【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及深空探测，尤其涉及一种弱引力星表块状样品采集装置。
技术介绍
1、小天体(包括小天体、彗星)内部蕴含了太阳系起源和生命起源的信息，含有丰富的矿物质，具有极高的科学和经济价值。根据国际上已进行的典型探测活动，小天体探测方式可分为环绕探测、着陆原位探测、取样返回探测三类。环绕探测通过遥感等方式对小天体特性进行预测，无法获得小天体样品，具有较大的局限性；着陆原位探测可对小天体组分进行原位分析，但是局限于探测器所携带设备的能力及种类，不能全面地开展小天体特性研究；取样返回将小天体样品带回地球进行深入研究，克服了上述两种探测方式的缺点，具有较大优势，是目前主流的探测方式。
2、小天体表面为弱引力，具有地形不规则、环境未知且不确定等特点，使得探测器附着时易反弹、侧翻，取样时易出现取样器介质适应差而不能取样的情况，造成取样返回难度极大。探测器一般采用触碰方式采样，采样时间极短。因此采样装置对控制精度、样品识别精度、探测器姿态等要求越低，越有利于采样成功。
3、然而，对于现阶段的小天体采样探测而言，采用传统的夹持、抓取等方式在星体表面进行样品采集时，夹持、抓取等装置需精确识别且对准样品，且样品未被抓取时易飞溅、逃逸，这对夹持、抓取装置的控制精度、探测器对样品的识别能力等提出了极高要求。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种弱引力星表块状样品采集装置，该弱引力星表块状样品采集装置用于解决上述
技术介绍
中提出的现阶段的小天体采样探测而言，采用传统的夹持、抓取等方式
2、为了实现上述目的，本专利技术实施例提供如下技术方案：
3、本专利技术实施例第一方面提供一种弱引力星表块状样品采集装置，包括筒体、若干个合金丝以及至少两个单向门；
4、筒体的内部具有第一腔体以及第二腔体；
5、若干个合金丝位于第一腔体的端口处，至少两个单向门位于第二腔体的内壁处；
6、筒体与星表相接触，当块状样品的尺寸大于预设值时，块状样品通过挤压若干个合金丝进至第一腔体内部；
7、当块状样品的尺寸小于预设值时，块状样品通过转动单向门进至第二腔体的内部。
8、在上述技术方案的基础上，本专利技术还可以做如下改进。
9、在一种可能的实现方式中，筒体靠近若干个合金丝的一端设有若干个v形切口。
10、在一种可能的实现方式中，第一腔体远离第二腔体的一端开设有第一进样口；
11、若干个合金丝经由块状样品挤压朝向第一腔体的一侧进行弯曲，以使得块状样品沿着第一进样口进至第一腔体内部。
12、在一种可能的实现方式中，筒体还包括：刮板；
13、刮板位于筒体靠近第二腔体一侧的外侧面；
14、刮板用于在筒体接触于星表时刮动星表。
15、在一种可能的实现方式中，第二腔体的侧面开设有第二进样口；
16、块状样品经由刮板刮动进入至第二进样口，挤压单向门发生转动进至第二腔体内部。
17、在一种可能的实现方式中，筒体还包括：若干个储样孔；
18、若干个储样孔位于筒体的外侧壁上；
19、储样孔用于采集进入至筒体内部的微型样品。
20、在一种可能的实现方式中，筒体还包括：感光涂层；
21、感光涂层位于第一腔体以及第二腔体之间；
22、感光涂层用于检测采集到的块状样品的数量以及体积大小。
23、在一种可能的实现方式中，筒体还包括：盖板；
24、盖板位于筒体靠近第二腔体的一侧，且盖板与筒体固定相连；
25、盖板用于将采集到的块状样品封装于第二腔体内。
26、在一种可能的实现方式中，合金丝为高弹性合金丝。
27、本专利技术实施例第二方面提供一种弱引力星表样品采集系统，包括上述的弱引力星表块状样品采集装置。
28、本专利技术实施例提供一种弱引力星表块状样品采集装置，该弱引力星表块状样品采集装置包括筒体、若干个合金丝以及至少两个单向门。其中，筒体的内部具有第一腔体以及第二腔体，若干个合金丝位于第一腔体的端口处，至少两个单向门位于第二腔体的内壁处，筒体与星表相接触。当块状样品的尺寸大于预设值时，块状样品通过挤压若干个合金丝进至第一腔体内部；当块状样品的尺寸小于预设值时，块状样品通过转动单向门进至第二腔体的内部。这样，通过设计一种弱引力星表块状样品采集装置，该弱引力星表块状样品采集装置以块状样品采集为主，兼顾风化层小颗粒样品采集。通过与星表随机触碰，实现块状样品收集，对控制精度、样品识别精度、探测器姿态等要求极低。可高效实现弱引力星表块状样品采集。
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1.一种弱引力星表块状样品采集装置，其特征在于，包括筒体、若干个合金丝以及至少两个单向门；
2.根据权利要求1所述的弱引力星表块状样品采集装置，其特征在于，所述筒体靠近所述若干个合金丝的一端设有若干个V形切口。
3.根据权利要求2所述的弱引力星表块状样品采集装置，其特征在于，所述第一腔体远离所述第二腔体的一端开设有第一进样口；
4.根据权利要求2所述的弱引力星表块状样品采集装置，其特征在于，所述筒体还包括：刮板；
5.根据权利要求4所述的弱引力星表块状样品采集装置，其特征在于，所述第二腔体的侧面开设有第二进样口；
6.根据权利要求1-5任一所述的弱引力星表块状样品采集装置，其特征在于，所述筒体还包括：若干个储样孔；
7.根据权利要求1-5任一所述的弱引力星表块状样品采集装置，其特征在于，所述筒体还包括：感光涂层；
8.根据权利要求1-5任一所述的弱引力星表块状样品采集装置，其特征在于，所述筒体还包括：盖板；
9.根据权利要求1-5任一所述的弱引力星表块状样品采集装置，其特征在于，所述合
10.一种弱引力星表块状样品采集系统，其特征在于，包括上述权利要求1-9任一项所述的弱引力星表块状样品采集装置。
...【技术特征摘要】
1.一种弱引力星表块状样品采集装置，其特征在于，包括筒体、若干个合金丝以及至少两个单向门；
2.根据权利要求1所述的弱引力星表块状样品采集装置，其特征在于，所述筒体靠近所述若干个合金丝的一端设有若干个v形切口。
3.根据权利要求2所述的弱引力星表块状样品采集装置，其特征在于，所述第一腔体远离所述第二腔体的一端开设有第一进样口；
4.根据权利要求2所述的弱引力星表块状样品采集装置，其特征在于，所述筒体还包括：刮板；
5.根据权利要求4所述的弱引力星表块状样品采集装置，其特征在于，所述第二腔体的侧面开设有第二进样口；
【专利技术属性】
技术研发人员：赵志军，郝世杰，张熇，刘鑫，满剑锋，余后满，王春健，王美，
申请(专利权)人：北京空间飞行器总体设计部，
类型：发明
国别省市：
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