【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片设计领域，并且更具体地，涉及一种工程修改的装置和方法。
技术介绍
1、在芯片设计的过程中，设计工程师为了能够对最终生产出来的实体芯片进行测试筛片，需要在设计好的电气门级综合(synphysize，syn)网表中插入可测试性(design fortest，dft)电路，得到dft网表，基于dft网表进行布局布线操作，得到布局布线(place androute，pr)网表。但是，在芯片设计后期，若发现原有电路设计存在错误或者需要增加新的功能时，需要直接对上述pr网表进行修改，即进行工程修改。现阶段完成工程修改的方式是通过人工编写脚本，将新增的寄存器插入原有网表的扫描链。但是在网表规模较大的情况下，通过人工编写脚本新增寄存器的方式工作量巨大，效率低，脚本通用性差，并且难以实现。
2、因此，如何解决当前工程修改方式的修改效率低，通用性差的问题是现阶段亟需解决的技术问题。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种工程修改的装置和方法，以解决当前工程修改方式的修改效率低，通用性
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1.一种工程修改的装置，其特征在于，包括：搜索单元和第一操作单元；
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述搜索单元进行第一搜索处理包括：
3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，所述装置还包括第一处理单元，在所述搜索单元在所述第二SYN网表中搜索到多个相似寄存器时，
4.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，当所述第一搜索处理结果为未搜索到所述已串链于所述第一扫描链的相似寄存器时，
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述搜索单元扩大所述第一搜索处理的搜索范围包括：
6.根据权利要求1...
【技术特征摘要】
1.一种工程修改的装置，其特征在于，包括：搜索单元和第一操作单元；
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述搜索单元进行第一搜索处理包括：
3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，所述装置还包括第一处理单元，在所述搜索单元在所述第二syn网表中搜索到多个相似寄存器时，
4.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，当所述第一搜索处理结果为未搜索到所述已串链于所述第一扫描链的相似寄存器时，
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述搜索单元扩大所述第一搜索处理的搜索范围包括：
6.根据权利要求1至5中任一项所述的装置，其特征在于，所述用于dft的端口包括：时钟clk端口、扫描使能se端口、复位rst端口。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：第二处理单元和第二操作单元；
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述根据所述第二寄存器的所述例化层次，分别对同组的所述第二寄存器进行排序包括：
9.根据权利要求7或8所述的装置，其特征在于，所述第二操作单元将经过所述分组和所述排序后的所述第二寄存器依次插入所述第一扫描链中包括：
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述确定每条所述第一扫描链的第三数量包括：
11.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述确定每条所述第一扫描链的第三数量包括：
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