【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路仿真测试，具体涉及一种芯片可测性代码动态仿真测试系统及测试方法。
技术介绍
1、测试向量是一组用于测试集成电路或芯片可测性代码的输入信号。在测试芯片可测性代码时，需要向其输入一系列的测试向量，以激励芯片可测性代码内部的逻辑电路，并观察输出响应来验证其功能和性能。这些测试向量描述了在不同时间点上输入信号的状态，以及对应的期望输出。stil作为一种测试程序语言，可以描述这些测试向量的模式、序列以及相关的时序约束等信息。
2、现有技术对芯片可测性代码进行仿真验证时，工具会生成一套verilog格式的向量以及对应的可综合测试台(testbench)，但是仿真测试速度比较慢，尤其在可测试性代码的代码量过大时会导致仿真测试运行时间过长，而时间太长会无法满足测试需求。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术提供了一种芯片可测性代码动态仿真测试系统及测试方法，以解决现有技术进行芯片可测性代码仿真测试时耗时过长的问题。
2、第一方面，本专利技术提供了一种芯片可测性代码动态仿真测试系统，系统包括：软件模块和仿真测试平台；
3、软件模块，用于获取预设格式的测试向量，通过动态链接库对测试向量进行解析获得测试数据，并按照预设测试周期将测试数据动态加载至仿真测试平台，其中，测试数据包括测试向量的时钟输入、测试输入数据和预期结果；
4、仿真测试平台，部署有芯片可测性代码，用于按照当前测试周期内测试输入数据对芯片可测性代码进行测试，并将芯片可测
5、本专利技术提供实施例提供的芯片可测性代码动态仿真测试系统，通过软件模块的动态链接库将预设格式的测试向量进行解析获得测试数据，并将测试数据按照预设测试周期动态加载至仿真测试平台，仿真测试平台按照当前测试周期的测试数据对芯片可测性代码进行测试，并将芯片可测性代码的输出结果与预期结果进行对比来对芯片可测性代码进行验证。本专利技术通过对芯片可测性代码进行动态测试，能够支持不同格式、不同类型的测试向量输入，实现对芯片可测性代码进行批量测试和自动处理测试结果，节省测试时间。
6、在一种可选的实施方式中，软件模块，包括：文件加载单元，用于获取预设格式的测试向量；文件传输单元，用于通过动态链接库对测试向量进行解析获得测试数据，并按照预设测试周期将测试数据动态加载至仿真测试平台，或接收仿真测试平台的验证结果；结果记录单元，用于存储文件传输单元所接收的验证结果。
7、本专利技术通过软件模块对不同格式的测试向量进行解析，使得仿真测试平台能够根据不同格式的测试向量对可测试性代码进行测试，提高测试的灵活性。
8、在一种可选的实施方式中，仿真测试平台，包括：模拟仿真平台，用于对芯片可测性代码的功能进行验证；硬件仿真平台，用于对芯片可测性代码的功能或芯片可测性代码所对应的电路物理特性的正确性进行验证。
9、本专利技术适用于不同的仿真平台，能够针对测试需求对可测试性芯片代码进行不同的仿真测试，进一步提高测试的灵活性。
10、在一种可选的实施方式中，文件传输单元通过预先部署的dpi交互接口进行实时数据传输。
11、本专利技术通过dpi接口进行交互数据传输，能够提供高效的数据传输通道，不用动手将测试向量导入测试平台中，使得软件模块实时将测试向量动态传送至仿真测试平台，并及时获取仿真测试平台的测试结果，实现了高效自动化测试。此外，无需将数据文件一次性加载至内存中，节省内存。
12、第二方面，本专利技术提供了一种芯片可测性代码动态测试方法，方法包括：
13、软件模块获取预设格式的测试向量，通过动态链接库对测试向量进行解析获得测试数据，并按照预设测试周期将测试数据动态加载至仿真测试平台，其中，测试数据包括测试向量的时钟输入、测试输入数据和预期结果；
14、仿真测试平台按照当前测试周期内测试输入数据对芯片可测性代码进行测试，并将芯片可测性代码的输出结果与预期结果进行对比，来对芯片可测性代码进行验证。
15、本专利技术提供实施例提供的芯片可测性代码动态测试方法，通过软件模块的动态链接库将预设格式的测试向量进行解析获得测试数据，并将测试数据按照预设测试周期动态加载至仿真测试平台，仿真测试平台按照当前测试周期的测试数据对芯片可测性代码进行测试，并将芯片可测性代码的输出结果与预期结果进行对比来对芯片可测性代码进行验证。本专利技术通过对芯片可测性代码进行动态测试，能够支持不同格式、不同类型的测试向量输入，实现对芯片可测性代码进行批量测试和自动处理测试结果，节省测试时间。
16、在一种可选的实施方式中，通过动态链接库对测试向量进行解析获得测试数据的过程，包括：通过预设编程语言创建动态链接库；将预设格式的测试向量输入至动态链接库进行解析，获得测试数据，其中，预设格式包括wgl、stil或vcd中的至少一种。
17、本专利技术通过构建预设编程语言的动态链接库，能够无需人工干预即可将不同格式、不同类型的测试向量统一转化为同一格式的测试数据，从而提高测试效率和测试覆盖率。
18、在一种可选的实施方式中，仿真测试平台按照当前测试周期内测试输入数据对芯片可测性代码进行测试的过程，包括：对测试数据进行解析，获取测试数据的时钟输入、测试输入数据和预期结果；将解析后的测试数据存储至仿真测试平台的预设内存中；按照预设测试周期对预设内存中的测试数据的周期进行识别，判断测试数据是否处于当前测试周期内；若处于当前测试周期内，则按照测试输入数据对芯片可测性代码进行测试；在测试过程中，根据数据动态加载过程中为不同测试周期的测试数据所对应的测试向量分配的编号，判断测试过程是否结束。
19、本专利技术通过在测试过程中识别周期，能够保证测试有序进行，实现对芯片可测性代码的动态测量，提高测试的自动化程度。此外，通过为测试向量分配编号，能够在进行动态加载、动态测量时，实时掌握测试进度。
20、在一种可选的实施方式中，将芯片可测性代码的输出结果与预期结果进行对比，来对芯片可测性代码进行验证的过程，包括：获取芯片可测性代码的输出结果；将输出结果与预期结果进行对比；根据对比结果验证芯片可测性代码的功能和或芯片可测性代码所对应的电路物理特性的正确性。
21、本专利技术通过实施捕捉芯片可测性代码的输出结果，能够判断芯片可测性代码在测试向量下所实现功能和可测性代码对应设计的芯片的电路物理特性的正确性，快速完成对集成的电路芯片可测性代码的故障检测，避免人工操作，提高生产效率。
22、在一种可选的实施方式中，在将芯片可测性代码的输出结果与预期结果进行对比，来对芯片可测性代码进行验证后，还包括：将输出结果、预期结果、对比结果和当前测试周期作为测试结果存储至硬件平台的预设内存中；根据测试结果生成分析报告。
23、本专利技术通过将测试结果进行存储，并生成分析报告，能够方便对芯片可测性代码进行进一步分析、验证或调试，本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种芯片可测性代码动态仿真测试系统，其特征在于，所述系统，包括：软件模块和仿真测试平台；
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述软件模块，包括：
3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述仿真测试平台，包括：
4.根据权利要求2或3所述的系统，其特征在于，
5.一种芯片可测性代码动态测试方法，其特征在于，基于权利要求1-4任一所述的系统对芯片可测性代码进行测试，所述测试方法，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述通过动态链接库对所述测试向量进行解析获得测试数据的过程，包括：
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述仿真测试平台按照当前测试周期内所述测试输入数据对芯片可测性代码进行测试的过程，包括：
8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述将所述芯片可测性代码的输出结果与所述预期结果进行对比，来对所述芯片可测性代码进行验证的过程，包括：
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，在将所述芯片可测性代码的输出结果与所述预期结果进行对比，来对所述芯
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，还包括：
...【技术特征摘要】
1.一种芯片可测性代码动态仿真测试系统，其特征在于，所述系统，包括：软件模块和仿真测试平台；
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述软件模块，包括：
3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述仿真测试平台，包括：
4.根据权利要求2或3所述的系统，其特征在于，
5.一种芯片可测性代码动态测试方法，其特征在于，基于权利要求1-4任一所述的系统对芯片可测性代码进行测试，所述测试方法，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述通过动态链接库对所述测试向量进行解析获...
【专利技术属性】
技术研发人员：洪志伟，朱鹏，
申请(专利权)人：上海合芯数字科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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