【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子设备，具体而言，涉及一种显示模组的检测方法、装置、存储介质和计算机设备。
技术介绍
1、led显示屏作为强制性认证产品品类之一，需要进行ccc强制性认证。一般情况下，大部分产品在进行ccc认证时都需要反复测试整改后才能够达到标准。测试整改一直都是led显示屏认证的难点。相关技术中无明确的工具、标准去衡量设计时是否满足emc设计要求，只能通过一些预留阻容件，通过调配阻容件容值，以达到认证要求，无法确认线路是否存在异常，设计是否合理。
2、针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供了一种显示模组的检测方法、装置、存储介质和计算机设备，以至少解决相关技术中无法确定显示模组的辐射是否符合标准的技术问题。
2、根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种显示模组的检测方法，包括：采用电磁辐射采集仪器，以多个角度对待测显示模组进行扫描，确定分别在多个角度下待测显示模组发出的多个第一辐射量，其中，多个第一辐射量和多个角度一一对应；根据多个第一辐射量，确定待测显示模组的辐射超标角度和辐射超标面；根据辐射超标角度和辐射超标面，确定待测显示模组上辐射超标的位置。
3、可选地，根据辐射超标角度和辐射超标面，确定待测显示模组上辐射超标的位置，包括：控制金属物体以辐射超标角度在辐射超标面上移动，其中，金属物体用于屏蔽或吸收辐射；在金属物体在辐射超标面上移动的过程中，采用电磁辐射采集仪器，检测辐射超标面发出的辐射量；
4、可选地，在金属物体在辐射超标面上移动的过程中，采用电磁辐射采集仪器，检测辐射超标面发出的辐射量，包括：记录金属物体在辐射超标面上移动时经过的多个位置；在金属物体分别在多个位置的情况下，分别确定辐射超标面发出的多个第二辐射量，其中，多个位置与多个第二辐射量一一对应。
5、可选地，根据辐射超标面发出的辐射量，确定待测显示模组上辐射超标的位置，包括：在多个第二辐射量中，确定小于预定阈值的第二辐射量对应的位置为辐射超标的位置。
6、可选地，还包括：调节待测显示模组的输入信号；在调节待测显示模组的输入信号的过程中，采用电磁辐射采集仪器，检测辐射超标的位置发出的辐射量；根据辐射超标的位置发出的辐射量，确定导致待测显示模组辐射超标的目标信号。
7、可选地，还包括：获取待测显示模组的电路图；根据目标信号和辐射超标的位置，在电路图中确定异常电路；判断异常电路是否存在异常现象库包括的异常现象；在异常电路存在异常现象库包括的异常现象的情况下，基于异常现象库中包括的解决策略，对异常电路进行调整。
8、可选地，还包括：在异常电路不存在异常现象库包括的异常现象的情况下，在异常电路中设置串联电阻和滤波电容。
9、根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种显示模组的检测装置，包括：第一确定模块，用于采用电磁辐射采集仪器，以多个角度对待测显示模组进行扫描，确定分别在多个角度下待测显示模组发出的多个第一辐射量，其中，多个第一辐射量和多个角度一一对应；第二确定模块，用于根据多个第一辐射量，确定待测显示模组的辐射超标角度和辐射超标面；第三确定模块，用于根据辐射超标角度和辐射超标面，确定待测显示模组上辐射超标的位置。
10、根据本专利技术实施例的又一方面，还提供了一种非易失性存储介质，非易失性存储介质包括存储的程序，其中，在程序运行时控制非易失性存储介质所在设备执行上述中任意一项显示模组的检测方法。
11、根据本专利技术实施例的再一方面，还提供了一种计算机设备，计算机设备包括处理器，处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行上述中任意一项显示模组的检测方法。
12、在本专利技术实施例中，通过采用电磁辐射采集仪器，以多个角度对待测显示模组进行扫描，确定分别在多个角度下待测显示模组发出的多个第一辐射量，其中，多个第一辐射量和多个角度一一对应；根据多个第一辐射量，确定待测显示模组的辐射超标角度和辐射超标面；根据辐射超标角度和辐射超标面，确定待测显示模组上辐射超标的位置，达到了检测待测显示模组中辐射超标的位置的目的，从而实现了提高确定显示模组的辐射是否符合标准的效率、提高显示模组ccc认证标准的通过率的技术效果，进而解决了相关技术中无法确定显示模组的辐射是否符合标准的技术问题。
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1.一种显示模组的检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述辐射超标角度和所述辐射超标面，确定所述待测显示模组上辐射超标的位置，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所述金属物体在所述辐射超标面上移动的过程中，采用所述电磁辐射采集仪器，检测所述辐射超标面发出的辐射量，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述辐射超标面发出的辐射量，确定所述待测显示模组上辐射超标的位置，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，还包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，还包括：
8.一种显示模组的检测装置，其特征在于，包括：
9.一种非易失性存储介质，其特征在于，所述非易失性存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述非易失性存储介质所在设备执行权利要求1至7中任意一项所述显示模组的检测方法。
10.一种计算机设备，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种显示模组的检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述辐射超标角度和所述辐射超标面，确定所述待测显示模组上辐射超标的位置，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所述金属物体在所述辐射超标面上移动的过程中，采用所述电磁辐射采集仪器，检测所述辐射超标面发出的辐射量，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述辐射超标面发出的辐射量，确定所述待测显示模组上辐射超标的位置，包括：
【专利技术属性】
技术研发人员：郑金龙，张海雷，季盼盼，单雷超，
申请(专利权)人：深圳利亚德光电有限公司，
类型：发明
国别省市：
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