较低，有助于提高使用和生产效率以及降低成本。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及三维扫描，具体而言，涉及一种跟踪扫描系统以及跟踪扫描处理方法。

技术介绍

1、随着工件和工作环境的复杂性提高，三维扫描系统广泛应用于制造行业中。通过三维扫描控制系统，能够实现对长达几米甚至几十米的工件对象进行长时间持续不间断的扫描。

2、现有技术中，通常使用三坐标测量机实现三维扫描系统，以对工件的不同孔位和曲面特征进行测量。但是，三坐标测量机使用测头探针进行接触式的测量，且三坐标测量机的器件体积庞大，因此，对使用环境有较高要求，从而导致使用和生产效率较低。同时，成本较高。

技术实现思路

1、本申请的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种跟踪扫描系统以及跟踪扫描处理方法，以解决现有技术中接触式测量时，使用和生产效率较低。同时，成本较高的问题。

2、为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：

3、第一方面，本申请一实施例提供了一种跟踪扫描系统，所述系统包括：

4、扫描装置、跟踪装置以及控制装置；

5、所述扫描装置以及所述跟踪装置分别本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种跟踪扫描系统，其特征在于，包括：扫描装置、跟踪装置以及控制装置；

2.根据权利要求1所述的跟踪扫描系统，其特征在于，所述控制装置具体用于：

3.根据权利要求1所述的跟踪扫描系统，其特征在于，所述扫描装置包括：扫描采集单元以及扫描控制单元；

4.根据权利要求3所述的跟踪扫描系统，其特征在于，所述扫描采集单元包括：激光器模块、相机模块；

5.根据权利要求3所述的跟踪扫描系统，其特征在于，所述扫描装置还包括：发光标识；

6.根据权利要求1所述的跟踪扫描系统，其特征在于，所述跟踪装置包括：跟踪采集单元以及跟踪控制单元；

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【技术特征摘要】

1.一种跟踪扫描系统，其特征在于，包括：扫描装置、跟踪装置以及控制装置；

2.根据权利要求1所述的跟踪扫描系统，其特征在于，所述控制装置具体用于：

3.根据权利要求1所述的跟踪扫描系统，其特征在于，所述扫描装置包括：扫描采集单元以及扫描控制单元；

4.根据权利要求3所述的跟踪扫描系统，其特征在于，所述扫描采集单元包括：激光器模块、相机模块；

5.根据权利要求3所述的跟踪扫描系统，其特征在于，所述扫描装置还包括：发光标识；

6.根据权利要求1所述的跟踪扫描系统，其特征在于，所述跟踪装置包括：跟踪采集...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈佳骐，任关宝，王晓南，成剑华，刘庆龙，
申请(专利权)人：武汉中观自动化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：