【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片故障检测领域，更具体地，涉及一种主控芯片故障自动检测系统。
技术介绍
1、芯片故障是指芯片在工作中出现的异常现象,导致芯片无法正常工作，这种故障可能是由于芯片设计缺陷、制程问题、电压过高或过低、过热等原因引起的，
2、芯片故障可能导致系统崩溃、数据丢失、硬件损坏等问题,对电子设备的使用造成严重影响，因此，对芯片故障进行检测和修复是保障电子设备正常运行的重要措施。
3、长期以来，芯片故障检测主要依靠人工巡检和自动检测系统，人工巡检是指工作人员通过观察和测试来检查芯片是否正常工作，人工巡检效率低下，容易出错，现有的一些检测方法是基于指令基于指令的测试系统通过运行一系列预设的测试指令来检测芯片的功能和性能，这些指令可以在芯片外部生成，并通过外部测试设备发送给芯片，基于指令的测试系统可以检测芯片在不同指令下的运行状态，以发现故障；或使用边界扫描测试系统通过在芯片的输入输出端口上添加扫描单元，以检测芯片的边界条件下的故障，边界扫描测试系统可以检测芯片在极端条件下的性能，以及是否存在制造缺陷或老化问题，这种...
【技术保护点】
1.一种主控芯片故障自动检测系统，其特征在于，包括：数据采集模块（1）、数据处理模块（2）、故障诊断模块（3）、反馈调整模块（4）、可视化报告模块（5）、存储模块（6）和系统管理模块（7），所述系统管理模块（7）与存储模块（6）双向连接，所述数据采集模块（1）包括硬件采集子模块（11）和软件采集子模块（12），所述数据采集模块（1）负责从主控芯片实时采集各种参数数据；所述数据处理模块（2）负责对数据采集模块（1）采集的参数数据进行处理，并将参数数据转换成适合进行故障诊断的格式和类型；所述故障诊断模块（3）负责利用数据处理模块（2）处理后的参数数据来对主控芯片是否出现故...
【技术特征摘要】
1.一种主控芯片故障自动检测系统，其特征在于，包括：数据采集模块（1）、数据处理模块（2）、故障诊断模块（3）、反馈调整模块（4）、可视化报告模块（5）、存储模块（6）和系统管理模块（7），所述系统管理模块（7）与存储模块（6）双向连接，所述数据采集模块（1）包括硬件采集子模块（11）和软件采集子模块（12），所述数据采集模块（1）负责从主控芯片实时采集各种参数数据；所述数据处理模块（2）负责对数据采集模块（1）采集的参数数据进行处理，并将参数数据转换成适合进行故障诊断的格式和类型；所述故障诊断模块（3）负责利用数据处理模块（2）处理后的参数数据来对主控芯片是否出现故障进行诊断；所述反馈调整模块（4）根据故障诊断模块（3）的诊断结果为数据采集模块（1）和数据处理模块（2）提供反馈；所述可视化报告模块（5）负责生成可视化的报告和警报；所述存储模块（6）负责存储主控芯片的参数数据、故障诊断报告这些信息用于后续的数据分析和故障预测；所述系统管理模块（7）负责系统的配置、监控和管理，包括对各个模块的控制和协调，以及系统的安全性、稳定性和可用性的保障。
2.根据权利要求1所述的一种主控芯片故障自动检测系统，其特征在于，所述硬件采集子模块（11）包括电压传感器单元（111）、电流传感器单元（112）和温度传感器单元（113），所述硬件采集子模块（11）用于对主控芯片的外部运行参数进行采集。
3.根据权利要求1所述的一种主控芯片故障自动检测系统，其特征在于，所述软件采集子模块（12）采用mscan算法，所述软件采集子模块（12）用于...
【专利技术属性】
技术研发人员：何婉婷，
申请(专利权)人：广东全芯半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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