【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于ase光源环境试验筛选，尤其涉及一种用于ase光源环境试验筛选的工装。
技术介绍
1、光纤陀螺是一种用于惯性导航的光纤传感器，是航空航天领域飞行器自我姿态确定的关键部件。我国光纤陀螺的研究相对起步较晚，尤其是高精度光纤陀螺技术还没有完全成熟，ase光源目前主要用于高精度单轴光纤陀螺中，ase光源组件作为光纤陀螺光路组件的核心组成部分，安装在单轴陀螺仪的内部，并为高精度光纤陀螺闭环检测提供必要的光功率输出和稳定的平均波长，确保实现高精度和高稳定度的需求。且ase光源组件在研制过程中由于个别器件国内技术不成熟从而带来技术风险，在制定专项筛选措施后，筛选系统工装的设计尤为重要。目前筛选工装十分简陋，存在效率低、试验成本高、安全性和可靠性差，甚至由于工装的原因会给筛选的结果带来一定的误判风险，不能够完全满足ase光源筛选要求。
技术实现思路
1、本专利技术解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供了一种用于ase光源环境试验筛选的工装，能够在降本增效的同时提高产品筛选的安全性和可靠性，为批产化的流水线模式提供一定的助力。
2、本专利技术目的通过以下技术方案予以实现：一种用于ase光源环境试验筛选的工装，包括：单路ase光源装配工装、力学基座平板工装和第一工装盖板；其中，所述单路ase光源装配工装用于安装ase光源组件产品；所述单路ase光源装配工装设置于所述力学基座平板工装内；所述第一工装盖板覆盖在所述力学基座平板工装的上部。
3、上述用于ase光源环
4、上述用于ase光源环境试验筛选的工装中，所述力学基座平板工装的基频通过如下公式得到：
5、
6、其中，f为所述力学基座平板工装的基频，m为所述力学基座平板工装的质量，k为所述力学基座平板工装的刚度系数。
7、上述用于ase光源环境试验筛选的工装中，所述热学基座工装的热传导通过如下公式得到：
8、q＝-λa(△t/d)；
9、其中，q为传导热量，λ为导热系数，a为导热接触面积，△t/d为温度梯度，△t为传热面两侧的温差，d为传热距离。
10、上述用于ase光源环境试验筛选的工装中，所述单路ase光源装配工装外形为“8”字型设计。
11、上述用于ase光源环境试验筛选的工装中，所述热学基座工装为方形托盘。
12、上述用于ase光源环境试验筛选的工装中，所述热学基座工装的边长为370cm-400cm。
13、上述用于ase光源环境试验筛选的工装中，所述力学基座平板工装为方形平板。
14、上述用于ase光源环境试验筛选的工装中，所述力学基座平板工装的边长为400cm-420cm。
15、上述用于ase光源环境试验筛选的工装中，所述力学基座平板工装的基频≥1khz。
16、本专利技术与现有技术相比具有如下有益效果：
17、(1)本专利技术中单路ase光源装配工装，外形设计为“8”字形设计。这样的设计使得ase光源装配工装在与力学基座平板工装配合力学过程中，通过正反装配的方式最大化利用装配空间，进而实现力学基座平板工装可一次性装配更多ase光源装配工装完成力学试验。此设计一次力学可同时安装8个ase光源装配工装进行力学试验，相比较传统工装同时安装4个，效率提升了一倍；
18、(2)本专利技术中单路ase光源装配工装，表面黑色硫化处理改变了ase光源装配工装的导热系数，提升了ase光源装配工装的导热能力。ase光源装配工装在热学试验中具备更强的导热能力。传统工装导热能力差，工装表面的控温点和测温点温差在3℃左右。存在过试验的风险。ase光源装配工装的设计在热学试验中的控温点和测温点的温差能控制在1℃以内。很大程度的降低了热试验的过试验风险；
19、(3)本专利技术中单路ase光源装配工装，设计了光纤保护槽。光纤环组件的光纤部分会盘到光纤保护槽内，并用橡胶条固定。这样可以完全保护光纤的同时方便了工人的盘纤工作。有着针对性的解决了传统工装对光纤无任保护的情况。避免了研制过程中光纤由于人为磕碰导致损坏的问题；
20、(4)本专利技术力学基座平板工装，依据公式通过提高工装的刚度的同时降低了工装的重量，进而保证了力学基座平板工装的基频＞1000hz。相较传统工装的无基频考虑的设计，本设计保证了产品在力学过程中，避免了工装对产品力学量级的放大。进而避免了力学试验过程由于过试验导致的产品失效问题；
21、(5)本专利技术力学基座平板工装，采用了工装四边高于中间安装平面的设计，可以有效的保护已经装配好的产品。同时避免了力学基座平板工装在力学工装中由于装卡导致的误碰产品的问题。传统工装并无此类设计，因而时有误碰产品的问题；
22、(6)本专利技术热学基座工装，四边采用拔模处理并在工装两侧各开了一个导线槽。相较传统工装，更便于拿取，降低了工装搬运过程的掉落问题。同时安装过程中四周会有更大的安装空间；导线槽配合工装盖板可以有效的防止常温热循环试验过程中的滴水问题。
23、(7)本专利技术热学基座工装，根据公式q＝-λa(dt/dc)，表面采用黑色硫酸化处理，并且降低了热学基座工装底板的厚度。增加了热学基座工装底板的面积。从而提高了热学基座工装的导热能力；
24、(8)本专利技术通过单路ase光源装配工装在力学基座平板工装和热学基座工装间的配合，完成ase光源组件产品的筛选过程。相较传统工装，本方案仅需要ase光源组件装配到单路ase光源装配工装上一次即可，避免了ase光源环境试验筛选反复拆装ase光源组件产品的问题。大量的解放了专业的装配工同时，节约了大量的工时。1套8个产品计算，至少可节省96个工时。与此同时也避免了反复拆卸带来的质量风险。改变了传统的点对点的生产模式，是走向流水线批量生产模式的重要一步。
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1.一种用于ASE光源环境试验筛选的工装，其特征在于包括：单路ASE光源装配工装(1)、力学基座平板工装(2)和第一工装盖板；其中，
2.根据权利要求1所述的用于ASE光源环境试验筛选的工装，其特征在于还包括：热学基座工装(3)和第二工装盖板；其中，
3.根据权利要求1所述的用于ASE光源环境试验筛选的工装，其特征在于：所述力学基座平板工装(2)的基频通过如下公式得到：
4.根据权利要求2所述的用于ASE光源环境试验筛选的工装，其特征在于：所述热学基座工装(3)的热传导通过如下公式得到：
5.根据权利要求1所述的用于ASE光源环境试验筛选的工装，其特征在于：所述单路ASE光源装配工装(1)外形为“8”字型设计。
6.根据权利要求2所述的用于ASE光源环境试验筛选的工装，其特征在于：所述热学基座工装(3)为方形托盘。
7.根据权利要求6所述的用于ASE光源环境试验筛选的工装，其特征在于：所述热学基座工装(3)的边长为370cm-400cm。
8.根据权利要求6所述的用于ASE光源环境试验筛选的工装，
9.根据权利要求8所述的用于ASE光源环境试验筛选的工装，其特征在于：所述力学基座平板工装(2)的边长为400cm-420cm。
10.根据权利要求1所述的用于ASE光源环境试验筛选的工装，其特征在于：所述力学基座平板工装(2)的基频≥1K Hz。
...【技术特征摘要】
1.一种用于ase光源环境试验筛选的工装，其特征在于包括：单路ase光源装配工装(1)、力学基座平板工装(2)和第一工装盖板；其中，
2.根据权利要求1所述的用于ase光源环境试验筛选的工装，其特征在于还包括：热学基座工装(3)和第二工装盖板；其中，
3.根据权利要求1所述的用于ase光源环境试验筛选的工装，其特征在于：所述力学基座平板工装(2)的基频通过如下公式得到：
4.根据权利要求2所述的用于ase光源环境试验筛选的工装，其特征在于：所述热学基座工装(3)的热传导通过如下公式得到：
5.根据权利要求1所述的用于ase光源环境试验筛选的工装，其特征在于：所述单路ase光源装配工装(1)外形为“8”字型...
【专利技术属性】
技术研发人员：董晓俊，顾正成，张偲威，张金保，赵欣慧，田洋光，崔斌，徐万扬，李勇，杨博，王泽宇，
申请(专利权)人：北京控制工程研究所，
类型：发明
国别省市：
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