System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种设备灯检测方法、设备灯检测装置及电子设备制造方法及图纸_技高网

一种设备灯检测方法、设备灯检测装置及电子设备制造方法及图纸

技术编号:40878383 阅读:4 留言:0更新日期:2024-04-08 16:48
本申请公开了一种设备灯检测方法、装置、电子设备及存储介质。其中,该方法应用于与至少一个待测设备相连接的电子设备,每个待测设备均设有能够发出不可见光的设备灯,该方法包括:获取待测设备点亮操作后经相对设置的反射体反射所得的测试图像;在测试图像中,根据预设的第一特征、预设的第二特征及预设的第三特征查找设备灯,第一特征为设备灯的中心光斑所呈现的颜色特征,第二特征为设备灯的边缘光晕所呈现的颜色特征,第三特征为中心光斑及边缘光晕所呈现的位置关系特征;根据在测试图像中查找到的设备灯的数量及预设数量,输出检测结果,预设数量为待测设备所设有的设备灯的总数量。本申请方案可提升对待测设备的设备灯的检测效率及准确率。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于测试,尤其涉及一种设备灯检测方法、设备灯检测装置、电子设备及计算机可读存储介质。


技术介绍

1、部分电子设备(例如网络摄像机)根据其使用需求,设有能够发出指定波段的不可见光的设备灯。对于这类电子设备来说,最基本的对其设备灯的检测方法是人工目检。由于人工目检的误检率较高且效率较低,因而近年来提出了一些不依赖人工的自动检测方法,例如基于电流的检测方法或基于视觉的检测方法。

2、然而,对于基于电流的检测方法来说,其准确性依赖于对电流阈值的设定。当电流阈值设定不恰当时,仍容易出现误检。对于基于视觉的检测方法来说,其需要借助环境相机对已点亮设备灯的待测设备进行拍摄及分析。一方面,当有多个待测设备需要并行测试时,需求的环境相机的数量也相应增加,会导致成本提升;另一方面,其对图像的分析依赖于设备灯的颜色和/或面积,当待测设备存在反射面时,仅通过设备灯的颜色和/或面积也容易出现误检。

3、综上,现有的对设备灯的自动检测方法在检测效率及准确率上仍有待提升。


技术实现思路

1、本申请提供了一种设备灯检测方法、设备灯检测装置、电子设备及计算机可读存储介质,可以提升对待测设备的设备灯的检测效率及准确率。

2、第一方面,本申请提供了一种设备灯检测方法,该设备灯检测方法应用于电子设备,该电子设备与至少一个待测设备相连接,该待测设备设有设备灯,该待测设备能够通过设备灯发出不可见光,该设备灯检测方法包括:

3、获取待测设备点亮操作后经反射体反射所得的测试图像,其中,点亮操作为:将设备灯以指定亮度等级点亮,反射体与设备灯相对设置;

4、在测试图像中,根据预设的第一特征、预设的第二特征及预设的第三特征查找设备灯,其中,第一特征为设备灯的中心光斑所呈现的颜色特征,第二特征为设备灯的边缘光晕所呈现的颜色特征,第三特征为中心光斑及边缘光晕所呈现的位置关系特征;

5、根据在测试图像中查找到的设备灯的数量及预设数量,输出检测结果,预设数量为:待测设备所设有的设备灯的总数量。

6、第二方面,本申请提供了一种设备灯检测装置,该设备灯检测装置应用于电子设备,该电子设备与至少一个待测设备相连接,该待测设备设有设备灯,该待测设备能够通过设备灯发出不可见光,设备灯检测装置包括:

7、获取模块,用于获取待测设备点亮操作后经反射体反射所得的测试图像,其中,点亮操作为:将设备灯以指定亮度等级点亮,反射体与设备灯相对设置;

8、查找模块,用于在测试图像中,根据预设的第一特征、预设的第二特征及预设的第三特征查找设备灯,其中,第一特征为设备灯的中心光斑所呈现的颜色特征,第二特征为设备灯的边缘光晕所呈现的颜色特征,第三特征为中心光斑及边缘光晕所呈现的位置关系特征;

9、输出模块,用于根据在测试图像中查找到的设备灯的数量及预设数量,输出检测结果,预设数量为:待测设备所设有的设备灯的总数量。

10、第三方面,本申请提供了一种电子设备,上述电子设备包括存储器、处理器以及存储在上述存储器中并可在上述处理器上运行的计算机程序,上述处理器执行上述计算机程序时实现如上述第一方面的方法的步骤。

11、第四方面,本申请提供了一种计算机可读存储介质,上述计算机可读存储介质存储有计算机程序,上述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面的方法的步骤。

12、第五方面,本申请提供了一种计算机程序产品,上述计算机程序产品包括计算机程序,上述计算机程序被一个或多个处理器执行时实现如上述第一方面的方法的步骤。

13、本申请与现有技术相比存在的有益效果是:对能够发出指定波段的不可见光的设备灯进行分析后,发现设备灯在以特定亮度等级点亮时,还会同时伴随发出有可见光,使得其呈现有白色的中心光斑及红色的边缘光晕。基于此,本申请通过以下步骤实现对设备灯的自动检测:获取待测设备点亮操作后经反射体反射所得的测试图像,其中,点亮操作为:将设备灯以指定亮度等级点亮,反射体与设备灯相对设置;在测试图像中,根据预设的第一特征、预设的第二特征及预设的第三特征查找设备灯,其中,第一特征为设备灯的中心光斑所呈现的颜色特征,第二特征为设备灯的边缘光晕所呈现的颜色特征,第三特征为中心光斑及边缘光晕所呈现的位置关系特征;根据在测试图像中查找到的设备灯的数量及预设数量,输出检测结果,预设数量为:待测设备所设有的设备灯的总数量。上述检测过程中,从设备灯白色的中心光斑区域及红色的边缘光晕区域所呈现的颜色特征及位置关系特征出发,对待测设备的设备灯的工作状态进行检测,可有效减少误检;并且,此过程中无需借助环境相机,只需要待测设备自己对着反射体进行拍摄即可,能够以低成本实现对多待测设备的并行检测;除此之外,此过程对待测设备的设备灯的尺寸也不作限制,可实现对不同尺寸的设备灯的兼容测试。

14、可以理解的是,上述第二方面至第五方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述,在此不再赘述。

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【技术保护点】

1.一种设备灯检测方法,其特征在于,所述设备灯检测方法应用于电子设备,所述电子设备与至少一个待测设备相连接,所述待测设备设有设备灯,所述待测设备能够通过所述设备灯发出不可见光,所述设备灯检测方法包括:

2.如权利要求1所述的设备灯检测方法,其特征在于,所述在所述测试图像中,根据预设的第一特征、预设的第二特征及预设的第三特征查找所述设备灯,包括:

3.如权利要求2所述的设备灯检测方法,其特征在于,所述根据所述第一区域、所述第二区域及所述第三特征查找所述设备灯,包括:

4.如权利要求3所述的设备灯检测方法,其特征在于,所述在提取到的所有所述第一外接框及所述第二外接框中,查找满足预设的位置关系条件的外接框组,包括:

5.如权利要求2所述的设备灯检测方法,其特征在于,所述在所述测试图像中,根据预设的第一特征查找第一区域,以及,根据预设的第二特征查找第二区域,包括:

6.如权利要求5所述的设备灯检测方法,其特征在于,所述根据所述区域的外边界的周长,以及,所述外边界所包围的面积,检测所述区域是否满足预设的区域条件,包括:

>7.如权利要求1所述的设备灯检测方法,其特征在于,所述根据在所述测试图像中查找到的所述设备灯的数量及预设数量,输出检测结果,包括:

8.一种设备灯检测装置,其特征在于,所述设备灯检测装置应用于电子设备,所述电子设备与至少一个待测设备相连接,所述待测设备设有设备灯,所述待测设备能够通过所述设备灯发出不可见光,所述设备灯检测装置包括:

9.一种电子设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。

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【技术特征摘要】

1.一种设备灯检测方法,其特征在于,所述设备灯检测方法应用于电子设备,所述电子设备与至少一个待测设备相连接,所述待测设备设有设备灯,所述待测设备能够通过所述设备灯发出不可见光,所述设备灯检测方法包括:

2.如权利要求1所述的设备灯检测方法,其特征在于,所述在所述测试图像中,根据预设的第一特征、预设的第二特征及预设的第三特征查找所述设备灯,包括:

3.如权利要求2所述的设备灯检测方法,其特征在于,所述根据所述第一区域、所述第二区域及所述第三特征查找所述设备灯,包括:

4.如权利要求3所述的设备灯检测方法,其特征在于,所述在提取到的所有所述第一外接框及所述第二外接框中,查找满足预设的位置关系条件的外接框组,包括:

5.如权利要求2所述的设备灯检测方法,其特征在于,所述在所述测试图像中,根据预设的第一特征查找第一区域,以及,根据预设的第二特征查找第二区域,包括:

6.如权利要求5所...

【专利技术属性】
技术研发人员:王刚谢津王勤曹乾
申请(专利权)人:浙江宇视科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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