【技术实现步骤摘要】
本申请涉及激光测距,尤其是涉及一种相位法激光测距光路系统及相位法激光测距装置。
技术介绍
1、相位法激光测距装置是一种精密的测距设备。由于相位法激光测距装置具有高精度、高分辨率、测量速度快、抗干扰能力强等优点,因此在建筑、工业、航空航天、军事应用等领域有广泛的应用。
2、在相位法激光测距中,分光片是一个重要的组成部分,它可以将发射的激光脉冲分为两束光,一束通过光学系统照射到待测物体并反射回来,作为主信号被接收器接收,用于测距;另一束作为参考信号,通过另一个光学系统传输到接收器。通过比较主信号和参考信号的相位差,可以计算出待测物体与传感器之间的距离。
3、当激光入射分光片时,分光片的入射面和出射面均能反射激光。如果分光片前后表面的反射光不加以区分,都返回参考信号接收管的话,会出现同频干扰,对测距精度有很大的影响,严重点可能还会导致测量出错。
4、所以,要想准确测距,就需要将分光片入射面与出射面反射的激光进行区分,不能让出射面反射的激光对入射面反射的激光产生信号干扰。但是,目前的相位法激光测距装置并未考虑
...【技术保护点】
1.一种相位法激光测距光路系统,其特征在于,包括沿光路传播主轴依次设置的激光发射管(100)、激光准直发射透镜(200)、分光片(300)、圆偏振片(400)和激光接收透镜(500);其中,
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述圆偏振片(400)相对于所述激光准直发射透镜(200)呈倾斜设置,且倾斜方向与所述分光片(300)的倾斜方向相反。
3.根据权利要求1或2所述的系统,其特征在于,所述分光片(300)的厚度从1.1mm逐渐减小到0.77 mm。
4.根据权利要求1或2所述的系统,其特征在于,所述分光片(300)的光轴
...【技术特征摘要】
1.一种相位法激光测距光路系统,其特征在于,包括沿光路传播主轴依次设置的激光发射管(100)、激光准直发射透镜(200)、分光片(300)、圆偏振片(400)和激光接收透镜(500);其中,
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述圆偏振片(400)相对于所述激光准直发射透镜(200)呈倾斜设置,且倾斜方向与所述分光片(300)的倾斜方向相反。
3.根据权利要求1或2所述的系统,其特征在于,所述分光片(300)的厚度从1.1mm逐渐减小到0.77 mm。
4.根据权利要求1或2所述的系统,其特征在于,所述分光片(300)的光轴垂直于所述分光片(300)靠近所述激光准直发射透镜(200)的一面。
5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述激光接收透镜(500)的入射面为非球面(502);所述激光接收透镜(500)的出射面为平面(501);
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【专利技术属性】
技术研发人员:胡连逵,洪宝庭,
申请(专利权)人:广东兴颂科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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