【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于校准差示扫描量热仪的方法。本专利技术尤其涉及一种确定第二校准因子的方法，所述第二校准因子允许使给定校准适于期望的测量气体和温度，而不需要用参考物质进行测量。本专利技术还涉及一种确定转换因子的方法，所述转换因子表征差示扫描量热仪内部的几何构造，并且可以与所述第二校准因子一起使用，以校准差示扫描量热仪的测量值，而不需要或仅需要非常少的用参考物质的测量。最后，本专利技术涉及一种使用根据本专利技术的方法中的至少一种方法的自校准差示扫描量热仪。
技术介绍
1、差示扫描量热仪测量作为对样品温度的反应的去向或来自样品的热流。因此，其可以检测和表征样品的相变。
2、在测量期间，将样品放置在盘中。盘和内部的样品与温控热源、通常为炉热接触。盘通常布置在作为传感器装置的一部分的盘支撑区域上。或者盘周围的体积区域充满测量气体。所述传感器装置包括测量区域和输出指示通过测量区域的热流的信号的测量区域传感器。
3、测量气体可以通过其化学性质或通过其在测量温度下的密度或压力来表征。测量气体可以是压力等于周围压力的空气，或者...
【技术保护点】
1.一种确定差示扫描量热仪的第二校准因子CE的方法，其中，所述差示扫描量热仪包括：
2.根据权利要求1所述的确定差示扫描量热仪的第二校准因子CE的方法，
3.一种适合于根据权利要求1至2中任一项所述的方法确定第二校准因子CE的自校准差示扫描量热仪，包括：
4.根据权利要求3所述的自校准差示扫描量热仪，其中，所述数据评估单元(10)能够获取第一默认校准因子CHd，所述第一默认校准因子CHd取决于所述盘类型、所述测量气体和所述温度，并且其中，所述数据评估单元优选地进一步被配备成将去向或来自所述样品盘中的样品的热流评估为所述差分热流信号与...
【技术特征摘要】
1.一种确定差示扫描量热仪的第二校准因子ce的方法，其中，所述差示扫描量热仪包括：
2.根据权利要求1所述的确定差示扫描量热仪的第二校准因子ce的方法，
3.一种适合于根据权利要求1至2中任一项所述的方法确定第二校准因子ce的自校准差示扫描量热仪，包括：
4.根据权利要求3所述的自校准差示扫描量热仪，其中，所述数据评估单元(10)能够获取第一默认校准因子chd，所述第一默认校准因子chd取决于所述盘类型、所述测量气体和所述温度，并且其中，所述数据评估单元优选地进一步被配备成将去向或来自所述样品盘中的样品的热流评估为所述差分热流信号与所述第一默认校准因子的比值，所述差分热流信号是直接测量的或者被确定为所述样品侧热流信号与所述参考侧热流信号之间的差u＝us-ur。
5.一种用差示扫描量热仪、优选地用根据权利要求3至4中任一项所述的自校准差示扫描量热仪确定转换因子f的方法，包括以下步骤：
6.一种用差示扫描量热仪、优选地用根据权利要求4所述的自校准差示扫描量热仪确定转换因子f的方法，包括以下步骤：
7.一种针对布置在给定炉中的样品侧盘支撑区域处的给定盘类型确定转换因子f的方法，所述方法由差示扫描量热仪使用、优选地由根据权利要求3至4中任一项所述的自校准差示扫描量热仪使用，所述差示扫描量热仪使用所述盘类型、作为温控热源的所述炉以及所述样品侧盘支撑区域，所述方法包括以下步骤：
8.使用差示扫描量热仪、优选地根据权利要求3至4中任一项所述的自校准差示扫描量热仪的去向或来自...
【专利技术属性】
技术研发人员：T·迈尔，T·许特尔，
申请(专利权)人：梅特勒托莱多有限公司，
类型：发明
国别省市：
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