相位法激光测距光路系统及相位法激光测距装置制造方法及图纸

技术编号:40967135 阅读:17 留言:0更新日期:2024-04-18 20:47
本申请涉及一种相位法激光测距光路系统及相位法激光测距装置,属于激光测距技术领域,光路系统包括沿光路传播主轴依次设置的激光发射管、激光准直发射透镜、分光片、圆偏振片和激光接收透镜;分光片用于将激光准直发射透镜出射的平行激光分成透射激光、第一反射激光及第二反射激光,使第一反射激光入射参考信号接收管;圆偏振片用于使透射激光出射为圆偏振光,并使圆偏振光照射到设于待测物体表面的反光组件上;激光接收透镜用于将反光组件反射的激光汇聚到主信号接收管;分光片相对于激光准直发射透镜呈倾斜设置;分光片的厚度从一端向另一端逐渐减小。本申请能改善分光片入射面与出射面反射激光的信号干扰问题。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及激光测距,尤其是涉及一种相位法激光测距光路系统及相位法激光测距装置


技术介绍

1、相位法激光测距装置是一种精密的测距设备。由于相位法激光测距装置具有高精度、高分辨率、测量速度快、抗干扰能力强等优点,因此在建筑、工业、航空航天、军事应用等领域有广泛的应用。

2、在相位法激光测距中,分光片是一个重要的组成部分,它可以将发射的激光脉冲分为两束光,一束通过光学系统照射到待测物体并反射回来,作为主信号被接收器接收,用于测距;另一束作为参考信号,通过另一个光学系统传输到接收器。通过比较主信号和参考信号的相位差,可以计算出待测物体与传感器之间的距离。

3、当激光入射分光片时,分光片的入射面和出射面均能反射激光。如果分光片前后表面的反射光不加以区分,都返回参考信号接收管的话,会出现同频干扰,对测距精度有很大的影响,严重点可能还会导致测量出错。

4、所以,要想准确测距,就需要将分光片入射面与出射面反射的激光进行区分,不能让出射面反射的激光对入射面反射的激光产生信号干扰。但是,目前的相位法激光测距装置并未考虑二者之间的信号干扰,本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种相位法激光测距光路系统,其特征在于,包括沿光路传播主轴依次设置的激光发射管(100)、激光准直发射透镜(200)、分光片(300)、圆偏振片(400)和激光接收透镜(500);其中,

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述圆偏振片(400)相对于所述激光准直发射透镜(200)呈倾斜设置,且倾斜方向与所述分光片(300)的倾斜方向相反。

3.根据权利要求1或2所述的系统,其特征在于,所述分光片(300)的厚度从1.1mm逐渐减小到0.77 mm。

4.根据权利要求1或2所述的系统,其特征在于,所述分光片(300)的光轴垂直于所述分光片(3...

【技术特征摘要】

1.一种相位法激光测距光路系统,其特征在于,包括沿光路传播主轴依次设置的激光发射管(100)、激光准直发射透镜(200)、分光片(300)、圆偏振片(400)和激光接收透镜(500);其中,

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述圆偏振片(400)相对于所述激光准直发射透镜(200)呈倾斜设置,且倾斜方向与所述分光片(300)的倾斜方向相反。

3.根据权利要求1或2所述的系统,其特征在于,所述分光片(300)的厚度从1.1mm逐渐减小到0.77 mm。

4.根据权利要求1或2所述的系统,其特征在于,所述分光片(300)的光轴垂直于所述分光片(300)靠近所述激光准直发射透镜(200)的一面。

5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述激光接收透镜(500)的入射面为非球面(502);所述激光接收透镜(500)的出射面为平面(501);

6...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡连逵洪宝庭
申请(专利权)人:广东兴颂科技有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1