【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及激光剥蚀，尤其涉及一种同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池及使用方法。
技术介绍
1、将激光剥蚀进样技术与质谱分析技术相结合的激光剥蚀电感耦合多接收杯等离子体质谱(la-mc-icp-ms)凭借其样品消耗量小、测试速度快、基体效应弱、分析样品范围广、空间分辨率高以及分析准确度和精密度高等优点，逐渐成为对固体样品进行微区原位元素和同位素分析强有力的工具。理论上，利用la-mc-icp-ms也可以对固体地质样品进行微区原位高精度氧同位素准确分析。然而，地质样品成分复杂，除了氧元素以外，还有大量的其他元素。在激光剥蚀和icp中会形成各种结合能不同的氧化物，且不同氧化物在传输管道中的传输效率不同，从而引起氧同位素的分馏，制约氧同位素组成的准确测定。此外，氧与其它元素形成的氧化物也会严重干扰其它元素的含量和同位素比值准确测定。因此，可以通过在激光剥蚀过程中诱发氧化还原反应实现对样品中氧和其他金属元素的分离，以消除质谱分析中的存在的以上问题。
2、现有的la-mc-icp-ms包括反应通道和剥蚀激光器，反应通道的一端通过激光镜片密封，剥蚀激光器位于反应通道的外侧，且靠近激光镜片设置，在对样品进行剥蚀时，先将样品放入反应通道内，通入适量的载气和反应气，反应一段时间以后，打开剥蚀激光器对反应通道中的氧化物样品进行剥蚀，剥蚀会产生不均匀的颗粒，当颗粒较大的时候，会造成与反应气体反应不彻底的情况出现。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的是提出一种同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池及使用
2、为实现上述目的，本专利技术提供了一种同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池，包括反应通道、密封座、聚焦镜、剥蚀激光器和加热激光器，所述反应通道包括反应第一端部和反应第二端部，所述反应第一端部内密封安装有激光镜片；所述密封座与所述反应第二端部可拆卸连接，以密封或打开所述反应第二端部；所述聚焦镜位于所述反应通道的外侧，且靠近所述激光镜片设置；所述剥蚀激光器和所述加热激光器发射的激光经过所述聚焦镜后，再通过所述激光镜片进入所述反应通道内。
3、可选地，靠近所述反应第二端部的侧壁连通有载气流路和反应气流路；和/或，靠近所述反应第一端部的侧壁连通有出气流路。
4、可选地，靠近所述反应第二端部的侧壁连通有载气流路和反应气流路；所述反应通道的外侧套设有进气通道，所述进气通道包括进气第一端部和进气第二端部，所述进气第一端部靠近所述反应第一端部，且密封设置；所述进气第二端部突出于所述反应第二端部设置，所述进气第二端部与所述反应第二端部连通，所述密封座密封所述进气第二端部，所述载气流路和所述反应气流路与所述进气通道连通。
5、可选地，所述进气第二端部突出于所述反应第二端部的长度为0.3-0.8mm。
6、可选地，所述反应通道竖直设置；所述密封座靠近所述反应第二端部的一侧设有样品槽。
7、可选地，还包括o型密封圈，其中：所述o型密封圈设于所述反应第一端部和所述激光镜片之间；和/或，所述o型密封圈设于所述密封座和所述反应第二端部之间。
8、可选地，所述剥蚀激光器的剥蚀脉次数为10000次；和/或，所述剥蚀激光器的频率为10-20hz；和/或，所述剥蚀激光器发射出的光束直径为100-150μm。
9、本专利技术提供一种所述的同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池的使用方法，靠近所述反应第二端部的侧壁连通有载气流路和反应气流路，靠近所述反应第一端部的侧壁连通有出气流路，其特征在于，所述同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池的使用方法包括以下步骤：
10、向所述反应通道内通入载气和反应气，对所述反应通道进行除杂，获得除杂后的反应通道；
11、将样品放入除杂后的反应通道内后，向所述反应通道内通入载气和反应气；
12、在经过第一预设时长后，关闭所述载气流路、反应气流路和所述出气流路，通过所述剥蚀激光器对样品发射激光，对样品进行剥蚀，以产生气溶胶；
13、在经过第二预设时长后，通过所述加热激光器对所述气溶胶发射激光，以加热所述气溶胶；
14、在经过第三预设时长后，打开所述载气流路和所述出气流路，并向所述载气流路通入载气。
15、可选地，所述反应通道和所述密封座的制作材料包括纯度为99.999％的高纯镍；和/或，所述激光镜片的制作材料包括氟化钡。
16、本专利技术的技术方案中，需要剥蚀样品的时候，先将样品放入所述反应通道内，将各部件固定密封，通入适量的载气和反应气，所述剥蚀激光器通过所述激光镜片对所述反应通道内的氧化物样品进行剥蚀，完成剥蚀后，所述加热激光器开启，对所述反应通道内的混合物进行完全的剥蚀加热，使剥蚀出的氧化物样品气溶胶与反应气发生完全充分反应。本专利技术增加了所述加热激光器，能够将所述剥蚀激光器在样品上剥蚀下来的较大的颗粒与反应气充分完全反应。
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1.一种同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池，其特征在于，靠近所述反应第二端部的侧壁连通有载气流路和反应气流路；和/或，
3.如权利要求1所述的同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池，其特征在于，靠近所述反应第二端部的侧壁连通有载气流路和反应气流路；
4.如权利要求3所述的同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池，其特征在于，所述进气第二端部突出于所述反应第二端部的长度为0.3-0.8mm。
5.如权利要求1所述的同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池，其特征在于，所述反应通道竖直设置；
6.如权利要求1所述的同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池，其特征在于，还包括O型密封圈，其中：
7.如权利要求1所述的同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池，其特征在于，
8.如权利要求1所述的同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池，其特征在于，
9.如权利要求1-8任一项所述的同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池的使用方法，靠近所述反应第二端部的侧壁连通有载气流路和反应气流路，靠近所述反应第一端部的侧
10.如权利要求9所述的同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池的使用方法，其特征在于，所述反应通道和所述密封座的制作材料包括纯度为99.999％的高纯镍；和/或，
...【技术特征摘要】
1.一种同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池，其特征在于，靠近所述反应第二端部的侧壁连通有载气流路和反应气流路；和/或，
3.如权利要求1所述的同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池，其特征在于，靠近所述反应第二端部的侧壁连通有载气流路和反应气流路；
4.如权利要求3所述的同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池，其特征在于，所述进气第二端部突出于所述反应第二端部的长度为0.3-0.8mm。
5.如权利要求1所述的同轴共聚焦气固反应激光剥蚀池，其特征在于，所述反应通道竖直设置；
6.如权利要求1所述的同轴共聚焦气固反...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈海红，陈力飞，刘勇胜，吕涛，蔺洁，张文，刘文贵，
申请(专利权)人：中国地质大学武汉，
类型：发明
国别省市：
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