【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及图像处理，特别涉及一种图像去坏点的方法及装置、电子设备。
技术介绍
1、图像质量的好坏的判定指标很多，其中图像坏点是影响图像质量的重要指标，其会直接影响人们对图像的视觉感官和判断。图像的坏点成因主要包括：传感器像素的制造缺陷、颜色滤镜的制造缺陷、高温低照条件下的暗电流不均匀等。
2、由于现有的图像传感器通常采用拜尔阵列作为坏点校准的基础，因此，现有常规对图像去坏点采用同色通道作为基础，如ryyb、w8g4b2r2等通道组合。现有的各种同色通道组合有两个特征不变：①有一个通道始终占据50％的像素总量，以保证基础分辨率；②r和b通道始终存在，以保证可见光的高频部分和低频部分均能够满足性能需求。
3、随着芯片集成度越来越高，很多图像传感器自身搭载有图像去坏点技术。图像去坏点技术的评价指标主要包括有存储资源、运算资源、去坏点率和误杀率。然而，现有的图像去坏点技术，为了提高去坏点率或降低误杀率，通常需要占用较大的存储资源和运算资源；而在芯片面积有限，即存储资源和运算资源有限的前提下，坏点率的提升和误杀率的降低都极为困难。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种图像去坏点的方法及装置、电子设备，以解决现有图像去坏点的方法无法在保证图像去坏点效果的同时，不占用过多资源的问题。
2、为解决上述技术问题，本专利技术提供一种图像去坏点的方法，包括：
3、将图像的像素按颜色占比进行通道分类，以将不同颜色的像素的像素数据归纳至不同的通道
4、将各个通道的像素数据进行存储；
5、根据当前像素的坐标，确认当前坏点判断窗口；
6、将当前坏点判断窗口内的像素数据按预设方式进行排序；
7、根据当前像素数据在排序后的像素数据中的位置，对当前像素数据进行处理，以去除坏点。
8、可选的，在所述的图像去坏点的方法中，所述将图像的像素按颜色占比进行通道分类，以将不同颜色的像素的像素数据归纳至不同的通道的方法包括：
9、将占总数比例最大的颜色的像素的像素数据归纳至第一通道；
10、将其他颜色的像素的像素数据归纳至其他通道。
11、可选的，在所述的图像去坏点的方法中，所述将各个通道的像素数据进行存储的方法包括：
12、将第一通道的像素数据进行n行压缩存储，其中，n≥1；
13、将当前行及其左右相邻m列的像素数据进行存储，其中，m≥2。
14、可选的，在所述的图像去坏点的方法中，所述根据当前像素的坐标，确认当前坏点判断窗口的方法包括：
15、若当前像素的坐标为a行b列，则将a-n行至a行、b-m列至b+m列的像素数据作为当前坏点判断窗口。
16、可选的，在所述的图像去坏点的方法中，所述将当前坏点判断窗口内的像素数据按预设方式进行排序的方法包括：
17、按从小到大的顺序，对当前坏点判断窗口内的第一通道的像素数据进行排序，以得到第一序列，所述第一序列表示为：d11,d12,…,d1x,…d1y,…d1n；
18、按从小到大的顺序，对当前坏点判断窗口内的其他通道的像素数据按通道分别进行排序，以得到至少一个第二序列，所述第二序列表示为：d21,d22,…,d2x,…d2y,…d2n。
19、可选的，在所述的图像去坏点的方法中，所述根据当前像素数据在排序后的像素数据中的位置，对当前像素数据进行处理，以去除坏点的方法包括：
20、设置第一通道的数据范围，其中，设d1x为第一最小阈值，d1y为第一最大阈值，d11≤d1x＜d1y≤d1n；设置其他通道的数据范围，其中，设d2x为第二最小阈值，d2y为第二最大阈值，d21≤d2x＜d2y≤d2n；
21、当当前像素属于第一通道时，若当前像素数据位于第一最小阈值d1x和第一最大阈值d1y之间，则当前像素数据不变，否则，利用第一预期值替代当前像素数据；
22、当当前像素属于其他通道时，若当前像素数据位于第二最小阈值d2x和第二最大阈值d2y之间，则当前像素数据不变，否则，利用第二预期值替代当前像素数据。
23、可选的，在所述的图像去坏点的方法中，所述第一预期值通过同色比较法或相邻像素均值法求取；所述第二预期值通过同色比较法、混合插值法或相邻像素均值法求取。
24、可选的，在所述的图像去坏点的方法中，在求取到第一预期值或第二预期值之后，在求取到的第一预期值或第二预期值上加上一个固定值，或在求取到的第一预期值或第二预期值上乘以一个固定系数，以得到最终的第一预期值或第二预期值。
25、为解决上述技术问题，本专利技术还提供一种图像去坏点的装置，用于实现如上任一项所述的图像去坏点的方法，所述图像去坏点的装置包括：数据通道选择模块，用于将图像的像素输出按颜色占比进行通道分类，以将不同颜色的像素归纳至不同的通道；数据存储模块，用于根据像素数据所处的通道对像素数据分类存储；坏点算法模块，用于对当前像素是否为坏点进行判断，并对判断为坏点的像素进行处理；数据输出模块，用于输出坏点处理后的像素数据。
26、为解决上述技术问题，本专利技术还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并能够由所述处理器运行的可执行程序；所述处理器运行所述可执行程序时执行如上任一项所述的图像去坏点的方法。
27、本专利技术提供的图像去坏点的方法及装置、电子设备，包括：将图像的像素按颜色占比进行通道分类，以将不同颜色的像素的像素数据归纳至不同的通道；将各个通道的像素数据进行存储；根据当前像素的坐标，确认当前坏点判断窗口；将当前坏点判断窗口内的像素数据按预设方式进行排序；根据当前像素数据在排序后的像素数据中的位置，对当前像素数据进行处理，以去除坏点。通过对图像像素进行通道分类，对不同通道的像素分别进行存储并按照排序判断是否为坏点，使得能够在使用较少存储资源和运算资源的同时，提高去坏点的准确率和速率，解决了现有图像去坏点的方法无法在保证图像去坏点效果的同时，不占用过多资源的问题。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种图像去坏点的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的图像去坏点的方法，其特征在于，所述将图像的像素按颜色占比进行通道分类，以将不同颜色的像素的像素数据归纳至不同的通道的方法包括：
3.根据权利要求2所述的图像去坏点的方法，其特征在于，所述将各个通道的像素数据进行存储的方法包括：
4.根据权利要求3所述的图像去坏点的方法，其特征在于，所述根据当前像素的坐标，确认当前坏点判断窗口的方法包括：
5.根据权利要求1所述的图像去坏点的方法，其特征在于，所述将当前坏点判断窗口内的像素数据按预设方式进行排序的方法包括：
6.根据权利要求5所述的图像去坏点的方法，其特征在于，所述根据当前像素数据在排序后的像素数据中的位置，对当前像素数据进行处理，以去除坏点的方法包括：
7.根据权利要求6所述的图像去坏点的方法，其特征在于，所述第一预期值通过同色比较法或相邻像素均值法求取；所述第二预期值通过同色比较法、混合插值法或相邻像素均值法求取。
8.根据权利要求7所述的图像去坏点的方法，其特征在于，在求取到
9.一种图像去坏点的装置，用于实现如权利要求1～8任一项所述的图像去坏点的方法，其特征在于，所述图像去坏点的装置包括：
10.一种电子设备，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在存储器上并能够由所述处理器运行的可执行程序；所述处理器运行所述可执行程序时执行如权利要求1～8任一项所述的图像去坏点的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种图像去坏点的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的图像去坏点的方法，其特征在于，所述将图像的像素按颜色占比进行通道分类，以将不同颜色的像素的像素数据归纳至不同的通道的方法包括：
3.根据权利要求2所述的图像去坏点的方法，其特征在于，所述将各个通道的像素数据进行存储的方法包括：
4.根据权利要求3所述的图像去坏点的方法，其特征在于，所述根据当前像素的坐标，确认当前坏点判断窗口的方法包括：
5.根据权利要求1所述的图像去坏点的方法，其特征在于，所述将当前坏点判断窗口内的像素数据按预设方式进行排序的方法包括：
6.根据权利要求5所述的图像去坏点的方法，其特征在于，所述根据当前像素数据在排序后的像素数据中的位置，对当前像素数据进行处理，以去除坏点的方法包括：
...【专利技术属性】
技术研发人员：陈正，蔡化，陈飞，高菊，夏天，
申请(专利权)人：成都微光集电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。