【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于元器件工程总体，尤其涉及一种基于风险模型的cots元器件快速选型方法及工具。
技术介绍
1、商用货架(commercial off-the-shelf，cots)器件一般为制造商面向大部分用户使用场景，基于制造商内部程序或工业规范而设计和制造的器件，具有技术先进、通用性好、研发周期短以及采购成本低等优点。产品中选用cots器件通常面临差异化，但目前选型效率不高，对于可能出现的选型风险认识不足，缺少量化风险评价方法，因此，需要结合应用特点并结合cots元器件基本数据信息，建立cots元器件选型风险模型，实现快速选型。
技术实现思路
1、本专利技术的技术解决问题：为了解决现有技术问题，本专利技术公开了一种基于风险模型的cots元器件快速选型方法，以商业货架产品元器件(cots器件)为研究对象，通过建立cots元器件选型风险指标体系，建设cots元器件选型风险数据库，基于选型风险指标体系构建cots元器件快速选型风险模型，通过选型工具进行信息匹配实现cots元器件选型风险评价分析，解决cots元器件选型风险量化、高效选型分析问题。
2、本专利技术技术解决方案：
3、一种基于风险模型的cots元器件快速选型方法，包括：
4、建立cots元器件选型风险指标体系，风险指标包括cots元器件的可靠性风险riskf、环境适应性风险riske、辐射风险riskr，费用风险riskc、进度风险riskt和供应商风险risks；
5、建立co
6、基于所建立的cots元器件选型风险指标体系，利用建立的cots元器件风险模型，计算形成cots元器件选型风险数据库；
7、根据应用场景和任务类型，设定cots元器件选用风险容忍阈值，比对计算所得选用风险和用户风险可接受程度，给出cots元器件选型风险分析结果及选型建议。
8、进一步的，cots元器件选型风险指标体系包括cots元器件应用能力风险指标和cots元器件制造供应风险指标，可靠性风险riskf、环境适应性风险riske、辐射风险riskr构成cots元器件应用能力风险指标；费用风险riskc、进度风险riskt和供应商风险risks构成cots元器件制造供应风险指标。
9、进一步的，cots器件模型中涉及的每一项选型风险表示为cots器件预期需求与实际情况的差距量化值，即每一项选型风险的基本形式为
10、
11、其中，riski为每一项选型风险值，i为风险项序号，xexp为预期值，xreal为实际值。
12、进一步的，可靠性风险riskf定义方法为：
13、根据星座卫星整体可靠性指标分配结果，对于器件的预期可靠性指标要求以失效率形式表示为λexp，实际根据器件飞行经历得到的可靠性指标为由于在轨飞行数据多为无失效数据的累积，采用无失效数据卡方模型进行统计分析，产品的无故障工作时间置信水平为1-α时的置信下限为
14、
15、其中，t为累积宇航应用时间，为自由度为2的卡方分布的1-α分位数，根据电子元器件寿命服从指数分布，产品失效率为λreal＝1/θl，可靠性风险定义为
16、
17、其中，λexp为预期的可靠性指标要求，λreal为实际的可靠性指标；即当根据在轨飞行经历计算得到的实际失效率大于预期失效率时，存在可靠性风险，而根据飞行经历计算得到的实际失效率低于预期时，器件没有可靠性风险。
18、进一步的，辐射风险riskr定义方法为：
19、
20、其中，sexp为预期的抗单粒子效应能力指标要求，sreal为实际的抗单粒子效应能力；dexp为预期的抗电离总剂量效应能力指标要求，dreal为实际的抗电离总剂量效应能力；
21、若该类器件对于单粒子和总剂量效应中某一项不敏感，则其风险为0；当器件某项抗辐照能力超出卫星要求，则风险为0；当器件某项抗辐照能力低于需求值时，根据差距计算风险。
22、进一步的，费用风险riskc定义方法为：
23、
24、其中，cexp为预期的元器件成本，creal为实际的元器件成本。
25、进一步的，进度风险riskt定义方法为：
26、
27、其中，texp为预期的供货周期，treal为实际的供货周期。
28、进一步的，供应商风险risks定义方法为：
29、
30、其中，gexp为预期的供应商评分，greal为实际的供应商评分。
31、进一步的，基于所建立的cots元器件选型风险指标体系，利用建立的cots元器件风险模型，计算形成cots元器件选型风险数据库，包括：
32、依据选型风险指标体系，明确cots元器件选型相关数据项，包括元器件基础信息(元器件类别、元器件名称、质量等级、封装形式)、抗辐射能力、供应商名称、应用履历、采购价格和采购周期；
33、根据所需的cots元器件范围，收集利用所建立的cots元器件快速选型风险模型，针对用户选用的cots元器件清单，对照cots元器件选型风险数据库进行匹配分析，采用风险模型对所选用的cots元器件逐项计算选用风险，形成cots元器件选型风险数据库。
34、一种基于风险模型的cots元器件快速选型系统，包括：
35、cots元器件选型风险指标体系建立模块，建立包括cots元器件的可靠性风险riskf、环境适应性风险riske、辐射风险riskr，费用风险riskc、进度风险riskt和供应商风险risks的cots元器件选型风险指标体系；
36、cots元器件快速选型风险模型建立模块，定义模型中涉及的各类风险，明确风险量化计算方法，采用平均加权法进一步融合计算cots选型综合风险；
37、cots元器件选型风险数据库建设模块，基于所建立的cots元器件选型风险指标体系，利用建立的cots元器件风险模型，计算形成cots元器件选型风险数据库；
38、cots元器件选型风险分析模块，根据应用场景和任务类型，设定cots元器件选用风险容忍阈值，比对计算所得选用风险和用户风险可接受程度，给出cots元器件选型风险分析结果及选型建议。
39、本专利技术具有以下优点：
40、本专利技术针对产品选用cots过程中效率低、风险不量化等问题，提出了一种基于风险模型的cots元器件快速选型方法，通过从元器件制造供应和元器件应用两个方面建立cots元器件选型风险指标体系，构建cots元器件快速选型风险模型，基于cots元器件选型相关量化数据，通过选型工具进行信息匹配实现cots元器件选型风险评价分析，解决cots元器件选型风险量化、高效选型分析问题。...
【技术保护点】
1.一种基于风险模型的COTS元器件快速选型方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于风险模型的COTS元器件快速选型方法，其特征在于，COTS元器件选型风险指标体系包括COTS元器件应用能力风险指标和COTS元器件制造供应风险指标，可靠性风险Riskf、环境适应性风险Riske、辐射风险Riskr构成COTS元器件应用能力风险指标；费用风险Riskc、进度风险Riskt和供应商风险Risks构成COTS元器件制造供应风险指标。
3.根据权利要求1所述的基于风险模型的COTS元器件快速选型方法，其特征在于，COTS器件模型中涉及的每一项选型风险表示为COTS器件预期需求与实际情况的差距量化值，即每一项选型风险的基本形式为
4.根据权利要求1所述的基于风险模型的COTS元器件快速选型方法，其特征在于，可靠性风险Riskf定义方法为：
5.根据权利要求1所述的基于风险模型的COTS元器件快速选型方法，其特征在于，辐射风险Riskr定义方法为：
6.根据权利要求1所述的基于风险模型的COTS元器件快速选型方法，其特
7.根据权利要求1所述的基于风险模型的COTS元器件快速选型方法，其特征在于，进度风险Riskt定义方法为：
8.根据权利要求1所述的基于风险模型的COTS元器件快速选型方法，其特征在于，供应商风险Risks定义方法为：
9.根据权利要求1所述的基于风险模型的COTS元器件快速选型方法，其特征在于，基于所建立的COTS元器件选型风险指标体系，利用建立的COTS元器件风险模型，计算形成COTS元器件选型风险数据库，包括：
10.一种基于风险模型的COTS元器件快速选型系统，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种基于风险模型的cots元器件快速选型方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于风险模型的cots元器件快速选型方法，其特征在于，cots元器件选型风险指标体系包括cots元器件应用能力风险指标和cots元器件制造供应风险指标，可靠性风险riskf、环境适应性风险riske、辐射风险riskr构成cots元器件应用能力风险指标；费用风险riskc、进度风险riskt和供应商风险risks构成cots元器件制造供应风险指标。
3.根据权利要求1所述的基于风险模型的cots元器件快速选型方法，其特征在于，cots器件模型中涉及的每一项选型风险表示为cots器件预期需求与实际情况的差距量化值，即每一项选型风险的基本形式为
4.根据权利要求1所述的基于风险模型的cots元器件快速选型方法，其特征在于，可靠性风险riskf定义方法为：...
【专利技术属性】
技术研发人员：姜贸公，肖波，于利夫，苏妤，张伟，李培蕾，谷瀚天，谷重阳，吕倩倩，
申请(专利权)人：中国空间技术研究院，
类型：发明
国别省市：
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