一种盐膏岩对烃源岩生烃滞后影响的定量化评价方法技术

技术编号:40909731 阅读:20 留言:0更新日期:2024-04-18 14:38
本发明专利技术公开了一种盐膏岩对烃源岩生烃滞后影响的定量化评价方法,包括如下步骤:已知两个盐膏岩厚度(l<subgt;1</subgt;和l<subgt;2</subgt;),对应深度(h1、h2和h3、h4)的镜质体反射率数值(Ro1、Ro2和Ro3、Ro4);求得任意盐膏岩厚度(l),深度(y<subgt;h</subgt;)与镜质体反射率数值的曲线(Ro);获得盐膏岩对烃源岩生烃滞后影响的定量化评。本发明专利技术的盐膏岩对烃源岩生烃滞后影响的定量化评价方法通过已知盐膏岩厚度和对应深度的烃源岩热演化数据,定量的计算任意盐膏岩厚度下层,任意深度的烃源岩热演化值,从而减少深层烃源岩取样和分析测试成本,评价了盐膏岩热传导作用对烃源岩热演化的影响,节省了深层烃源岩样品取样和分析测试的经济成本和时间,提高油气勘探效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种盐膏岩对烃源岩生烃滞后影响的定量化评价方法


技术介绍

1、盐膏岩热传导作用可以对油气的热演化、运移和聚集造成很大的影响。由于盐膏岩的良好的导热性,盐膏岩下层地温相对无盐膏岩地层同等深度地温大大下降,使盐膏盐下地层烃源岩的热演化滞后。因此,盐膏岩的厚度越大,其下层烃源岩的热演化越慢。

2、然而,由于有盐膏岩的地层烃源岩埋深较大,获取烃源岩热演化数据,例如镜质体反射率ro的难度较大,这对研究盐膏岩地层油气储层带来较大困难。

3、对于深层油田勘探,烃源岩一般在2000米深度以上,常规获取烃源岩数据,首先需要钻井深度达2000米以上,受取心段影响无法获取全深度样品,获取部分样品后还需要进行分析测试。这种测定盐膏岩对烃源岩生烃滞后影响的方法耗时长,经济成本高。


技术实现思路

1、针对现有技术的不足,本专利技术的目的在于提供了一种盐膏岩对烃源岩生烃滞后影响的定量化评价方法,评价了盐膏岩热传导作用对烃源岩热演化的影响,节省了深层烃源岩样品取样和分析测试的成本和时间,提高了油气勘探本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种盐膏岩对烃源岩生烃滞后影响的定量化评价方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的盐膏岩对烃源岩生烃滞后影响的定量化评价方法,其特征在于,所述步骤一具体包括:

3.根据权利要求2所述的盐膏岩对烃源岩生烃滞后影响的定量化评价方法,其特征在于,所述步骤二包括:

4.根据权利要求1所述的盐膏岩对烃源岩生烃滞后影响的定量化评价方法,其特征在于,所述步骤三具体包括:

【技术特征摘要】

1.一种盐膏岩对烃源岩生烃滞后影响的定量化评价方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的盐膏岩对烃源岩生烃滞后影响的定量化评价方法,其特征在于,所述步骤一具体包括:

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【专利技术属性】
技术研发人员:聂明龙于太极刘宇温志新
申请(专利权)人:辽宁工程技术大学
类型:发明
国别省市:

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