【技术实现步骤摘要】
本技术涉及方阻测量，具体为一种薄膜方阻测量机构。
技术介绍
1、薄膜是一种薄而软的透明薄片，用塑料、胶粘剂、橡胶或其他材料制成，薄膜被广泛用于电子电器，机械，印刷等行业，方阻是指电路中由于导线等载流介质对电流的阻碍作用而产生的阻力，通常使用单位长度电阻来表示，单位为欧姆每米(ω/m)。
2、为了降低柔性导电薄膜的方阻以及提高薄膜的透过率，可以对薄膜进行结晶化处理，由于结晶化的薄膜的方阻值会降低，因此可以通过对结晶化处理前后的薄膜的方阻进行测定，从而判断其是否结晶，现有的薄膜方阻测量通常都是人工手动使用方阻仪进行测量，此种方式不仅效率低下，且难以适用于不同厚度和大小的薄膜，不利于实际的使用，故而提出一种薄膜方阻测量机构来解决上述提出的问题。
技术实现思路
1、针对现有技术的不足，本技术提供了一种薄膜方阻测量机构，解决了不仅效率低下，且难以适用于不同厚度和大小的薄膜的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种薄膜方阻测量机构，包括底座、表笔、调节机构和固定机构，所述底座顶部的四周均固定安装有支撑杆，所述支撑杆的顶部固定安装有顶座，所述顶座顶部的正面固定安装有方阻仪；
3、所述调节机构包括固定安装于底座内部左侧的伺服电机，所述伺服电机的输出轴固定安装有螺纹杆，所述螺纹杆的外表面螺纹连接有活动块，所述底座的内部固定安装有一端贯穿并延伸至活动块外部的限位杆，所述活动块相背的一侧均固定安装有气缸一，所述表笔活动安装于活动块相对的一侧；
<...【技术保护点】
1.一种薄膜方阻测量机构，包括底座(1)、表笔(2)、调节机构和固定机构，其特征在于：所述底座(1)顶部的四周均固定安装有支撑杆(3)，所述支撑杆(3)的顶部固定安装有顶座(4)，所述顶座(4)顶部的正面固定安装有方阻仪(5)；
2.根据权利要求1所述的一种薄膜方阻测量机构，其特征在于：所述表笔(2)的数量为两个，两个所述气缸一(10)的输出轴分别与两个表笔(2)固定连接，两个所述表笔(2)均与方阻仪(5)电连接。
3.根据权利要求1所述的一种薄膜方阻测量机构，其特征在于：所述活动块(8)的内部分别开设有与螺纹杆(7)和限位杆(9)大小相适配的螺纹槽和限位槽，所述底座(1)和顶座(4)的顶部和底部均开设有活动孔。
4.根据权利要求1所述的一种薄膜方阻测量机构，其特征在于：所述支撑杆(3)的数量为四个且呈对称分布，所述活动板(12)的内部开设有与支撑杆(3)大小相适配的限位孔。
5.根据权利要求1所述的一种薄膜方阻测量机构，其特征在于：所述固定座(13)的数量为两组，每组所述固定座(13)的数量均为两个且呈对称分布，两组所述固定座(1
6.根据权利要求1所述的一种薄膜方阻测量机构，其特征在于：所述固定轮(15)的内部开设有与固定轴(14)大小相适配的转孔，所述底座(1)的底部固定安装有支撑座。
...【技术特征摘要】
1.一种薄膜方阻测量机构，包括底座(1)、表笔(2)、调节机构和固定机构，其特征在于：所述底座(1)顶部的四周均固定安装有支撑杆(3)，所述支撑杆(3)的顶部固定安装有顶座(4)，所述顶座(4)顶部的正面固定安装有方阻仪(5)；
2.根据权利要求1所述的一种薄膜方阻测量机构，其特征在于：所述表笔(2)的数量为两个，两个所述气缸一(10)的输出轴分别与两个表笔(2)固定连接，两个所述表笔(2)均与方阻仪(5)电连接。
3.根据权利要求1所述的一种薄膜方阻测量机构，其特征在于：所述活动块(8)的内部分别开设有与螺纹杆(7)和限位杆(9)大小相适配的螺纹槽和限位槽，所述底座(...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭海，彭谦，
申请(专利权)人：江苏元核芯技术有限责任公司，
类型：新型
国别省市：
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