【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片检测,特别是涉及一种除尘复检装置及除尘设备。
技术介绍
1、成像领域的电子产品(例如手机、相机、车载摄像头以及监控摄像头等产品)在封装生产过程中,需对cmos(complementary metal-oxide-semiconductor,互补金属氧化物半导体)或ccd(charge-coupled device,电荷耦合元件)芯片进行表面灰尘的探测及除尘。
2、在检测结束后,需根据检测结果对需除尘的芯片进行除尘。然而,传统的除尘设备仅能执行简单的除尘动作,除尘效果差。为了提高除尘质量,一种思路是除尘后对产品进行复测,对复测不合格的产品进行再次除尘。然而,传统的产品复测设备一般采用ccd相机拍照手段进行灰尘识别,识别效果差,容易误判或漏判。
技术实现思路
1、基于此,有必要针对现有技术中的除尘设备存在除尘效果差、复测容易误判或漏判的问题,提供一种改善上述缺陷的除尘复检装置及除尘设备。
2、一种除尘复检装置,包括:
3、除尘模块,包括除尘组件
...【技术保护点】
1.一种除尘复检装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的除尘复检装置,其特征在于,所述除尘组件(21)包括除尘驱动件(210)和除尘夹紧件(213),所述除尘驱动件(210)安装在所述除尘驱动组件(22)的驱动端,所述除尘夹紧件(213)安装在所述除尘驱动件(210)的驱动端,且用于夹持除尘棒(B);所述除尘驱动件(210)用于驱动所述除尘夹紧件(213)伸出或缩回,还用于驱动所述除尘夹紧件(213)旋转。
3.根据权利要求2所述的除尘复检装置,其特征在于,所述除尘模块还包括用于储存除尘棒(B)的除尘棒缓存组件(30),所述除尘驱动组
...【技术特征摘要】
1.一种除尘复检装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的除尘复检装置,其特征在于,所述除尘组件(21)包括除尘驱动件(210)和除尘夹紧件(213),所述除尘驱动件(210)安装在所述除尘驱动组件(22)的驱动端,所述除尘夹紧件(213)安装在所述除尘驱动件(210)的驱动端,且用于夹持除尘棒(b);所述除尘驱动件(210)用于驱动所述除尘夹紧件(213)伸出或缩回,还用于驱动所述除尘夹紧件(213)旋转。
3.根据权利要求2所述的除尘复检装置,其特征在于,所述除尘模块还包括用于储存除尘棒(b)的除尘棒缓存组件(30),所述除尘驱动组件(22)还用于驱动所述除尘组件(21)运动至所述除尘棒缓存组件(30)处,以使所述除尘组件(21)将使用过的除尘棒(b)释放至所述除尘棒缓存组件(30),并拾取所述除尘棒缓存组件(30)储存的未使用的除尘棒(b)。
4.根据权利要求3所述的除尘复检装置,其特征在于,所述除尘棒缓存组件(30)包括基座(301)及缓存盘(302),所述缓存盘(302)设置在所述基座(301)上,且具有沿所述缓存盘(302)的周向间隔布设的多个缓存部(303),所述缓存部(303)用于缓存除尘棒(b);所述缓存盘(302)可受控地相对所述基座(301)绕自身轴线旋转。
5.根据权利要求1所述的除尘复检装置,其特征在于,所述复检模块还包括安装在所述除尘驱动组件(22)的驱动端的光源组件(23),所述除尘驱动组件(22)用于...
【专利技术属性】
技术研发人员:请求不公布姓名,请求不公布姓名,
申请(专利权)人:江苏立导科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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