【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体集成电路的，特别是涉及一种半导体集成电路测试装置。
技术介绍
1、半导体集成电路是指在一个半导体衬底上至少有一个电路块的半导体集成电路装置；半导体集成电路是将晶体管，二极管等等有源元件和电阻器，电容器等无源元件，按照一定的电路互联，“集成”在一块半导体单晶片上，从而完成特定的电路或者系统功能；通常在生产过程中会对产品进行检测，检测一般分为三个方向：一、功能测试：通过对电路的输入和输出进行验证，检测电路的各个功能是否正常；二、可靠性测试：主要包括高温老化、低温老化、高湿老化、低湿老化等环境测试，检验电路在各种极端环境下是否正常工作；三、特性参数测试：包括电流、电压、频率等特性参数的测试，以验证电路在各种工况下的性能是否稳定。
2、现有技术中申请号为cn202022910120.9的中国技术专利涉及一种半导体集成电路的测试装置，包括马达、转轴、齿轮、齿条板、连接座、连接杆、活动轴、固定板、滑杆和测试头，能够便于使用者对半导体集成电路的表面进行高强度测试，提高了半导体集成电路表面的抗撞击强度，降低半导体集成电路表面在使用过程中的损坏概率，同时进一步延长了半导体集成电路的使用寿命，提高了半导体集成电路的生产品质。
3、但是上述装置在实际使用中还存在以下问题：第一，上述装置的测试环境非封闭状态，环境中的灰尘及漂浮的杂质落在电路板上会对检测数据造成影响；第二，上述装置不便于测试过程中操作人员对电路板的物理状态进行观察。
技术实现思路
1、为解决上述技术问
2、本技术的一种半导体集成电路测试装置，包括集尘装置、显示装置、防护装置、辅助装置、旋转装置和固定装置，显示装置安装在集尘装置上，防护装置安装在集尘装置上，辅助装置安装在集尘装置上，旋转装置安装在集尘装置上，固定装置安装在旋转装置上；通过集尘装置提供密封的检测环境，并能够对电路板表面掉落的灰尘及杂质进行清理，提高了数据检测的准确性；通过显示装置便于操作人员在检测过程中对检测数值的实时观察；通过防护装置减少外界环境对电路板检测过程的影响；通过辅助装置使检测人员更好的观察电路板表面物理状态，通过旋转装置改变电路板的空间摆放位置，便于操作人员对电路板外形整体进行观察；通过固定装置对电路板的位置进行固定，便于后续进行电路检测，提高了装置的实用性。
3、优选的，集尘装置包括测试仓、玻璃观察窗、密封仓、集尘袋、风机、吸尘头和橡胶头，测试仓的下端面上设置有多组支腿，测试仓的前端面上部倾斜安装有玻璃观察窗，测试仓的后端面上部安装有密封仓，密封仓的上端面上连接有集尘管，集尘管的输入端穿过测试仓的后端面进入到测试仓内部，吸尘头安装在集尘管的输入端上，吸尘头的输入端上套装有橡胶头，密封仓内集尘口上套装有集尘袋，密封仓的下端面上安装有风机；通过玻璃观察窗便于操作人员对操作过程进行观察，通过测试仓提供密封的操作环境，降低外界环境对测试过程造成的影响，开启风机将密封仓内空气抽出使密封仓内处于负压状态，从而使测试仓内空气由吸尘头进入至集尘袋，通过集尘袋将灰尘及杂质进行筛除收集，通过橡胶头对电路板表面集尘过程进行保护，防止对电路板表面造成划伤。
4、优选的，显示装置包括支撑架、圆柱滑轨、控制器和显示器，测试仓的上端面前部通过支撑架水平安装有圆柱滑轨，控制器的后端面上部通过套筒套装在圆柱滑轨上，控制器的前端面上安装有显示器；通过显示器显示测试数据， 并通过圆柱滑轨改变控制器的水平位置，防止控制器影响操作人员对测试过程的观察，提高了装置的灵活性。
5、优选的，防护装置包括操作孔、合页和密封板，测试仓的前端面上开有两组操作孔，操作孔内套装有橡胶手套，测试仓的右端面上通过合页安装有密封板；操作人员通过操作孔和操作孔上的橡胶手套进入测试仓内部对电路板进行操作测试，减少外界环境对测试过程造成的影响，电路板与测试工具通过密封板进入至测试仓内部。
6、优选的，辅助装置包括支撑柱、滑动柱、套管、连接柱、紧固螺栓和放大镜，测试仓内前端面上部水平安装有支撑柱，支撑柱的前端面上设置有滑动槽，滑动槽中放置有滑动柱，滑动柱的侧面上连接有两组套管，两组套管位于支撑柱的前侧，连接柱左右两部分分别插入到两组套管中，连接柱的侧面上连接有放大镜，一组套管的侧面下部安装有紧固螺栓；根据使用需求移动支撑柱中的滑动柱从而改变放大镜的使用位置，通过转动套管中的连接柱改变放大镜的使用角度，通过紧固螺栓对套管中连接柱的空间位置进行固定，通过放大镜为操作人员对测试过程中电路板状态观察提供辅助，提高了装置的实用性。
7、优选的，旋转装置包括旋转平台、转轴、电动缸和固定夹爪，测试仓内底部通过轴承连接有转轴，转轴的上端面上安装有旋转平台，转轴的下部穿过测试仓的下端面延伸至测试仓下侧，测试仓的下端面上水平安装有两组电动缸，两组电动缸分别位于转轴的前后两侧，两组电动缸的移动端上均安装有固定夹爪；将电路板放置在旋转平台上，通过转动旋转平台改变电路板的展示状态，调整好电路板的空间位置后控制两组电动缸伸长使两组固定夹爪压紧转轴从而对旋转平台进行固定，减少测试过程中旋转平台晃动对测试结果造成的影响， 提高了装置的稳定性。
8、优选的，固定装置包括连杆、拉环、弹簧和橡胶夹爪，旋转平台的上端面上通过支架对称安装有两组连杆，两组连杆的外侧端面上均连接有拉环，连杆的内侧端面上连接有橡胶夹爪，连杆上套装有弹簧，弹簧的两端分别与连杆和橡胶夹爪连接；通过拉环拉动连杆将电路板放置在两组橡胶夹爪之间，之后通过弹簧为橡胶夹爪提供的弹力使两组橡胶夹爪对电路板的位置进行固定，通过弹簧能够实现电路板的快速固定和取出，提高了装置的实用性
9、与现有技术相比本技术的有益效果为：通过集尘装置提供密封的检测环境，并能够对电路板表面掉落的灰尘及杂质进行清理，提高了数据检测的准确性；通过显示装置便于操作人员在检测过程中对检测数值的实时观察；通过防护装置减少外界环境对电路板检测过程的影响；通过辅助装置使检测人员更好的观察电路板表面物理状态，通过旋转装置改变电路板的空间摆放位置，便于操作人员对电路板外形整体进行观察；通过固定装置对电路板的位置进行固定，便于后续进行电路检测，提高了装置的实用性。
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1.一种半导体集成电路测试装置，其特征在于，包括集尘装置、显示装置、防护装置、辅助装置、旋转装置和固定装置，显示装置安装在集尘装置上，防护装置安装在集尘装置上，辅助装置安装在集尘装置上，旋转装置安装在集尘装置上，固定装置安装在旋转装置上。
2.如权利要求1所述的一种半导体集成电路测试装置，其特征在于，集尘装置包括测试仓（1）、玻璃观察窗（2）、密封仓（3）、集尘袋（4）、风机（5）、吸尘头（6）和橡胶头（7），测试仓（1）的下端面上设置有多组支腿，测试仓（1）的前端面上部倾斜安装有玻璃观察窗（2），测试仓（1）的后端面上部安装有密封仓（3），密封仓（3）的上端面上连接有集尘管，集尘管的输入端穿过测试仓（1）的后端面进入到测试仓（1）内部，吸尘头（6）安装在集尘管的输入端上，吸尘头（6）的输入端上套装有橡胶头（7），密封仓（3）内集尘口上套装有集尘袋（4），密封仓（3）的下端面上安装有风机（5）。
3.如权利要求2所述的一种半导体集成电路测试装置，其特征在于，显示装置包括支撑架（8）、圆柱滑轨（9）、控制器（10）和显示器（11），测试仓（1）的上端面前部通
4.如权利要求2所述的一种半导体集成电路测试装置，其特征在于，防护装置包括操作孔（13）、合页（14）和密封板（15），测试仓（1）的前端面上开有两组操作孔（13），操作孔（13）内套装有橡胶手套，测试仓（1）的右端面上通过合页（14）安装有密封板（15）。
5.如权利要求2所述的一种半导体集成电路测试装置，其特征在于，辅助装置包括支撑柱（16）、滑动柱（17）、套管（18）、连接柱（19）、紧固螺栓（20）和放大镜（21），测试仓（1）内前端面上部水平安装有支撑柱（16），支撑柱（16）的前端面上设置有滑动槽，滑动槽中放置有滑动柱（17），滑动柱（17）的侧面上连接有两组套管（18），两组套管（18）位于支撑柱（16）的前侧，连接柱（19）左右两部分分别插入到两组套管（18）中，连接柱（19）的侧面上连接有放大镜（21），一组套管（18）的侧面下部安装有紧固螺栓（20）。
6.如权利要求2所述的一种半导体集成电路测试装置，其特征在于，旋转装置包括旋转平台（22）、转轴（23）、电动缸（24）和固定夹爪（25），测试仓（1）内底部通过轴承连接有转轴（23），转轴（23）的上端面上安装有旋转平台（22），转轴（23）的下部穿过测试仓（1）的下端面延伸至测试仓（1）下侧，测试仓（1）的下端面上水平安装有两组电动缸（24），两组电动缸（24）分别位于转轴（23）的前后两侧，两组电动缸（24）的移动端上均安装有固定夹爪（25）。
7.如权利要求6所述的一种半导体集成电路测试装置，其特征在于，固定装置包括连杆（26）、拉环（27）、弹簧（28）和橡胶夹爪（29），旋转平台（22）的上端面上通过支架对称安装有两组连杆（26），两组连杆（26）的外侧端面上均连接有拉环（27），连杆（26）的内侧端面上连接有橡胶夹爪（29），连杆（26）上套装有弹簧（28），弹簧（28）的两端分别与连杆（26）和橡胶夹爪（29）连接。
...【技术特征摘要】
1.一种半导体集成电路测试装置，其特征在于，包括集尘装置、显示装置、防护装置、辅助装置、旋转装置和固定装置，显示装置安装在集尘装置上，防护装置安装在集尘装置上，辅助装置安装在集尘装置上，旋转装置安装在集尘装置上，固定装置安装在旋转装置上。
2.如权利要求1所述的一种半导体集成电路测试装置，其特征在于，集尘装置包括测试仓（1）、玻璃观察窗（2）、密封仓（3）、集尘袋（4）、风机（5）、吸尘头（6）和橡胶头（7），测试仓（1）的下端面上设置有多组支腿，测试仓（1）的前端面上部倾斜安装有玻璃观察窗（2），测试仓（1）的后端面上部安装有密封仓（3），密封仓（3）的上端面上连接有集尘管，集尘管的输入端穿过测试仓（1）的后端面进入到测试仓（1）内部，吸尘头（6）安装在集尘管的输入端上，吸尘头（6）的输入端上套装有橡胶头（7），密封仓（3）内集尘口上套装有集尘袋（4），密封仓（3）的下端面上安装有风机（5）。
3.如权利要求2所述的一种半导体集成电路测试装置，其特征在于，显示装置包括支撑架（8）、圆柱滑轨（9）、控制器（10）和显示器（11），测试仓（1）的上端面前部通过支撑架（8）水平安装有圆柱滑轨（9），控制器（10）的后端面上部通过套筒套装在圆柱滑轨（9）上，控制器（10）的前端面上安装有显示器（11）。
4.如权利要求2所述的一种半导体集成电路测试装置，其特征在于，防护装置包括操作孔（13）、合页（14）和密封板（15），测试仓（1）的前端面上开有两组操作孔（13），操作孔（13）内套装有橡胶手套，测试仓（1）的右端面上通过合页（14）安装有密封板（15）。...
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