一种用于后处理料液的在线XRF分析装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于后处理料液的在线XRF分析装置，包括高压电源、X射线产生单元、测量管、探测器及测量辅助系统，高压电源给分析装置供电，X射线产生单元产生X射线以激发测量管中的待测溶液产生特征X射线；探测器接收测量管内产生的特征X射线，对接收的特征X射线进行测量，并将测量结果传输给测量辅助系统，测量辅助系统对测量数据进行分析，计算测量结果并上报数据；X射线产生单元和测量管的连线与探测器和测量管的连线相交。采用本发明专利技术中公开的分析装置，能够实现工艺料液中特定组分浓度的实时、在线测量，且为无损分析，能够将测量结果实时传输到主控室，并且能够有效屏蔽工艺料液的辐射，也能避免外界环境对样品造成的影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于辐射分析领域，具体涉及一种用于后处理料液的在线xrf分析装置。

技术介绍

1、x射线荧光仪是后处理生产和研究中的常用的分析仪器，其常根据xrf(x-rayfluorescence，x射线荧光)分析后处理料液的浓度。

2、后处理分析技术是后处理技术的重要组成部分，后处理过程能否长期稳定运行，不但取决于后处理工艺自身的稳定性和设备的可靠性，还取决于分析监测技术的可靠性和及时性。在线分析技术都是从后处理分析核心技术中具有无损特征的分析技术发展而来，是将核心技术用于某个工艺点并与取样技术相结合的分析方式，其优点是可实时监测料液中某组分的变化趋势，无须取样和样品传输过程。流线分析对于及时掌握工艺运行状况具有重要作用，是法、英、德等先进后处理国家目前正在积极发展的方向。

3、部分后处理工艺点料液中，需要分析关键元素的含量以计算回收率，评价工艺运行情况。目前，中试厂所采用的方法检出限受工艺料液特点影响，检出限无法满足分析需求，测量误差较大。

技术实现思路

1、针对现有技术中存在的缺陷，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于后处理料液的在线XRF分析装置，其特征在于：所述分析装置包括高压电源、X射线产生单元、测量管、探测器及测量辅助系统，所述测量管中充满待测溶液，所述高压电源用于给所述分析装置供电，所述X射线产生单元用于产生X射线以激发测量管中的待测溶液产生特征X射线；

2.如权利要求1所述的一种用于后处理料液的在线XRF分析装置，其特征在于：所述X射线产生单元包括X光管。

3.如权利要求1所述的一种用于后处理料液的在线XRF分析装置，其特征在于：所述测量管位于手套箱内，所述手套箱上设置金属屏蔽层，在手套箱上与所述X射线产生单元以及所述探测器相对的位置分别设置了通光孔，通...

【技术特征摘要】

1.一种用于后处理料液的在线xrf分析装置，其特征在于：所述分析装置包括高压电源、x射线产生单元、测量管、探测器及测量辅助系统，所述测量管中充满待测溶液，所述高压电源用于给所述分析装置供电，所述x射线产生单元用于产生x射线以激发测量管中的待测溶液产生特征x射线；

2.如权利要求1所述的一种用于后处理料液的在线xrf分析装置，其特征在于：所述x射线产生单元包括x光管。

3.如权利要求1所述的一种用于后处理料液的在线xrf分析装置，其特征在于：所述测量管位于手套箱内，所述手套箱上设置金属屏蔽层，在手套箱上与所述x射线产生单元以及所述探测器相对的位置分别设置了通光孔，通光口上分别设置初级滤光片以及次级滤光片。

4.如权利要求3所述的一种用于后处理料液的在线xrf分析装置，其特征在于：在所述分析装置上设置金属屏蔽层，在与测量管相对的地方，在所述x射线产生单元上设置通光孔，在与测量管相对的地方，在所述探测器上设置通光孔。

5.如权利要求4所述的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：张彤，陶苗苗，康海英，郑维明，邵少雄，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：