【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机，尤其涉及一种芯片评估方法、装置、电子设备及介质。
技术介绍
1、评估芯片在真实网络中的性能表现对于芯片的设计有着重要的参考意义。
2、现有芯片评估的方式主要关注计算机系统的整体性能，基准评估程序为应用程序级别，使得评估结果并不能很好地反映计算芯片的具体性能。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种芯片评估方法、装置、电子设备及介质，以使评估结果更加贴切地反映计算芯片的具体性能，提高评估结果的准确性。
2、根据本专利技术的一方面，提供了一种芯片评估方法，所述方法包括：
3、从神经网络中选取至少一个原始算子；
4、针对每个原始算子，计算所述原始算子在计算芯片下的性能指标，所述性能指标基于所述原始算子在运行测试数据集合的指标参数确定；
5、根据各原始算子的性能指标对所述计算芯片的性能进行评估，得到评估结果。
6、根据本专利技术的另一方面，提供了一种芯片评估装置，所述装置包括：
7、选取模块，用于从神经网络中选取至少一个原始算子；
8、计算模块，用于针对每个原始算子，计算所述原始算子在计算芯片下的性能指标，所述性能指标基于所述原始算子在运行测试数据集合的指标参数确定；
9、评估模块，用于根据各原始算子的性能指标对所述计算芯片的性能进行评估，得到评估结果。
10、根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
11、至少一
12、与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
13、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的芯片评估方法。
14、根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的芯片评估方法。
15、本专利技术实施例提供了一种芯片评估方法、装置、电子设备及介质，所述方法包括：从神经网络中选取至少一个原始算子；针对每个原始算子，计算所述原始算子在计算芯片下的性能指标，所述性能指标基于所述原始算子在运行测试数据集合的指标参数确定；根据各原始算子的性能指标对所述计算芯片的性能进行评估，得到评估结果。利用上述技术方案，通过选取原始算子，并根据原始算子在计算芯片下的性能指标来进行计算芯片的性能评估，能够使得到的评估结果更加贴切地反映计算芯片的具体性能，提高评估结果的准确性。
16、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
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1.一种芯片评估方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述从神经网络中选取至少一个原始算子之后，还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述计算所述原始算子在计算芯片下的第一性能指标，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述分别计算所述原始算子在运行测试数据集合中各测试数据的计算性能参数，包括：
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述计算所述原始算子在计算芯片下的第二性能指标，包括：
6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述至少一个原始算子进行划分，得到计算型算子集合和访存型算子集合，包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述从神经网络中选取至少一个原始算子之后，还包括：
8.一种芯片评估装置，其特征在于，所述装置包括：
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理
...【技术特征摘要】
1.一种芯片评估方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述从神经网络中选取至少一个原始算子之后，还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述计算所述原始算子在计算芯片下的第一性能指标，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述分别计算所述原始算子在运行测试数据集合中各测试数据的计算性能参数，包括：
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述计算所述原始算子在计算芯片下的第二性能指标，包括：
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【专利技术属性】
技术研发人员：蒋丽娟，李秀红，金旻玺，裴芝林，张行程，
申请(专利权)人：上海人工智能创新中心，
类型：发明
国别省市：
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