光检测元件和光检测装置制造方法及图纸

技术编号:40959882 阅读:18 留言:0更新日期:2024-04-18 20:37
本发明专利技术优化了像素布局。放大单元生成与保持在电荷保持单元中的电荷相对应的信号,并将所述信号输出到预定的第一输出节点。第一电容元件的一端连接到第一输出节点,并且保持复位电平,所述复位电平是在由第一复位单元复位时的信号的电平。第二电容元件的一端连接到第一输出节点,并且保持图像信号电平,所述图像信号电平是当电荷被传输到所述电荷保持单元时的信号的电平。读出电路连接到第二输出节点,分别读出保持在第一电容元件中的复位电平和保持在第二电容元件中的图像信号电平,并且作为复位信号和图像信号输出。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开涉及一种光检测元件和光检测装置


技术介绍

1、生成被摄体的图像的光检测元件已被使用。通过将具有光电转换元件的像素以二维矩阵状配置来构成光检测元件。此外,光检测元件重复曝光以执行来自被摄体的光的光电转换以及基于通过光电转换产生的电荷从像素读出图像信号,从而输出生成的图像。

2、在该像素中,在曝光期间通过光电转换产生的电荷累积在光电转换元件的内部。然后,在经过曝光期间之后累积在光电转换元件中的电荷被传输到电荷保持单元。电荷保持单元可以由浮动扩散层构成,该浮动扩散层由配置在其上形成有光电转换元件的半导体基板上的扩散区域形成。放大晶体管与其连接,并且生成与保持在浮动扩散层中的电荷相对应的信号。这种信号生成方式被称为浮动扩散放大器。注意,浮动扩散层由复位单元复位,以排出紧接在电荷传输之前残留的电荷。

3、另一方面,对二维矩阵状配置的每行像素顺次执行读出。此时,在配置于一行中的像素中同时执行读出。作为这种图像的生成方法,使用滚动快门方式和全局快门方式。

4、滚动快门方式是一种以每行偏移的期间顺次执行曝光和读出的方式,并且是一本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光检测元件,包括:

2.根据权利要求1所述的光检测元件,还包括排出所述光电转换单元的电荷的电荷排出单元。

3.根据权利要求1所述的光检测元件,还包括:

4.根据权利要求1所述的光检测元件,还包括连接在所述放大单元和第一输出节点之间的选择单元。

5.根据权利要求1所述的光检测元件,还包括多个像素,所述像素包括所述光电转换单元、所述电荷传输单元、第一复位单元、所述放大单元、所述恒电流电路、第一电容元件、第二电容元件、第一开关元件、第二开关元件、第二复位单元、所述读出电路和所述基板触点。

6.根据权利要求5所述的光检测元件,其...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种光检测元件,包括:

2.根据权利要求1所述的光检测元件,还包括排出所述光电转换单元的电荷的电荷排出单元。

3.根据权利要求1所述的光检测元件,还包括:

4.根据权利要求1所述的光检测元件,还包括连接在所述放大单元和第一输出节点之间的选择单元。

5.根据权利要求1所述的光检测元件,还包括多个像素,所述像素包括所述光电转换单元、所述电荷传输单元、第一复位单元、所述放大单元、所述恒电流电路、第一电容元件、第二电容元件、第一开关元件、第二开关元件、第二复位单元、所述读出电路和所述基板触点。

6.根据权利要求5所述的光检测元件,其中,彼此相邻的所述像素共享所述基板触点,并且所述光电转换单元、所述电荷传输单元、第一复位单元、所述放大单元、所述恒电流电路、第一电容元件、第二电容元件、第一开关元件、第二开关元件、第二复位单元和所述读出电路彼此对称地配置。

7.根据权利要求5所述的光检测元件,其中,第二复位单元和所述读出电路由彼此相邻的所述像素共享。

8.根据权利要求1所述的光检测元件,还包括:

9.根据权利要求8所述的光检测元件,其中,所述电荷保持单元包括作为形成在所述半导体基板的扩散层中的半导体区域的浮动扩散层。

10.根据权利要求9所述的光检测元件,其中,所述电荷保持单元配置在所述电荷传输单元和第一复位单元之间。

11.根据权利要求9所述的光检测元件,其中,所述放大单元配置在连接所述电荷保持单元和第一复位单元的线的法线方向上。

12.根据权利要求9所述的光检测元件,还包括:

13.根据权利要求12所述的光检测元件,其中,所述电荷保持单元配置在所述电荷传输单元和所述结合单元之间。

14.根据权利要求12所述的光检测元件,其中,所述放大单元配置在连接所述电荷保持单元和所述结合单元的线的法线方向上。

15.根据权利要求9所述的光检测元件,还包括:

16.根据权利要求8所述的光检测元件,其中,所述半导体基板层叠在第二半导体基板的形成有配线区域的面侧。

17.根据权利要求8所述的光检测元件,其中,所述半导体基板层叠在与第二半导体基板的形成有配线区域的面不同的侧。

18.根据权利要求1所述的光检测元件,其中,所述恒电流电路包括串联连接...

【专利技术属性】
技术研发人员:熊谷至通坂东雅史大泽尚幸秋山竣哉白方彻阿部高志青田智也
申请(专利权)人:索尼半导体解决方案公司
类型:发明
国别省市:

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