【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及温度传感器检测，尤其涉及一种温度传感器质量检测系统。
技术介绍
1、温度传感器的工作过程通常包括感应当前的工作温度，并将感应到的温度直接传送给系统控制集成电路，以精准获取所需采集的环境温度，对环境温度进行精确采集，温度传感器质量检测是用于对温度传感器进行质量检测和性能评估的流程，帮助生产厂家或使用者确保温度传感器的准确性、稳定性和可靠性。但目前的温度传感器质量检测大多是在温度传感器投入使用前对温度传感器的生产质量进行检测，未对在处于工作状态的温度传感器进行质量检测，无法在温度传感器采集数据出现异常时进行告警，导致数据采集不准确，温度传感器的质量检测效率低。
2、中国专利公开号：cn114136495a公开了一种温度传感器的质量检测设备，涉及温度传感器的生产加工的
，包括发热盒，设置于检测台上，该发热盒相背的两个侧壁上分别设置有若干检测孔；电热板，设置于发热盒内；两个移动板，可移动的设置于检测台上，且两个移动板分设于发热盒的相背的两侧；两个定位板，分别可拆卸与移动板连接；若干卡座，分设于两个该定位板上；其中，该卡座的卡槽正对检测孔。但该方案仅对温度传感器投入使用前对温度传感器进行静态的生产质量检测，未对在处于工作状态的温度传感器进行动态实时质量检测，无法在温度传感器实时采集数据出现异常时进行告警，温度传感器的质量检测效率低的问题。
技术实现思路
1、为此，本专利技术提供一种温度传感器质量检测系统，用以克服现有技术中未对在处于工作状态的温度传感器进行动态
2、为实现上述目的，一方面，本专利技术提供一种温度传感器质量检测系统，包括：
3、实时采集模块，用以对温度传感器工作环境的电磁场强度进行实时采集，还用以对温度传感器的实时温度和工作时长进行采集；
4、质量分析模块，用以根据目标温度传感器的实时温度对目标温度传感器的失真情况进行分析，还用以根据目标温度传感器的实时温度对目标温度传感器的实时工作限度进行判断，并根据判断结果对目标温度传感器的失真情况的分析过程进行修正，还用以根据目标温度传感器工作环境的电磁场强度和工作时长对目标温度传感器的工作环境进行分析，并根据分析结果对修正过程进行调整；
5、质量判断模块，用以在目标温度传感器存在失真时，根据备用温度传感器的实时温度和目标温度传感器的实时温度对故障目标温度传感器数量进行判断，还用以在只存在一个故障温度传感器时，对该故障温度传感器进行判断；
6、自适应调节模块，用以根据故障目标温度传感器的数量对备用温度传感器进行启用，以对故障目标温度传感器进行自适应调节；
7、监测告警模块，用以将故障目标温度传感器推送给用户，还用以根据剩余备用温度传感器数量进行安全告警；
8、反馈补偿模块，用以根据故障目标温度传感器的报废率对故障目标温度传感器的质量分析结果进行评估，并根据评估结果对温度传感器的质量分析过程进行补偿。
9、进一步地，质量分析模块设有失真分析单元，其根据目标温度传感器的温度差对目标温度传感器的失真情况进行判断；
10、所述失真分析单元根据第一目标温度传感器的实时温度t1和第二目标温度传感器的实时温度t2计算目标温度传感器的温度差△t，设定△t=t1-t2，所述失真分析单元将目标温度传感器的温度差△t与预设目标温度传感器的温度差△t0进行比对，并根据比对结果对目标温度传感器的失真情况进行判断，其中：
11、当△t≤△t0时，所述失真分析单元判定目标温度传感器不存在失真；
12、当△t＞△t0时，所述失真分析单元判定目标温度传感器存在失真。
13、进一步地，质量分析模块设有超限分析单元，所述超限分析单元根据第一目标温度传感器的实时温度t1和第二目标温度传感器的实时温度t2计算平均目标温度t12，设定t12=（t1+t2）/2，所述超限分析单元将平均目标温度t12与各预设平均目标温度进行比对，并根据比对结果对目标温度传感器的实时工作限度进行判断，其中：
14、当t12＜t121时，所述超限分析单元判定目标温度传感器的实时工作限度超出范围；
15、当t121≤t12≤t122时，所述超限分析单元判定目标温度传感器的实时工作限度未超出范围；
16、当t12＞t122时，所述超限分析单元判定目标温度传感器的实时工作限度超出范围；
17、所述超限分析单元在目标温度传感器的实时工作限度超出范围时，将目标温度传感器不存在失真的结果修正为存在失真。
18、进一步地，质量分析模块设有环境分析单元，所述环境分析单元将目标温度传感器工作环境的电磁场强度b和工作时长c计算工作环境系数a，设定a=（b/b0+c/c0）/2，b0为预设电磁场强度，c0为预设工作时长，所述环境分析单元根据工作环境系数a对目标温度传感器的工作环境进行分析，其中：
19、当a≤1时，所述环境分析单元判定目标温度传感器的工作环境正常；
20、当a＞1时，所述环境分析单元判定目标温度传感器的工作环境异常，并设定修正系数d，设定d=1+max(0,(b-b0)/2×√b0×(√b-1))+max(0,(c-c0)/(c0+0.1)×(√c-1))+sin(logb+logc)/2，根据修正系数对平均目标温度t12进行调整，调整后的平均目标温度为td12，设定td12=t12×d。
21、进一步地，所述质量判断模块设有控制判断单元，所述控制判断单元在目标温度传感器存在失真时，开启第一备用温度传感器，根据第一备用温度传感器的实时温度t3与第一目标温度传感器的实时温度t1和第二目标温度传感器的实时温度t2计算第一质量温差t13和第二质量温差t23，设定t13=|t1-t3|,t23=|t2-t3|，所述控制判断单元根据第一质量温差t13和第二质量温差t23计算平均质量温差t123，设定t123=（t12+t23）/2，并将平均质量温差t123与预设平均质量温差t40进行比对，根据比对结果对故障目标温度传感器数量进行判断，其中：
22、当t123≤t40时，所述控制判断单元判定故障目标温度传感器数量为2个，第一目标温度传感器和第二目标温度传感器都存在故障；
23、当t123＞t40时，所述控制判断单元判定故障目标温度传感器数量为1个。
24、进一步地，所述质量判断模块设有故障定位单元，所述故障定位单元在只存在一个故障温度传感器时，将第一质量温差t13和第二质量温差t23进行比对，并根据比对结果对该故障温度传感器进行判断，其中：
25、当t13＞t23时，所述故障定位单元判定该故障温度传感器为第一目标故障温度传感器；
26、当t13＜t23时，所述故障定位单元判定该故障温度传感器为第二目标故障温度传感器。
27、进本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种温度传感器质量检测系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的温度传感器质量检测系统，其特征在于，质量分析模块设有失真分析单元，其根据目标温度传感器的温度差对目标温度传感器的失真情况进行判断；
3.根据权利要求2所述的温度传感器质量检测系统，其特征在于，质量分析模块设有超限分析单元，所述超限分析单元根据第一目标温度传感器的实时温度T1和第二目标温度传感器的实时温度T2计算平均目标温度T12，设定T12=（T1+T2）/2，所述超限分析单元将平均目标温度T12与各预设平均目标温度进行比对，并根据比对结果对目标温度传感器的实时工作限度进行判断，其中：
4.根据权利要求3所述的温度传感器质量检测系统，其特征在于，质量分析模块设有环境分析单元，所述环境分析单元将目标温度传感器工作环境的电磁场强度B和工作时长C计算工作环境系数A，设定A=（B/B0+C/C0）/2，B0为预设电磁场强度，C0为预设工作时长，所述环境分析单元根据工作环境系数A对目标温度传感器的工作环境进行分析，其中：
5.根据权利要求1所述的温度传感器质量检测系统
6.根据权利要求5所述的温度传感器质量检测系统，其特征在于，所述质量判断模块设有故障定位单元，所述故障定位单元在只存在一个故障温度传感器时，将第一质量温差T13和第二质量温差T23进行比对，并根据比对结果对该故障温度传感器进行判断，其中：
7.根据权利要求1所述的温度传感器质量检测系统，其特征在于，所述自适应调节模块根据故障目标温度传感器的数量和故障的目标温度传感器对备用温度传感器进行启用，其中：
8.根据权利要求1所述的温度传感器质量检测系统，其特征在于，所述监测告警模块将故障目标温度传感器推送给用户，并获取剩余备用温度传感器数量n，将剩余备用温度传感器数量n与预设剩余备用温度传感器数量n0进行比对，根据比对结果进行安全告警，其中：
9.根据权利要求1所述的温度传感器质量检测系统，其特征在于，所述反馈补偿模块设有报废率计算单元，所述报废率计算单元获取故障目标温度传感器推送给用户后，用户反馈的故障目标温度传感器的报废结果，并根据反馈周期内的故障目标温度传感器的报废数量M和反馈周期内的故障目标温度传感器的数量U计算故障目标温度传感器的报废率P，设定P=M/U。
10.根据权利要求9所述的温度传感器质量检测系统，其特征在于，所述反馈补偿模块设有结果评估单元，所述结果评估单元将故障目标温度传感器的报废率P与预设故障目标温度传感器的报废率P0进行比对，并根据比对结果对故障目标温度传感器的质量分析结果进行评估，其中：
...【技术特征摘要】
1.一种温度传感器质量检测系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的温度传感器质量检测系统，其特征在于，质量分析模块设有失真分析单元，其根据目标温度传感器的温度差对目标温度传感器的失真情况进行判断；
3.根据权利要求2所述的温度传感器质量检测系统，其特征在于，质量分析模块设有超限分析单元，所述超限分析单元根据第一目标温度传感器的实时温度t1和第二目标温度传感器的实时温度t2计算平均目标温度t12，设定t12=（t1+t2）/2，所述超限分析单元将平均目标温度t12与各预设平均目标温度进行比对，并根据比对结果对目标温度传感器的实时工作限度进行判断，其中：
4.根据权利要求3所述的温度传感器质量检测系统，其特征在于，质量分析模块设有环境分析单元，所述环境分析单元将目标温度传感器工作环境的电磁场强度b和工作时长c计算工作环境系数a，设定a=（b/b0+c/c0）/2，b0为预设电磁场强度，c0为预设工作时长，所述环境分析单元根据工作环境系数a对目标温度传感器的工作环境进行分析，其中：
5.根据权利要求1所述的温度传感器质量检测系统，其特征在于，所述质量判断模块设有控制判断单元，所述控制判断单元在目标温度传感器存在失真时，开启第一备用温度传感器，根据第一备用温度传感器的实时温度t3与第一目标温度传感器的实时温度t1和第二目标温度传感器的实时温度t2计算第一质量温差t13和第二质量温差t23，设定t13=|t1-t3|,t23=|t2-t3|，所述控制判断单元根据第一质量温差t13和第二质量温差t23计算平均质量温差t123，设定t123=（t12...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈伦权，于涛，徐丽丽，
申请(专利权)人：潍坊宏图环保设备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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