【技术实现步骤摘要】
本技术属于光通信测试，更具体地，涉及一种能独立控制各光模块测试温度的老化装置。
技术介绍
1、随着光通信技术的发展，人们对网络的需求日益旺盛，在追求上网速度的同时，也越来越注重网络的稳定性以及可靠性，而在整个光网络中，光模块具有十分重要的地位，光模块的可靠性以及稳定性决定了网络的质量。
2、光模块在批量生产之前都会进行可靠性试验，验证光模块在设计、材料以及工艺方面的缺陷，以评价产品在实际使用、运输和储存的环境条件下的性能，发现问题及时解决，在可靠性试验完成后，进行批量生产时，对光模块的老化及温度循环筛选至关重要，通过这种方式筛除早期失效达到提高可靠性的目的。
3、中国专利cn217954515u提供了一种光模块测试托架，将多个光模块集成在一个托架上，将多个托架插接于老化箱内同时进行老化，极大提升测试效率。但这种老化方式，托架上的各光模块相互之间存在热影响，导致测试温度均匀性较差，难以精确控制各光模块都在目标温度下进行测试。
4、因此，亟待提供一种能独立精确控制各光模块测试温度的老化装置。
技术实现思路
1、针对现有技术的缺陷，本技术的目的在于提供一种能独立控制各光模块测试温度的老化装置，可消除各光模块相互之间的热影响，并可有效实现对各被测光模块测试温度的精准控制，确保测试结果的准确性。
2、为实现上述目的，本技术提供了一种能独立控制各光模块测试温度的老化装置，包括pcba测试板、承载pcba测试板的托架及调节被测光模块测试温度的调温装
3、其中，调温部件包括降温组件和加热器，降温组件由上盖、左右侧壁和底壁合围形成的长条形通道，该通道内设有多条用于将通道分割成多条独立风道的隔板，各风道内一端均安装有可调速风扇，另一端均设有测试工位，加热器安装在测试工位处，被测光模块放置于测试工位与加热器直接接触；各被测光模块均内置一温度传感器，所述加热器、被测光模块、可调速风扇、温度传感器分别与pcba测试板电相连。
4、本技术提供的能独立控制各光模块测试温度的老化装置，通过在各被测光模块之间设置隔板形成独立的测试空间，一定程度上能消除各光模块相互之间的热影响；配置独立的可调速风扇，形成独立的风道，并进行单独的温控调节，可有效实现每个被测光模块测试温度的精准控制，确保测试结果的准确性。
5、在其中一个实施例中，所述上盖分为第一上盖和第二上盖，第一上盖位于测试工位上方，第二上盖位于可调速风扇上方，第一上盖背面与各测试工位一一对应处安装有散热块，所述散热块通过弹簧与第一上盖连接，散热块可上下活动；当装入被测光模块，所述第一上盖向下盖合过程中，散热块与被测光模块逐渐接触受力，实现全面压紧。
6、在其中一个实施例中，所述第一上盖通过转轴与左右侧壁连接，第二上盖通过螺丝与左右侧壁固定连接，第二上盖靠近第一上盖处设有锁扣，推出锁扣可将第一上盖固定住；当需要拆装被测光模块时，推回锁扣解除固定，第一上盖可沿转轴转动打开，拆下或装入被测光模块，放下第一上盖，推出锁扣。
7、在其中一个实施例中，所述第一上盖和第二上盖通过合页连接，第二上盖通过螺丝与左右侧壁固定连接，第一上盖通过左右锁扣与左右侧壁连接；当需要拆装被测光模块时，打开左右锁扣，第一上盖可沿合页转动打开，拆下或装入被测光模块，放下第一上盖，锁紧左右锁扣。
8、在其中一个实施例中，所述加热器为块状，中间设有多条插槽，多个隔板插入其中将测试工位分割为多个独立区域。
9、在其中一个实施例中，所述加热器采用多个加热块，分别独立安装在各风道内的测试工位处，且各加热块均内置一温度传感器。
10、在其中一个实施例中，所述加热器采用铝合金加热块。
11、在其中一个实施例中，所述pcba测试板上设有测试芯片、控制器和mcu，所述测试芯片与各被测光模块电相连，所述控制器分别与mcu、加热器、温度传感器电相连，所述mcu与各风道内的可调速风扇电相连。
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1.一种能独立控制各光模块测试温度的老化装置，其特征在于，包括PCBA测试板、承载PCBA测试板的托架及调节被测光模块测试温度的调温装置，调温装置固定安装在PCBA测试板上；
2.根据权利要求1所述的能独立控制各光模块测试温度的老化装置，其特征在于，所述上盖分为第一上盖和第二上盖，第一上盖位于测试工位上方，第二上盖位于可调速风扇上方，第一上盖背面与各测试工位一一对应处安装有散热块，所述散热块通过弹簧与第一上盖连接，散热块可上下活动；当装入被测光模块，所述第一上盖向下盖合过程中，散热块与被测光模块逐渐接触受力，实现全面压紧。
3.根据权利要求2所述的能独立控制各光模块测试温度的老化装置，其特征在于，所述第一上盖通过转轴与左右侧壁连接，第二上盖通过螺丝与左右侧壁固定连接，第二上盖靠近第一上盖处设有锁扣，推出锁扣可将第一上盖固定住；当需要拆装被测光模块时，推回锁扣解除固定，第一上盖可沿转轴转动打开，拆下或装入被测光模块，放下第一上盖，推出锁扣。
4.根据权利要求2所述的能独立控制各光模块测试温度的老化装置，其特征在于，所述第一上盖和第二上盖通过合页连
5.根据权利要求1或2所述的能独立控制各光模块测试温度的老化装置，其特征在于，所述加热器为块状，中间设有多条插槽，多个隔板插入其中将测试工位分割为多个独立区域。
6.根据权利要求1所述的能独立控制各光模块测试温度的老化装置，其特征在于，所述加热器采用多个加热块，分别独立安装在各风道内的测试工位处，且各加热块均内置一温度传感器。
7.根据权利要求6所述的能独立控制各光模块测试温度的老化装置，其特征在于，所述加热器采用铝合金加热块。
8.根据权利要求1或6所述的能独立控制各光模块测试温度的老化装置，其特征在于，所述PCBA测试板上设有测试芯片、控制器和MCU，所述测试芯片与各被测光模块电相连，所述控制器分别与MCU、加热器、温度传感器电相连，所述MCU与各风道内的可调速风扇电相连。
...【技术特征摘要】
1.一种能独立控制各光模块测试温度的老化装置，其特征在于，包括pcba测试板、承载pcba测试板的托架及调节被测光模块测试温度的调温装置，调温装置固定安装在pcba测试板上；
2.根据权利要求1所述的能独立控制各光模块测试温度的老化装置，其特征在于，所述上盖分为第一上盖和第二上盖，第一上盖位于测试工位上方，第二上盖位于可调速风扇上方，第一上盖背面与各测试工位一一对应处安装有散热块，所述散热块通过弹簧与第一上盖连接，散热块可上下活动；当装入被测光模块，所述第一上盖向下盖合过程中，散热块与被测光模块逐渐接触受力，实现全面压紧。
3.根据权利要求2所述的能独立控制各光模块测试温度的老化装置，其特征在于，所述第一上盖通过转轴与左右侧壁连接，第二上盖通过螺丝与左右侧壁固定连接，第二上盖靠近第一上盖处设有锁扣，推出锁扣可将第一上盖固定住；当需要拆装被测光模块时，推回锁扣解除固定，第一上盖可沿转轴转动打开，拆下或装入被测光模块，放下第一上盖，推出锁扣。
4.根据权利要求2所述的能独立控制各光模块测试温度的老化装置，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄河，
申请(专利权)人：武汉固捷联讯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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