System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 机械磁性式接近开关的响应时间检测方法、性能检测装置及方法制造方法及图纸_技高网

机械磁性式接近开关的响应时间检测方法、性能检测装置及方法制造方法及图纸

技术编号:40873107 阅读:5 留言:0更新日期:2024-04-08 16:41
本发明专利技术涉及机械磁性式接近开关性能检测技术领域,更具体的,涉及机械磁性式接近开关的响应时间检测方法、性能检测装置及方法。本发明专利技术针对于机械磁性式接近开关的响应时间检测提供了一种全新的方法,将在趋于0的移动速度下测得的感应距离作为基准值,并使用更大量级的移动速度下测得的感应距离与基准值求出距离差值,再使用距离差值除以移动速度差值得到响应时间值;通过实验验证,本发明专利技术的方法测量的响应时间偏差可控制在10ms内。本发明专利技术解决了现有缺少针对机械磁性式接近开关响应时间检测方法的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及机械磁性式接近开关性能检测,特别涉及:1、一种机械磁性式接近开关的响应时间检测方法;2、一种机械磁性式接近开关的性能检测装置;3、该性能检测装置的使用方法。


技术介绍

1、接近开关在日常生活和工业生产等领域扮演了重要的角色,广泛应用于运动机构的限位、生产产品的计数、阀门开关状态等场合。

2、机械磁性式接近开关是众多接近开关中的一种,其原理是当开关感应范围内有磁性物体时,开关内部永磁体带动机械触点动作,从而控制开关的输出信号变化。目前机械磁性式接近开关在国内被广泛使用、且大多长期处于运行状态,其响应时间等性能会受温度、振动、压力、磁场等因素影响,因此需要对机械磁性式接近开关各项性能进行定期检测,根据性能选择合适的安装位置,防止产生错误信号或信号丢失。

3、但专利技术人经过检索后发现,国标《gbt14048.10-2016》中仅记载了非机械磁性式接近开关的相关测量方法,并未记载机械磁性式接近开关的相关测量方法。专利技术人额外查阅相关文件,发现现有技术也没有专门针对检测机械磁性式接近开关响应时间的方法。

4、因此,专利技术人及团队开发了一种检测机械磁性式接近开关的响应时间检测方法,并设计了一套机械磁性式接近开关性能检测装置,不仅可以对机械磁性式接近开关响应时间进行检测,还可以对机械磁性式接近开关的其他性能进行检测。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对现有缺少针对机械磁性式接近开关响应时间检测方法的问题,提供了机械磁性式接近开关的响应时间检测方法、性能检测装置及方法。

2、本专利技术采用以下技术方案实现:

3、第一方面,本专利技术公开了一种机械磁性式接近开关的响应时间检测方法,其用于对目标机械磁性式接近开关的响应时间进行检测。

4、机械磁性式接近开关的响应时间检测方法包括以下步骤:

5、s1,在目标机械磁性式接近开关附近设置检测靶板,使目标机械磁性式接近开关的感应面对着检测靶板的检测面、目标机械磁性式接近开关的感应面与检测靶板的检测面始终平行;且沿着目标机械磁性式接近开关与检测靶板连线方向,检测靶板的检测面完全覆盖目标机械磁性式接近开关的感应面;

6、s2,保持目标机械磁性式接近开关静止,并将检测靶板置于位置a;其中,位置a位于目标机械磁性式接近开关释放距离内,此时目标机械磁性式接近开关为闭合状态;

7、s3,使检测靶板沿着目标机械磁性式接近开关与检测靶板连线方向以速度v1匀速远离目标机械磁性式接近开关,并记录目标机械磁性式接近开关断开时、检测靶板距离位置a移动的距离d1;

8、s4,重复s2,使检测靶板沿着目标机械磁性式接近开关与检测靶板连线方向以速度v2匀速远离目标机械磁性式接近开关,并记录目标机械磁性式接近开关断开时、检测靶板距离位置a移动的距离d2;v2≠v1;

9、其中,v1趋近于0,v1>0,v2比v1大至少一个量级;

10、或,v2趋近于0,v2>0,v1比v2大至少一个量级

11、s5,计算目标机械磁性式接近开关的响应时间t=(d2-d1)/(v2-v1)。

12、该种机械磁性式接近开关的响应时间检测方法实现根据本公开的实施例的方法或过程。

13、第二方面,本专利技术公开了一种机械磁性式接近开关性能检测装置,包括:检测平台、安装架、靶板调整组件、测距组件、数据采集组件。

14、安装架设置在检测平台上,用于可拆卸安装目标机械磁性式接近开关。

15、靶板调整组件设置在检测平台上、并位于安装架一侧。靶板调整组件用于可拆卸安装检测靶板、并调整检测靶板与目标机械磁性式接近开关的距离。

16、测距组件包括至少一个激光测距传感器。激光测距传感器设置在安装架上,其感应端对着检测靶板的检测面,用于间接测量出检测靶板相对于目标机械磁性式接近开关的移动距离。

17、数据采集组件用于实时采集目标机械磁性式接近开关的输出电压、激光测距传感器的输出距离。

18、其中,基于数据采集组件采集的数据,检测出目标机械磁性式接近开关的性能参数及其重复性;所述性能参数包括:响应时间、最大感应距离、释放距离、回差。

19、该种机械磁性式接近开关性能检测装置实现根据本公开的实施例的方法或过程。

20、第三方面,本专利技术公开了第一种机械磁性式接近开关性能检测装置的使用方法,其应用在第二方面公开的机械磁性式接近开关性能检测装置、并使用了第一方面公开的机械磁性式接近开关的响应时间检测方法,用于检测目标机械磁性式接近开关的响应时间检测。

21、第一种机械磁性式接近开关性能检测装置的使用方法包括:

22、s1,将目标机械磁性式接近开关安装在安装架上,将检测靶板安装在靶板调整组件上;并使目标机械磁性式接近开关的感应面对着检测靶板的检测面、目标机械磁性式接近开关的感应面与检测靶板的检测面始终平行,且沿着目标机械磁性式接近开关与检测靶板连线方向,检测靶板的检测面完全覆盖目标机械磁性式接近开关的感应面;

23、s2,保持目标机械磁性式接近开关静止,控制直线运动模组使将检测靶板置于位置a;其中,位置a位于目标机械磁性式接近开关释放距离内,此时目标机械磁性式接近开关为闭合状态,数据采集组件采集到目标机械磁性式接近开关的输出电压为高电平、激光测距传感器的输出距离为d0;

24、s3,控制直线运动模组使检测靶板沿着目标机械磁性式接近开关与检测靶板连线方向以速度v1匀速远离目标机械磁性式接近开关;

25、在数据采集组件采集到目标机械磁性式接近开关的输出电压从电平高低突变时,采集到激光测距传感器的输出距离为d1;

26、则,此时目标机械磁性式接近开关断开,检测靶板距离位置a移动的距离d1=d1-d0;

27、s4,重复s2,使检测靶板沿着目标机械磁性式接近开关与检测靶板连线方向以速度v2匀速远离目标机械磁性式接近开关;

28、在数据采集组件采集到目标机械磁性式接近开关的输出电压从电平高低突变时,采集到激光测距传感器的输出距离为d2;v2≠v1;

29、则,此时目标机械磁性式接近开关断开,检测靶板距离位置a移动的距离d2=d2-d0;

30、其中,v1趋近于0,v1>0,v2比v1大至少一个量级;

31、或,v2趋近于0,v2>0,v1比v2大至少一个量级;

32、s5,计算目标机械磁性式接近开关的响应时间t=(d2-d1)/(v2-v1)=(d2-d1)/(v2-v1)。

33、第四方面,本专利技术公开了第二种机械磁性式接近开关性能检测装置的使用方法,其应用在第二方面公开的机械磁性式接近开关性能检测装置,用于检测目标机械磁性式接近开关的最大感应距离、释放距离、回差。

34、第二种机械磁性式接近开关性能检测装置的使用方法包括以下步骤:

35、s1,将目标机械本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种机械磁性式接近开关的响应时间检测方法,其特征在于,其用于对目标机械磁性式接近开关的响应时间进行检测;

2.根据权利要求1所述的机械磁性式接近开关的响应时间检测方法,其特征在于,V1=0.1mm/s,V2≥1mm/s;

3.一种机械磁性式接近开关性能检测装置,其特征在于,包括:

4.根据权利要求3所述的机械磁性式接近开关性能检测装置,其特征在于,所述靶板调整组件包括:固定架、旋转滑台、三轴微动平台、直线运动模组;

5.根据权利要求4所述的机械磁性式接近开关性能检测装置,其特征在于,所述安装架包括:

6.根据权利要求5所述的机械磁性式接近开关性能检测装置,其特征在于,所述激光测距传感器设置了2个、并对称位于安装板两侧。

7.根据权利要求5所述的机械磁性式接近开关性能检测装置,其特征在于,所述机械磁性式接近开关性能检测装置使用了如权利要求1或2所述的机械磁性式接近开关的响应时间检测方法进行目标机械磁性式接近开关的响应时间检测。

8.一种机械磁性式接近开关性能检测装置的使用方法,其特征在于,其应用在如权利要求7所述的机械磁性式接近开关性能检测装置,用于检测目标机械磁性式接近开关的响应时间检测;

9.一种机械磁性式接近开关性能检测装置的使用方法,其特征在于,其应用在如权利要求4-7中任一所述的机械磁性式接近开关性能检测装置,用于检测目标机械磁性式接近开关的最大感应距离、释放距离、回差;

10.根据权利要求9所述的机械磁性式接近开关性能检测装置的使用方法,其特征在于,释放距离l1的检测方法为:

...

【技术特征摘要】

1.一种机械磁性式接近开关的响应时间检测方法,其特征在于,其用于对目标机械磁性式接近开关的响应时间进行检测;

2.根据权利要求1所述的机械磁性式接近开关的响应时间检测方法,其特征在于,v1=0.1mm/s,v2≥1mm/s;

3.一种机械磁性式接近开关性能检测装置,其特征在于,包括:

4.根据权利要求3所述的机械磁性式接近开关性能检测装置,其特征在于,所述靶板调整组件包括:固定架、旋转滑台、三轴微动平台、直线运动模组;

5.根据权利要求4所述的机械磁性式接近开关性能检测装置,其特征在于,所述安装架包括:

6.根据权利要求5所述的机械磁性式接近开关性能检测装置,其特征在于,所述激光测距传感器设置了2个、并对称位于安装板两侧。

7.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘伟豪王玉刚张洪军赵晓东周月陆渊
申请(专利权)人:中国计量大学
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1