本发明专利技术公开了一种基于人工智能的电子元件存储数据分析系统及方法，属于芯片数据分析技术领域，包括芯片数据采集模块、数据管理中心、历史处理分析模块、数据清理管理模块和存储数据整理规划模块，通过芯片数据采集模块采集用于采集芯片内数据被清理的历史数据以及芯片的数据存储信息，通过数据管理中心存储并管理采集到的全部数据，通过历史处理分析模块分析芯片内数据被清理的历史数据并生成训练样本，通过数据清理管理模块建立数据清理预测模型，预测下一次需要进行芯片数据清理时间并进行数据清理，通过存储数据整理规划模块比较芯片内存储信息的利用价值，筛选出芯片内的部分数据进行删除处理，持续性地保障了导航芯片的正常和便利使用。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片数据分析，具体为一种基于人工智能的电子元件存储数据分析系统及方法。
技术介绍
1、电子元件是指在电子设备中使用的各种部件，包括电子器件、电容器、电感、晶体管等，其中，芯片就是一种电子器件，随着半导体工艺制程的不断进步，芯片规模越来越大，功能也越来越复杂，随着科技的发展，数据信息呈现指数上涨，互联网、社交网络等的普及，都使得芯片内数据信息的存储显得十分重要；
2、针对用于导航的芯片，在导航过程中会将导航数据，例如导航路线、实际移动路线以及起点、终点位置信息等存储在芯片内，芯片使用了一定时间后，可能会出现因存储空间不足导致导航功能响应速度减慢甚至导航路线出错等问题，不对一些无效的数据作删除处理无法持续性地保障导航芯片的正常使用，若删除处理时间选择不当，会出现因处理过于频繁而导致某些时候删除的数据量过少的问题，从而降低删除处理操作的效用；若删除处理内容选择不当，例如将历史导航路线信息全部删除，则会出现用户在使用导航时，导航系统需要重新加载新的导航路线，增加了不必要的加载工作且减慢了导航功能的响应速度。
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【技术保护点】
1.一种基于人工智能的电子元件存储数据分析系统，其特征在于：所述系统包括：芯片数据采集模块、数据管理中心、历史处理分析模块、数据清理管理模块和存储数据整理规划模块；
2.根据权利要求1所述的一种基于人工智能的电子元件存储数据分析系统，其特征在于：所述芯片数据采集模块包括导航信息采集单元、移动信息采集单元和清理信息采集单元；
3.根据权利要求1所述的一种基于人工智能的电子元件存储数据分析系统，其特征在于：所述历史处理分析模块包括清理信息调取单元和训练样本生成单元；
4.根据权利要求3所述的一种基于人工智能的电子元件存储数据分析系统，其特征在于：所述数据清...
【技术特征摘要】
1.一种基于人工智能的电子元件存储数据分析系统，其特征在于：所述系统包括：芯片数据采集模块、数据管理中心、历史处理分析模块、数据清理管理模块和存储数据整理规划模块；
2.根据权利要求1所述的一种基于人工智能的电子元件存储数据分析系统，其特征在于：所述芯片数据采集模块包括导航信息采集单元、移动信息采集单元和清理信息采集单元；
3.根据权利要求1所述的一种基于人工智能的电子元件存储数据分析系统，其特征在于：所述历史处理分析模块包括清理信息调取单元和训练样本生成单元；
4.根据权利要求3所述的一种基于人工智能的电子元件存储数据分析系统，其特征在于：所述数据清理管理模块包括预测模型建立单元和清理时间设置单元；
5.根据权利要求4所述的一种基于人工智能的电子元件存储数据分析系统，其特征在于：所述存储数据整理规划模块包括利用价值分析单元和存储数据删除单元；
6.一种基于人工智能的电子元件存储数据分析方法，其特征在于：包括以下步骤：
7.根据权利要求6所述的一种基于人工智能的电子元件存储数据分析方法，其特征在于：在步骤s01中：设置芯片存储空间剩余容量阈值为b，采集到用户使用的芯片内的数据以往因芯片存储空间剩余容量小于或等于b而被清理的间隔时长集合为t＝{t1，t2，…，tg}，其中，t1表示芯片内数据第2次被清理时间距第1次被清理完成时间的间隔时长，tg表示芯片内数据第g+1次被清理时间距第g次被清理完成时间的间隔时长，采集到芯片内数据被清理时剩余容量差值集合为r＝{r1，r2，…，rg}，其中，r1表示芯片内数据第2次被清理时的剩余容量与第1次被清理完成时的剩余容量之间的差值，rg表示芯片内数据第g+1次被清理时的剩余容量与第g次被清理完成时的剩余容量之间的差值，前一次被清理完成时的剩余容量大于后一次被清理时的剩余容量，剩余容量差值都大于0，采集用于导航的芯片内存储的导航路线信息，采集用户以往参照芯片...
【专利技术属性】
技术研发人员：袁永斌，
申请(专利权)人：上海源斌电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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