一种鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及一种鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法及系统，该方法包括：1)记录测量过程中的所有信号波形；2)得到各信号波形脉冲的峰值；3)得到脉冲上升过程中到达50％峰值位置的时间T<subgt;start</subgt;，以及脉冲下降过程中到达50％峰值的时间T<subgt;end</subgt;；4)计算得到各信号波形的脉冲宽度T＝T<subgt;end</subgt;‑T<subgt;start</subgt;；5)比较脉冲宽度T与设定值的大小，从而区分信号波形对应的为γ射线信号还是α粒子信号。本发明专利技术基于α粒子和γ射线在氟化钡探测器中信号波形脉冲宽度的不同，对这两种类型的粒子进行鉴别，从而提高氟化钡探测器在宽能区α粒子和γ射线的鉴别能力，有效去除α粒子本底，提高效应本底比，提升氟化钡探测器的性能，节约数据存储空间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于γ射线探测技术，具体涉及一种鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法及系统。

技术介绍

1、氟化钡探测器是一种常用的无机闪烁体探测器，用于gamma射线(γ射线)的探测，广泛的应用于核数据、核天体物理、核医学等领域。它对γ射线探测效率高，具有能量分辨率好、时间分辨率好、中子灵敏度低的优点。同时氟化钡探测器中有天然放射性本底alpha粒子(α粒子)的存在，这是由镭元素的衰变产生的。镭与钡是同族元素，目前的生产工艺很难把氟化钡晶体原料中的镭杂质去除干净，因此在使用氟化钡探测器测量较宽能区(0.5mev～10mev)的γ射线时，能够更好把α粒子信号从γ射线信号中鉴别出来，具有很重要的意义。

2、目前鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法主要有两种：一种是直接通过两种粒子在探测器中的沉积能量来区分，镭元素衰变过程中会产生4种能量的α粒子在氟化钡探测器中沉积的能量范围是1.3mev～3.4mev，在此能量范围外的γ射线才能被区分出来。

3、另一种方法是采用快总成分比来鉴别两种粒子。氟化钡探测器有两种发光成分：其中快成分的光衰减时间本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.如权利要求1所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法，其特征在于，步骤1)中采用FlashADC高速采集卡记录信号波形，波形的横坐标为采样时长，纵坐标为脉冲幅度。

3.如权利要求1所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法，其特征在于，步骤3)中采用插值计算的方式得到脉冲上升过程中到达50％峰值位置的时间Tstart，以及脉冲下降过程中到达50％峰值的时间Tend。

4.如权利要求1所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法，其特征在于，步骤5)中所述的设定值的取值...

【技术特征摘要】

1.一种鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.如权利要求1所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法，其特征在于，步骤1)中采用flashadc高速采集卡记录信号波形，波形的横坐标为采样时长，纵坐标为脉冲幅度。

3.如权利要求1所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法，其特征在于，步骤3)中采用插值计算的方式得到脉冲上升过程中到达50％峰值位置的时间tstart，以及脉冲下降过程中到达50％峰值的时间tend。

4.如权利要求1所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法，其特征在于，步骤5)中所述的设定值的取值范围为20-50ns。

5.如权利要求1-4中任意一项所述的鉴别氟化钡探测器中α粒子和γ射线的方法，其特征在于，步骤5)中数据获取模块只记录γ射线信号，将α粒子信号舍弃。

6.一种鉴别氟化钡探测器中α粒...

【专利技术属性】
技术研发人员：张奇玮，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：