【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及设备检测，尤其涉及一种绝缘子串的缺陷检测方法、系统、终端及存储介质。
技术介绍
1、电力巡检是对电力线路及附属设备的运行状态和周边环境进行检测和监测。缺陷隐患是指电力线路或设备本体出现缺失、破损、晃动、倾斜等情况或者是存在有可能影响设备安全稳定运行的因素。为了在设备性能下降或者不能正常运作时能够及时地维修和更换，需要定期对电力线路巡视检测，排查故障点和潜在隐患，确保设备运行状态及周边状况正常。
2、绝缘子串在输电线路中用于隔离不同电位的带电设备以及支撑线路，因此是输电线路中的重要设备。但绝缘子串在长时间投入运行后会发生自爆、破损、裂纹和异物等故障，造成绝缘子串伞裙的缺失，严重威胁电力系统的安全稳定运行。目前，对绝缘子串进行缺陷检测时，首先提取觉卷子的局部二元模式(local binary pattern，lbp)和方向梯度直方图(histogram of oriented gradients，hog)特征，然后利用adaboost算法、canny检测算子以及阈值化等方法实现绝缘子的缺陷检测，例如绝缘子上的裂纹检测。
3、然而，上述缺陷检测的方式虽然能对绝缘子进行识别，但需要对图像进行高精度的处理，计算量大，导致难以大规模推广应用。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供了一种绝缘子串的缺陷检测方法、系统、终端及存储介质，以解决现有技术中对绝缘子的缺陷检测时需要较高的图像处理要求，计算量大的问题。
2、第一方面，本专利技术实施例提供了
3、获取绝缘子串的图像；
4、将所述图像进行不同层次的特征提取，得到第一特征；
5、对所述第一特征进行特征融合处理，得到多个第二特征；
6、对所述第二特征中的第一预设数量的相邻特征进行特征融合和特征增强，得到第三特征；
7、基于所述第三特征进行缺陷检测，得到检测结果。
8、在一种可能的实现方式中，在所述对所述第二特征中的第一预设数量的相邻特征进行特征融合和特征增强，得到第三特征之后，还包括：
9、将所述第三特征中的第二预设数量的相邻特征进行特征交互，得到第四特征；
10、基于所述第三特征进行缺陷检测，得到检测结果，包括：
11、基于所述第四特征进行缺陷检测，得到检测结果。
12、在一种可能的实现方式中，将所述图像进行不同层次的特征提取，得到第一特征，包括：
13、将所述图像输入依次串联的第三预设数量的标准卷积块中，进行卷积处理，得到第一特征；所述第一特征包括除第一个标准卷积块之外的所有标准卷积块输出的特征，所述第三预设数量大于第一预设数量，且大于第二预设数量。
14、在一种可能的实现方式中，对所述第一特征进行特征融合处理，得到多个第二特征，包括：
15、将每个第一特征分别进行空洞卷积处理和标准卷积处理，并将得到空洞卷积特征与标准卷积特征连接，得到的第一融合特征进行标准卷积处理，得到多个对应的第二特征。
16、在一种可能的实现方式中，对所述第二特征中的第一预设数量的相邻特征进行特征融合和特征增强，得到第三特征，包括：
17、将所述第二特征中的每三个相邻特征作为一组特征，将每组特征中的任一个第一特征进行上采样处理，任一个第二特征进行下采用处理，得到上采样结果和下采样结果；
18、将所述上采样结果、所述下采样结果和每组特征中的第三特征连接，得到第二融合特征；
19、将所述第二融合特征进行标准卷积处理，得到第五特征；
20、将所述第五特征进行正则化后，进行两层卷积处理，得到第六特征；
21、将所述第五特征和所述第六特征进行哈达玛积运算，得到第三特征。
22、在一种可能的实现方式中，进行两层卷积处理，包括：
23、对第一层卷积处理后，进行层归一化处理和第一激活函数处理，将处理结果进行第二层卷积处理。
24、在一种可能的实现方式中，将所述第三特征中的第二预设数量的相邻特征进行特征交互，得到第四特征，包括：
25、将所述第三特征中的每三个相邻特征作为一组特征，将每组特征连接后，得到的第三融合特征输入胶囊层中，得到第一输出特征；
26、将每组特征中的第二个特征和第三个特征分别进行标准卷积处理后，采用第二激活函数处理，得到的第一结果与当前组特征中的前一个特征进行哈达玛积运算，得到的第二结果与当前特征相加后，进行标准卷积处理，分别得到第七输出特征；将两个第七输出特征连接后，进行标准卷积处理，得到第八特征；所述第二激活函数与所述第一激活函数不同；
27、将每组特征中的第一个特征进行标准卷积处理后，采用第二激活函数处理，得到的第三结果，将所述第三结果与所述第八特征进行哈达玛积运算后，与所述第八特征相加，得到第四结果，将所述第四结果进行，标准卷积处理，得到第九输出特征；
28、将所述第九输出特征、两个第七输出特征以及第一输出特征，作为第四特征。
29、第二方面，本专利技术实施例提供了一种绝缘子串的缺陷检测系统，包括：
30、获取模块，用于获取绝缘子串的图像；
31、第一卷积模块，用于将所述图像进行不同层次的特征提取，得到第一特征；
32、特征聚合模块，用于对所述第一特征进行特征融合处理，得到多个第二特征；
33、完整性增强模块，用于对所述第二特征中的第一预设数量的相邻特征进行特征融合和特征增强，得到第三特征；
34、缺陷检测模块，用于基于所述第三特征进行缺陷检测，得到检测结果。
35、第三方面，本专利技术实施例提供了一种终端，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所述的绝缘子串的缺陷检测方法的步骤。
36、第四方面，本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所述的绝缘子串的缺陷检测方法的步骤。
37、本专利技术实施例提供一种绝缘子串的缺陷检测方法、系统、终端及存储介质，通过获取绝缘子串的图像；将图像进行不同层次的特征提取，得到第一特征；对第一特征进行特征融合处理，得到多个第二特征；对第二特征中的第一预设数量的相邻特征进行特征融合和特征增强，得到第三特征；基于第三特征进行缺陷检测，得到检测结果。本专利技术实施例设计的多层次聚合网络，首先通过特征融合处理，提取不同层次的特征，然后通过特征融合和特征增强突出显著目标通道并抑制其它干扰通道，不需要大量的图像预处理，从而可以在降低计算量的情况下，提高有缺陷绝缘子串的识别准确度。
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1.一种绝缘子串的缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的绝缘子串的缺陷检测方法，其特征在于，在所述对所述第二特征中的第一预设数量的相邻特征进行特征融合和特征增强，得到第三特征之后，还包括：
3.根据权利要求1或2所述的绝缘子串的缺陷检测方法，其特征在于，将所述图像进行不同层次的特征提取，得到第一特征，包括：
4.根据权利要求1所述的绝缘子串的缺陷检测方法，其特征在于，对所述第一特征进行特征融合处理，得到多个第二特征，包括：
5.根据权利要求1所述的绝缘子串的缺陷检测方法，其特征在于，对所述第二特征中的第一预设数量的相邻特征进行特征融合和特征增强，得到第三特征，包括：
6.根据权利要求5所述的绝缘子串的缺陷检测方法，其特征在于，进行两层卷积处理，包括：
7.根据权利要求1所述的绝缘子串的缺陷检测方法，其特征在于，将所述第三特征中的第二预设数量的相邻特征进行特征交互，得到第四特征，包括：
8.一种绝缘子串的缺陷检测系统，其特征在于，包括：
9.一种终端，包括存储器和处理
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如上的权利要求1至7中任一项所述的绝缘子串的缺陷检测方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种绝缘子串的缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的绝缘子串的缺陷检测方法，其特征在于，在所述对所述第二特征中的第一预设数量的相邻特征进行特征融合和特征增强，得到第三特征之后，还包括：
3.根据权利要求1或2所述的绝缘子串的缺陷检测方法，其特征在于，将所述图像进行不同层次的特征提取，得到第一特征，包括：
4.根据权利要求1所述的绝缘子串的缺陷检测方法，其特征在于，对所述第一特征进行特征融合处理，得到多个第二特征，包括：
5.根据权利要求1所述的绝缘子串的缺陷检测方法，其特征在于，对所述第二特征中的第一预设数量的相邻特征进行特征融合和特征增强，得到第三特征，包括：
6.根据权利要求5所述的绝缘子串的缺陷...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘宁，白云灿，郭峻菘，刘伟东，武艺，徐文瀚，孔令宇，沈建，高鹏飞，周立存，马春田，杨国柱，杨丰恺，刘成强，李帅，
申请(专利权)人：国网电力空间技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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