静止轨道微波载荷形面-位姿误差整体在轨标定和补偿装置制造方法及图纸

技术编号:40922123 阅读:18 留言:0更新日期:2024-04-18 14:46
本发明专利技术提供了一种静止轨道微波载荷形面‑位姿误差整体在轨标定和补偿装置,摄影测量相机用于对主反进行多目立体成像,通过主反表面标志点三维坐标解算结果监测主反形面精度;形面测量基准尺用于确定摄影测量坐标系的长度基准;编码标志点作为立体像对公共点用于实现立体像对的自动相对定向;单点标志点用于提供主反立体测量的特征点;激光扫描测量相机通过测量主反、一副反和二副反上的共面激光靶标空间位置监测各反射面位姿变化情况;公共点转换靶标用于实现各反射面共面激光靶标激光测量结果的基准传递;共面激光靶标用于建立反射面随体坐标系,通过随体坐标系在轨标定与地面标定结果的直接对比获得反射面位姿变化情况。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及卫星微波遥感,具体地,静止轨道微波载荷形面-位姿误差整体在轨标定和补偿装置;更为具体地,涉及静止轨道微波载荷“形面-位姿”误差整体在轨标定和调整补偿装置。


技术介绍

1、静止轨道微波探测卫星在轨工作期间,外热流环境复杂,其搭载的大型反射面天线会因剧烈温度变化发生“形面-位姿”耦合热变形,进而导致波束指向偏转、增益下降、副瓣升高。因此需要在星上实现反射面“形面-位姿”误差的整体在轨标定,并根据标定结果对反射面位姿进行快速调整补偿,以修正天线方向图畸变,确保静止轨道微波载荷的最优在轨工作性能。

2、经对现有技术的检索:

3、非专利文献“高精度数字摄影测量技术在50m大型天线中的应用”(见《测绘工程》,2007年,第16卷1期)使用摄影测量法对密云50m天线进行形变分析,测量时间1h,数据处理9h,精度达0.4mm。该方法自动化程度较高,但测量、处理数据耗时,且天线在测量过程中无法工作,因此难以应用于所述静止轨道微波载荷。

4、非专利文献“大型反射面天线表面精度的全息测量方法”(见《电子设计工程》,2018年,第本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种静止轨道微波载荷形面-位姿误差整体在轨标定和补偿装置,其特征在于,包括:微波载荷、摄影测量相机、形面测量基准尺、编码标志点、单点标志点、激光扫描测量相机、公共点转换靶标和各反射面上的共面激光靶标;

2.根据权利要求1所述的静止轨道微波载荷形面-位姿误差整体在轨标定和补偿装置,其特征在于,微波载荷采用三反射面固面天线接收来自地表和大气中的微波信号,并将所述微波信号反射至准光系统;利用所述准光系统对多重复合微波信号进行极化分离与频率分离,实现单天线的多频率、多极化复用。

3.根据权利要求1所述的静止轨道微波载荷形面-位姿误差整体在轨标定和补偿装置,其特征在于,...

【技术特征摘要】

1.一种静止轨道微波载荷形面-位姿误差整体在轨标定和补偿装置,其特征在于,包括:微波载荷、摄影测量相机、形面测量基准尺、编码标志点、单点标志点、激光扫描测量相机、公共点转换靶标和各反射面上的共面激光靶标;

2.根据权利要求1所述的静止轨道微波载荷形面-位姿误差整体在轨标定和补偿装置,其特征在于,微波载荷采用三反射面固面天线接收来自地表和大气中的微波信号,并将所述微波信号反射至准光系统;利用所述准光系统对多重复合微波信号进行极化分离与频率分离,实现单天线的多频率、多极化复用。

3.根据权利要求1所述的静止轨道微波载荷形面-位姿误差整体在轨标定和补偿装置,其特征在于,所述摄影测量相机包括4台,分别安装在一副反撑杆的不同位置处,测量区域为主反表面标志点区域和形面测量基准尺。

4.根据权利要求1所述的静止轨道微波载荷形面-位姿误差整体在轨标定和补偿装置,其特征在于,所述形面测量基准尺采用低膨胀、无变形ule材料,固定在准光框架上;在立体测量中,依据形面测量基准尺的标定长度和在相对定向模型下计算出的长度确定相对定向模型的比例尺,进而对所有测点坐标进行统一缩放,确定摄影测量坐标系的长度基准。

5.根据权利要求1所述的静止轨道微波载荷形面-位姿误差整体在轨标定和补偿装置,其特征在于,所述编码标志点分散布置在主反表面,利用其自身编码信息实现所有相片对应同名像点的正确匹配,进而将配准后的编码标志点图像坐标作为已知参数代入相对定向模型解算相对定向元素,实现立体像对间的自动相对定...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡华龙江世臣王伟信思博李昊曾擎王田野
申请(专利权)人:上海卫星工程研究所
类型:发明
国别省市:

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