【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于波长测量，具体涉及一种可见光波长测量装置及可见光波长测量方法。
技术介绍
1、波长作为描述电磁波的基本参数之一，决定了电磁波的频率和能量。通过研究电磁波的波长，使科学家们深入了解电磁波的传播、衍射、折射等基本特性，推动了无线通信技术、光学仪器等领域的发展。基于电磁波的性质，不同波段的电磁波在不同领域都有应用：微波被广泛用于通信领域；红外线在夜视技术、远程遥控等方面具有重要应用；可见光在生物光合作用和人类视觉感知方面具有重要作用；紫外线有助于杀灭细菌、水质净化；x射线在医学成像、诊断和治疗方面有着广阔的应用前景；γ射线在肿瘤治疗、放射性同位素制备、核物理研究等方面发挥着重要作用。因此，对于波长的测量显得尤为关键。
2、可见光范围内的波长探测方法主要分为四种：干涉型探测器、衍射型探测器、光纤型探测器、腔内共振型探测器。干涉型探测器通常需要精密的光学元件和稳定的环境条件，系统的构建和维护相对复杂，并且不同干涉型探测器对波长范围有一定限制，需要根据应用需求选择适合的型号；衍射型探测器对入射光的角度敏感，需要进行精确的定...
【技术保护点】
1.一种可见光波长测量装置，其特征在于：包括平行设置的第一光电探测单元(6)和第二光电探测单元(7)，所述第一光电探测单元(6)从光线射入端到光线射出端依次为导电玻璃基底(1)、电子传输层(2)、钙钛矿吸光层(3)和空穴传输层(4)，所述空穴传输层(4)上设置有金属电极(5)，所述金属电极(5)与电流计(8)电性连接；所述第二光电探测单元(7)的结构与第一光电探测单元(6)完全相同。
2.根据权利要求1所述的可见光波长测量装置，其特征在于：所述电子传输层(2)的材质为TiO2，其厚度为65～75nm。
3.根据权利要求2所述的可见光波长测量装置...
【技术特征摘要】
1.一种可见光波长测量装置，其特征在于：包括平行设置的第一光电探测单元(6)和第二光电探测单元(7)，所述第一光电探测单元(6)从光线射入端到光线射出端依次为导电玻璃基底(1)、电子传输层(2)、钙钛矿吸光层(3)和空穴传输层(4)，所述空穴传输层(4)上设置有金属电极(5)，所述金属电极(5)与电流计(8)电性连接；所述第二光电探测单元(7)的结构与第一光电探测单元(6)完全相同。
2.根据权利要求1所述的可见光波长测量装置，其特征在于：所述电子传输层(2)的材质为tio2，其厚度为65～75nm。
3.根据权利要求2所述的可见光波长测量装置，其特征在于：所述钙钛矿吸光层(3)为cspbi2br钙钛矿薄膜，其厚度为90～110nm。
4.根据权利要求3所述的可见光波长测量装置，其特征在于：所述空穴传输层(4)的材质为spiro-ometad，其厚度为90～110nm。
5.根据权利要求4所述的可见光波长测量装置，其特征在于，所述第一光电探测单元(6)和第二光电探测单元(7)经过以下步骤制得：
6.根据权利要求5所述的可见光波长测量装置，其特征在于：s1中清洗为将刻蚀后的导电玻璃依次放入玻璃清洗剂、去离子水、丙酮、异丙醇和乙醇中超声振荡60min。
<...【专利技术属性】
技术研发人员：陈路军，宫云昊，刘鲍，
申请(专利权)人：浙江光储充能源科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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