【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及测量系统。
技术介绍
1、各种自动控制设备为了识别对象物而将标记安装于对象物从而实现高精度的自动控制。这样的标记例如被用于生产现场中的机器人的控制，或者用于宇宙任务。
2、以往，作为这样的标记的例子，出于能够简单地制作这样的理由，广泛使用在纸上印刷有记号的标记。但是，在这样的简易的标记中，在记号的边界线不清晰、或者记号的大小或多个记号的间隔因纸的伸缩而变化从而需要高精度的控制的情况下，无法确保充分的精度。
3、因此，作为实现高精度的标记的技术，在专利文献1中公开了通过切削加工在金属板上开孔并埋入树脂来作为标记的技术。但是，在专利文献1的技术中，由于需要使机械加工的精度为高精度，因此标记物的制作会花费大量的工夫，另外，在提高精度上也存在极限。
4、现有技术文献
5、专利文献
6、专利文献1：日本特开平5-312521号公报
技术实现思路
1、专利技术所要解决的课题
2、本专利技术的课题在于提供一种标记容易制造且能够进行高精度的测量的测量系统。
3、用于解决课题的手段
4、本专利技术通过以下的解决手段解决上述课题。此外，为了容易理解，标注与本专利技术的实施方式对应的标号进行说明，但并不限定于此。
5、第1专利技术是测量系统(500)，其具备：标记(1、1b、1c)；拍摄部(201)，其拍摄所述标记(1、1b、1c)；以及运算部(202)，其使用由所述拍摄部(201)
6、第2专利技术是测量系统(500)，其特征在于，根据第1专利技术所述的测量系统(500)，所述第1层(20、20c)由抗蚀剂材料构成。
7、第3专利技术是测量系统(500)，其具备：标记(1、1b、1c)；拍摄部(201)，其拍摄所述标记(1、1b、1c)；以及运算部(202)，其使用由所述拍摄部(201)拍摄到的所述标记(1、1b、1c)的图像，来运算所述拍摄部(201)与所述标记(1、1b、1c)的相对位置关系、所述标记(1、1b、1c)的附近的物体的尺寸或指定位置间的距离、配置有多个的所述标记(1、1b、1c)之间的距离、以及所述标记(1、1b、1c)的姿势中的至少一个，其中，所述标记(1、1b、1c)具备：基材层(10)；第1层(20、20c)，其层叠于所述基材层(10)的观察侧，且层叠于所述基材层(10)的整个面上，被观察为的第1颜色；以及第2层(30、30c)，其局部地层叠于所述第1层(20、20c)的观察侧，被观察为与所述第1颜色不同的第2颜色，并且局部地遮蔽所述第1层(20、20c)，所述第1层(20、20c)在未层叠所述第2层(30、30c)的区域中能够被观察到，所述基材层(10)的线膨胀系数为10×10-6/℃以下。
8、第4专利技术是测量系统(500)，其特征在于，在第1专利技术至第3专利技术中的任意一项所述的测量系统(500)，所述基材层(10)由玻璃构成。
9、第5专利技术是一种测量系统(500)，其特征在于，在第1专利技术至第4专利技术中的任意一项所述的测量系统(500)中，所述第1层(20、20c)和所述第2层(30、30c)中的一方能够作为独立的形状的记号(2)来被观察，所述记号(2)隔开间隔地配置有3个以上。
10、第6专利技术是一种测量系统(500)，其特征在于，在第5专利技术所述的测量系统(500)中，配置有用于识别的图形(5)，所述运算部(202)参照所述图形(5)来识别所述标记(1、1b、1c)。
11、第7专利技术是一种测量系统(500)，其特征在于，在第6专利技术所记载的测量系统(500)中，所述运算部(202)进行如下的运算处理：第1运算处理，在所述第1运算处理中，基于所述标记(1)的图像所包含的所述记号(2)的图像，来运算所述拍摄部(201、450)与所述标记(1)的相对位置关系、所述标记(1)的附近的物体的尺寸或指定位置间的距离、配置有多个的所述标记(1)之间的距离、以及所述标记(1)的姿势中的至少一个；以及第2运算处理，在所述第2运算处理中，基于所述标记(1)的图像所包含的用于所述识别的图形(5)的图像，来运算所述拍摄部(201、450)与所述标记(1)的相对位置关系、所述标记(1)的附近的物体的尺寸或指定位置间的距离、配置有多个的所述标记(1)之间的距离、以及所述标记(1)的姿势中的至少一个。
12、第8专利技术是一种测量系统(500)，其特征在于，在第7专利技术所述的测量系统(500)中，所述运算部(202)在能够通过所述第1运算处理适当地进行运算的情况下输出所述第1运算处理的运算结果，在不能通过所述第1运算处理适当地进行运算的情况下输出所述第2运算处理的运算结果。
13、第9专利技术是一种测量系统(500)，其特征在于，在第8专利技术所述的测量系统(500)中，所述运算部(202)并行地进行所述第1运算处理和所述第2运算处理。
14、第10专利技术是一种测量系统(500)，其特征在于，在第1专利技术至第3专利技术中的任意一项所述的测量系统(500)中，具备控制部(203)，所述控制部(203)基于所述运算部(202)的运算结果来进行控制。
15、第11专利技术是第1专利技术至第3专利技术中的任意一项所述的测量系统(500)的测量方法，其中，所述测量系统(500)的测量方法具备以下步骤：所述拍摄部(201)拍摄所述标记(1、1b、1c)；以及，所述运算部(202)使用由所述拍摄部(201)拍摄到的所述标记(1、1b、1c)的图像，来运算所述拍摄部(201)与所述标记(1、1b、1c)的相对位置关系、所述标记(1、1b、1c)的附近的物体的尺寸或指定位置间的距离、配置有多个的所述标记(1、1b、1c)之间的距离、以及所述标记(1、1b、1c)的姿势中的至少一个。
16、第12专利技术是第1专利技术至第3专利技术中的任意一项所述的测量系统(500)的程序，其中，所述测量系统(500)的程序用于使计算机(202、203)执行以下步骤：所述拍摄部(201)拍摄所述标记(1、1b、1c)；以及，所述运算部(202)使用由所述拍摄部(201)拍摄到的所述标记(1、1b、1c)的图像，来运算所述拍摄部(本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种测量系统，其具备：
2.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，
3.一种测量系统，其具备：
4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的测量系统，其特征在于，
5.根据权利要求1至3中的任意一项所述的测量系统，其特征在于，
6.根据权利要求5所述的测量系统，其特征在于，
7.根据权利要求6所述的测量系统，其特征在于，
8.根据权利要求7所述的测量系统，其特征在于，
9.根据权利要求8所述的测量系统，其特征在于，
10.根据权利要求1至3中的任意一项所述的测量系统，其特征在于，
11.一种测量系统的测量方法，其是权利要求1至3中的任意一项所述的测量系统的测量方法，其中，
12.一种测量系统的程序，其是权利要求1至3中的任意一项所述的测量系统的程序，其中，
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种测量系统，其具备：
2.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，
3.一种测量系统，其具备：
4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的测量系统，其特征在于，
5.根据权利要求1至3中的任意一项所述的测量系统，其特征在于，
6.根据权利要求5所述的测量系统，其特征在于，
7.根据权利要求6所述的测量系统，其特征在于，<...
【专利技术属性】
技术研发人员：鹿岛启二，古川正，大川晃次郎，谷口幸夫，藤崎英明，
申请(专利权)人：大日本印刷株式会社，
类型：发明
国别省市：
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