【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光学检测领域，特别是涉及一种脉冲/光子计数式光学件透光率检测装置。
技术介绍
1、目前针对几乎不透光的玻璃样品透光率检测方式主要采用强光源入射高灵敏度光电倍增管接收的技术方案，强光源准直后的测量光束穿过待测样品后变成微弱的散射光束，经过积分球收集散射光束后由光电倍增管传感器进行光电转化，再经过ad采集后送至中央处理器运算和处理。这种测量方式缺点明显：系统复杂、响应速度慢、动态范围小、稳定性差、易受背景光干扰。
技术实现思路
1、本技术主要解决的技术问题是提供一种脉冲/光子计数式光学件透光率检测装置，使用脉冲/光子计数的方式对各种光学材料的透光率进行检测，具有灵敏度高，稳定性高的特点。
2、为解决上述技术问题，本技术采用的一个技术方案是：提供一种脉冲/光子计数式光学件透光率检测装置，包括用于发出光信号的光子源，所述光子源的后方依次设置待测光学元件和聚光棱镜，所述棱镜的后方设有用于接受光信号的光电倍增管，所述光电倍增管与信号放大整形电路电性连接，信号放大整形电路还与数据处理电路电性连接，所述光电倍增管将光信号转换成电信号后，通过信号放大整形电路转成脉冲信号方式输出至数据处理电路。
3、在本技术一个较佳实施例中，所述光子源、待测光学元件、聚光棱镜和信号放大整形电路均位于暗盒内部。
4、在本技术一个较佳实施例中，所述信号放大整形电路包括依次连接的放大器、比较器和脉冲整形器，所述放大器与光电倍增管连接，所述脉冲整形器输出脉冲信号至数据处理电路。<...
【技术保护点】
1.一种脉冲/光子计数式光学件透光率检测装置，其特征在于，包括用于发出光信号的光子源，所述光子源的后方依次设置待测光学元件和聚光棱镜，所述棱镜的后方设有用于接受光信号的光电倍增管，所述光电倍增管与信号放大整形电路电性连接，信号放大整形电路还与数据处理电路电性连接，所述光电倍增管将光信号转换成电信号后，通过信号放大整形电路转成脉冲信号方式输出至数据处理电路。
2.根据权利要求1所述的脉冲/光子计数式光学件透光率检测装置，其特征在于，所述光子源、待测光学元件、聚光棱镜和信号放大整形电路均位于暗盒内部。
3.根据权利要求2所述的脉冲/光子计数式光学件透光率检测装置，其特征在于，所述信号放大整形电路包括依次连接的放大器、比较器和脉冲整形器，所述放大器与光电倍增管连接，所述脉冲整形器输出脉冲信号至数据处理电路。
4.根据权利要求1所述的脉冲/光子计数式光学件透光率检测装置，其特征在于，所述数据处理电路通脉冲信号获取光信号强度计数，并与光子源光信号强度对比从而取得待测光学元件的透光率。
5.根据权利要求4所述的脉冲/光子计数式光学件透光率检测装
6.根据权利要求5所述的脉冲/光子计数式光学件透光率检测装置，其特征在于，所述暗盒内还设有TEC制冷器，所述TEC制冷器对暗盒内部降温从而维持光电倍增管处于恒温状态。
7.根据权利要求6所述的脉冲/光子计数式光学件透光率检测装置，其特征在于，所述光电倍增管上连接有高压电源模块和电压分压器。
...【技术特征摘要】
1.一种脉冲/光子计数式光学件透光率检测装置，其特征在于，包括用于发出光信号的光子源，所述光子源的后方依次设置待测光学元件和聚光棱镜，所述棱镜的后方设有用于接受光信号的光电倍增管，所述光电倍增管与信号放大整形电路电性连接，信号放大整形电路还与数据处理电路电性连接，所述光电倍增管将光信号转换成电信号后，通过信号放大整形电路转成脉冲信号方式输出至数据处理电路。
2.根据权利要求1所述的脉冲/光子计数式光学件透光率检测装置，其特征在于，所述光子源、待测光学元件、聚光棱镜和信号放大整形电路均位于暗盒内部。
3.根据权利要求2所述的脉冲/光子计数式光学件透光率检测装置，其特征在于，所述信号放大整形电路包括依次连接的放大器、比较器和脉冲整形器，所述放大器与光...
【专利技术属性】
技术研发人员：葛亚明，陈龙轶，刘晓鑫，
申请(专利权)人：常州第二电子仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：
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