【技术实现步骤摘要】
本揭露涉及一种检测电子元件的方法以及电子装置。
技术介绍
1、目前采用外观检测(例如用光学显微镜)方式观察转移后的电子元件是否坐落不正或位置偏移，但此种检测方式难以确认每一个电子元件的接合状况。
技术实现思路
1、本揭露提供一种检测电子元件的方法以及电子装置，其有助于确认或提升电子元件的接合度。
2、根据本揭露的实施例，检测电子元件的方法包括：提供多个电子元件，其中多个电子元件包括沿着第一方向排列的第一群电子元件以及沿着第一方向排列的第二群电子元件；提供多条信号线，其中多条信号线分别在第一方向上延伸且包括第一信号线以及第二信号线，第一群电子元件经由第一群开关元件而与第一信号线电性连接，第二群电子元件经由第二群开关元件而与第二信号线电性连接；在第一时间内，开启第一群开关元件，使得第一群电子元件致能，以决定第一群电子元件的测试结果；以及在第二时间内，开启第二群开关元件，使得第二群电子元件致能，以决定第二群电子元件的测试结果。
3、根据本揭露的实施例，电子装置包括多个电子元件、多条信号线、检测结构、基板以及第一驱动元件。多个电子元件包括沿着第一方向排列的第一群电子元件以及沿着第一方向排列的第二群电子元件。多条信号线分别在第一方向上延伸且包括第一信号线以及第二信号线，其中第一群电子元件经由第一群开关元件而与第一信号线电性连接，第二群电子元件经由第二群开关元件而与第二信号线电性连接。检测结构电性连接于第一群电子元件以及第二群电子元件。多个电子元件设置在基板上且位于基板
4、为让本揭露的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。
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1.一种检测电子元件的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的检测电子元件的方法，其特征在于，在所述第一时间内，开启所述第一群开关元件，使得所述第一群电子元件发光。
3.根据权利要求1所述的检测电子元件的方法，其特征在于，在所述第一时间内，对所述第一群电子元件提供正向偏置电压。
4.根据权利要求1所述的检测电子元件的方法，其特征在于，在所述第一时间内，对所述第一群电子元件中的一个电子元件的第一端以及第二端分别提供公共电压以及数据电压。
5.根据权利要求1所述的检测电子元件的方法，其特征在于，还包括：
6.根据权利要求1所述的检测电子元件的方法，其特征在于，所述多个电子元件为多个二极管。
7.一种电子装置，其特征在于，包括：
8.根据权利要求7所述的电子装置，其特征在于，所述检测结构用于对所述第一群电子元件中的一个电子元件的第一端提供公共电压以及对所述电子元件的第二端提供数据电压。
9.根据权利要求7所述的电子装置，其特征在于，还包括：
10.根据权利要求7所述的电
...【技术特征摘要】
1.一种检测电子元件的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的检测电子元件的方法，其特征在于，在所述第一时间内，开启所述第一群开关元件，使得所述第一群电子元件发光。
3.根据权利要求1所述的检测电子元件的方法，其特征在于，在所述第一时间内，对所述第一群电子元件提供正向偏置电压。
4.根据权利要求1所述的检测电子元件的方法，其特征在于，在所述第一时间内，对所述第一群电子元件中的一个电子元件的第一端以及第二端分别提供公共电压以及数据电压。
5.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄治富，
申请(专利权)人：群创光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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