一种防探针烧坏的电路板测试结构制造技术

技术编号:40883208 阅读:2 留言:0更新日期:2024-04-08 18:25
本技术公开了一种防探针烧坏的电路板测试结构,涉及电路板测试技术领域,为解决现有电路板测试过程中,一旦电路板短路,就容易造成导致电流过大,造成探针烧坏,此外探针处随着工作时间增加,容易导致热量堆集,导致探针过流能力随着温度升高而下降,造成探针烧坏的问题。包括:测试平台,所述测试平台上方的两侧均安装有支架,所述支架之间设置有升降板;还包括:散热箱,其安装在所述升降板的下方,所述散热箱的外壁的中间位置处安装有探针本体,且探针本体的一端延伸至散热箱的内部,所述探针本体的两侧均安装有红外热成像器,所述散热箱两侧的外壁上均设置有散热口,所述散热箱的内壁安装有风机。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电路板测试,具体为一种防探针烧坏的电路板测试结构


技术介绍

1、电路板是是重要的电子部件,是电子元器件的支撑体,是电子元器件电气相互连接的载体,是电子工业的重要部件之一。几乎每种电子设备,小到电子手表、计算器,大到计算机、通信电子设备、军用武器系统,只要有集成电路等电子元件,为了使各个元件之间的电气互连,都要使用印制板。印制线路板由绝缘底板、连接导线和装配焊接电子元件的焊盘组成,具有导电线路和绝缘底板的双重作用。它可以代替复杂的布线,实现电路中各元件之间的电气连接,不仅简化了电子产品的装配、焊接工作,减少传统方式下的接线工作量,大大减轻工人的劳动强度;

2、电路板在生产加工过程中,为确保电路板正常运作,需要对电路板进行测试,在测试过程中通常需要用到探针进行检测。

3、但是,现有电路板测试过程中,一旦电路板短路,就容易造成导致电流过大,造成探针烧坏,此外探针处随着工作时间增加,容易导致热量堆集,导致探针过流能力随着温度升高而下降,造成探针烧坏;因此,不满足现有的需求,对此我们提出了一种防探针烧坏的电路板测试结构。


技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种防探针烧坏的电路板测试结构,以解决上述
技术介绍
中提出的现有电路板测试过程中,一旦电路板短路,就容易造成导致电流过大,造成探针烧坏,此外探针处随着工作时间增加,容易导致热量堆集,导致探针过流能力随着温度升高而下降,造成探针烧坏的问题。

2、为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种防探针烧坏的电路板测试结构,包括:测试平台,所述测试平台上方的两侧均安装有支架,所述支架之间设置有升降板;

3、还包括:

4、散热箱,其安装在所述升降板的下方,所述散热箱的外壁的中间位置处安装有探针本体,且探针本体的一端延伸至散热箱的内部,所述探针本体的两侧均安装有红外热成像器,所述散热箱两侧的外壁上均设置有散热口,所述散热箱的内壁安装有风机。

5、优选的,所述测试平台的中间位置处安装有丝杠直线模组,所述丝杠直线模组包括滚珠丝杠,所述滚珠丝杠的一端安装有丝杠电机,所述滚珠丝杠的外壁上安装有丝杠滑块。

6、优选的,所述丝杠滑块的外壁上设置有电路板本体,所述丝杠滑块上方外壁的两侧均设置有卡槽,所述卡槽的内部安装有卡块,所述卡块的一端安装有限位块。

7、优选的,所述支架的上方安装有电动缸,所述电动缸包括活塞杆,且电动缸通过活塞杆与升降板传动连接。

8、优选的,所述升降板的两侧均安装有滑块,所述支架的内壁安装有滑轨,且升降板通过滑块与滑轨滑动连接。

9、优选的,所述支架的一侧安装有控制器,且控制器的输出端与丝杠电机、电动缸的控制端无线连接。

10、优选的,所述控制器的外壁上安装有显示屏,且显示屏的输入端与控制器的输出端电性连接。

11、与现有技术相比,本技术的有益效果是:

12、1、本技术通过设置探针本体、红外热成像器对电路板本体处进行测试,电路板本体处预先固定在下方,探针本体处跟随升降板处移动而移动,用于调节探针本体的高度,在探针本体测试前,先利用红外热成像器对下方的电路板本体处进行拍摄,并反馈至控制器处,控制器再将红外热成像数据反馈至显示屏上,使用户能够观测到电路板处的温度热成像图,通过热成像图检测是否存在温度过高区域,再对这些温度过高的区域进行规避,从而能够避免探针本体直接接触导致烧毁的情况发生,在探针本体进行长时间触碰检测时,通过风机与散热口对探针本体处进行散热,提高探针本体的散热效率,避免探针过流能力随着温度升高而下降,造成探针烧坏的问题发生。

13、2、丝杠电机与滚珠丝杠用于带动丝杠滑块处进行移动,通过移动调节电路板本体的位置,方便上方的探针处对电路板不同位置处进行检测操作,卡槽用于和卡块进行组合,卡块处的限位块用于对电路板本体进行限制,使电路板本体被限制固定,提高电路板本体检测过程中的稳定性,电动缸用于带动活塞杆与升降板处进行伸缩移动,通过伸缩移动调节探针处的高度,方便用户使用,滑块与滑轨用于使升降板升降移动过程更加的平滑稳定。

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【技术保护点】

1.一种防探针烧坏的电路板测试结构,包括测试平台(1),所述测试平台(1)上方的两侧均安装有支架(10),所述支架(10)之间设置有升降板(13);

2.根据权利要求1所述的一种防探针烧坏的电路板测试结构,其特征在于:所述测试平台(1)的中间位置处安装有丝杠直线模组(2),所述丝杠直线模组(2)包括滚珠丝杠(3),所述滚珠丝杠(3)的一端安装有丝杠电机(4),所述滚珠丝杠(3)的外壁上安装有丝杠滑块(5)。

3.根据权利要求2所述的一种防探针烧坏的电路板测试结构,其特征在于:所述丝杠滑块(5)的外壁上设置有电路板本体(9),所述丝杠滑块(5)上方外壁的两侧均设置有卡槽(6),所述卡槽(6)的内部安装有卡块(7),所述卡块(7)的一端安装有限位块(8)。

4.根据权利要求3所述的一种防探针烧坏的电路板测试结构,其特征在于:所述支架(10)的上方安装有电动缸(11),所述电动缸(11)包括活塞杆(12),且电动缸(11)通过活塞杆(12)与升降板(13)传动连接。

5.根据权利要求4所述的一种防探针烧坏的电路板测试结构,其特征在于:所述升降板(13)的两侧均安装有滑块(14),所述支架(10)的内壁安装有滑轨(15),且升降板(13)通过滑块(14)与滑轨(15)滑动连接。

6.根据权利要求5所述的一种防探针烧坏的电路板测试结构,其特征在于:所述支架(10)的一侧安装有控制器(19),且控制器(19)的输出端与丝杠电机(4)、电动缸(11)的控制端无线连接。

7.根据权利要求6所述的一种防探针烧坏的电路板测试结构,其特征在于:所述控制器(19)的外壁上安装有显示屏(20),且显示屏(20)的输入端与控制器(19)的输出端电性连接。

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【技术特征摘要】

1.一种防探针烧坏的电路板测试结构,包括测试平台(1),所述测试平台(1)上方的两侧均安装有支架(10),所述支架(10)之间设置有升降板(13);

2.根据权利要求1所述的一种防探针烧坏的电路板测试结构,其特征在于:所述测试平台(1)的中间位置处安装有丝杠直线模组(2),所述丝杠直线模组(2)包括滚珠丝杠(3),所述滚珠丝杠(3)的一端安装有丝杠电机(4),所述滚珠丝杠(3)的外壁上安装有丝杠滑块(5)。

3.根据权利要求2所述的一种防探针烧坏的电路板测试结构,其特征在于:所述丝杠滑块(5)的外壁上设置有电路板本体(9),所述丝杠滑块(5)上方外壁的两侧均设置有卡槽(6),所述卡槽(6)的内部安装有卡块(7),所述卡块(7)的一端安装有限位块(8)。

4.根据权利要求3所述的一种防探针烧坏的电路板测试结构,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:李彬才曾枚枚
申请(专利权)人:深圳市永丰盈电子有限公司
类型:新型
国别省市:

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