【技术实现步骤摘要】
本申请涉及计算机，尤其涉及一种用于芯片的测试方法、装置、设备及可读存储介质。
技术介绍
1、片上系统(system on chip，soc)是信息系统核心的芯片集成，soc中可集成微处理器、集成电路硬件模块和存储器(或片外存储控制接口)等元件，其凭借着集成度高、功耗低、成本低、体积小等优点，目前已成为超大规模集成电路系统设计的主流方向。
2、随着soc设计的复杂度大规模增加，单个时钟信号和单个复位信号无法满足soc设计的需求。为了满足soc中不同功能模块分别执行不同的时序逻辑的需求，目前，在soc中可以采用多个不同频率的时钟信号和复位信号，控制soc中的数字或模拟电路。并且，在soc投入实际使用之前，可以对soc的时钟信号和复位信号进行测试，以保证soc的可靠性。
3、目前，可以采用测试用例对时钟信号和复位信号的可靠性进行测试。
4、然而，soc中时钟信号和复位信号的数量十分庞大，对时钟信号和复位信号逐一进行测试需要用户手动配置大量测试用例。并且，一旦时钟信号或复位信号发生改变(如信号更名、信号增减)，就需要对测试用例的配置进行手动修改，不仅耗费人工，还极易造成测试用例出错，降低了对时钟信号和复位信号的测试效率。
5、基于此，本申请提供了一种用于芯片的测试方法。
技术实现思路
1、本申请提供一种用于芯片的测试方法、装置、设备及可读存储介质，以部分的解决现有技术存在的上述问题。
2、本申请采用下述技术方案：
3、
4、获取用于配置待测信号的第一配置信息以及用于生成测试用例的第二配置信息；
5、根据所述第一配置信息和所述第二配置信息，生成配置文件；
6、调用所述配置文件，根据所述第一配置信息生成各配置函数，并根据所述第二配置信息生成各测试用例，其中，所述配置函数用于生成所述待测信号，所述各测试用例用于对所述待测信号进行测试；
7、响应于获取到的测试请求，从所述各配置函数中选择目标配置函数，并调用所述目标配置函数，生成待测信号；
8、根据所述各测试用例对生成的待测信号进行测试，得到测试结果。
9、可选地，所述待测信号包括待测时钟信号，所述测试用例包括所述待测时钟信号的时钟测试用例；
10、根据所述第一配置信息和所述第二配置信息，生成配置文件，具体包括：
11、从所述第一配置信息中提取待测时钟信号的标识，以及生成所述待测时钟信号所需的时钟参数，并生成包含所述待测时钟信号的标识以及所述时钟参数的第一配置子文件；
12、获取所述待测时钟信号的若干待测任务，针对每个待测任务，从所述第二配置信息中提取该待测任务对应的时钟测试用例的配置信息；
13、根据该待测任务对应的时钟测试用例的配置信息，生成该待测任务对应的第二配置子文件；
14、根据所述第一配置子文件，以及各待测任务对应的第二配置子文件，生成配置文件。
15、可选地，所述待测信号包括待测复位信号，所述测试用例包括所述待测复位信号的复位测试用例；
16、根据所述第一配置信息和所述第二配置信息，生成配置文件，具体包括：
17、从所述第一配置信息中提取待测复位信号的标识，以及生成所述待测复位信号所需的复位参数，并生成包含所述待测复位信号的标识以及所述复位参数的第三配置子文件；
18、获取所述待测复位信号的若干待测任务，针对每个待测任务，从所述第二配置信息中提取该待测任务对应的复位测试用例的配置信息；
19、根据该待测任务对应的复位测试用例的配置信息，生成该待测任务对应的第四配置子文件；
20、根据所述第三配置子文件以及各待测任务对应的第四配置子文件，生成配置文件。
21、可选地，调用所述配置文件，根据所述第一配置信息生成各配置函数，并根据所述第二配置信息生成各测试用例，具体包括：
22、确定所述配置文件所在的目录；
23、将目标脚本存储在所述配置文件所在的目录下；
24、通过所述目标脚本调用所述配置文件，从所述配置文件中提取第一配置信息以及第二配置信息；
25、根据所述第一配置信息生成各配置函数；
26、通过所述目标脚本，根据所述第二配置信息生成各测试用例。
27、可选地，所述目标脚本包括目标测试函数的目标标识；
28、通过所述目标脚本，根据所述第二配置信息生成各测试用例，具体包括：
29、根据所述目标脚本中目标标识，从测试函数库中查找所述目标标识对应的目标测试函数；其中，所述目标测试函数用于针对待测信号的至少一个状态进行测试；
30、通过所述目标脚本，根据所述第二配置信息以及所述目标测试函数，生成各测试用例。可选地，根据所述第一配置信息和所述第二配置信息，生成配置文件之前，所述方法还包括：
31、获取目标测试函数的目标标识；
32、根据所述目标标识，从测试函数库中查找所述目标标识对应的目标测试函数；其中，所述目标测试函数用于针对待测信号的至少一个状态进行测试；
33、根据所述第一配置信息和所述第二配置信息，生成配置文件，具体包括：
34、根据所述第一配置信息、所述第二配置信息以及所述目标测试函数，生成配置文件；
35、根据所述第二配置信息生成各测试用例，具体包括：
36、根据所述第二配置信息以及所述目标测试函数，生成所述测试用例。
37、可选地，根据所述各测试用例对生成的待测信号进行测试，得到测试结果，具体包括：
38、从所述各测试用例中选择所述待测信号对应的目标用例；
39、根据所述目标用例中的目标测试函数，确定所述待测信号对应的各待测状态；
40、对所述待测信号对应的各待测状态分别进行测试，得到所述待测信号的测试结果。
41、本申请提供了一种用于芯片的测试装置，包括：
42、获取模块，用于获取用于配置待测信号的第一配置信息以及用于生成测试用例的第二配置信息；
43、配置文件生成模块，用于根据所述第一配置信息和所述第二配置信息，生成配置文件；
44、配置文件调用模块，用于调用所述配置文件，根据所述第一配置信息生成各配置函数，并根据所述第二配置信息生成各测试用例，其中，所述配置函数用于生成所述待测信号，所述各测试用例用于对所述待测信号进行测试；
45、待测信号生成模块，用于响应于获取到的测试请求，从所述各配置函数中选择目标配置函数，并调用所述目标配置函数，生成待测信号；
46、测试模块，用于根据所述各测试用例对生成的待测信号进行测试，得到测试结果。
47、本申请提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于芯片的测试方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测信号包括待测时钟信号，所述测试用例包括所述待测时钟信号的时钟测试用例；
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测信号包括待测复位信号，所述测试用例包括所述待测复位信号的复位测试用例；
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，调用所述配置文件，根据所述第一配置信息生成各配置函数，并根据所述第二配置信息生成各测试用例，具体包括：
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述目标脚本包括目标测试函数的目标标识；
6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第一配置信息和所述第二配置信息，生成配置文件之前，所述方法还包括：
7.如权利要求5或6任一所述的方法，其特征在于，根据所述各测试用例对生成的待测信号进行测试，得到测试结果，具体包括：
8.一种用于芯片的测试装置，其特征在于，包括：
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现
10.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现上述权利要求1～7任一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种用于芯片的测试方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测信号包括待测时钟信号，所述测试用例包括所述待测时钟信号的时钟测试用例；
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测信号包括待测复位信号，所述测试用例包括所述待测复位信号的复位测试用例；
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，调用所述配置文件，根据所述第一配置信息生成各配置函数，并根据所述第二配置信息生成各测试用例，具体包括：
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述目标脚本包括目标测试函数的目标标识；
6.如权利要求1所述的方法，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：摩尔线程智能科技北京有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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