一种光模块并行测试系统技术方案

本技术涉及光模块测试技术领域，提供了一种光模块并行测试系统，包括信号发射单元、分路器单元和至少两条测量路由，两条所述测量路由分别与所述分路器单元连接，所述信号发射单元与所述分路器单元连接；所述测量路由包括测量单元，所述测量单元内包含有待测光模块和第一误码仪，所述待测光模块与所述第一误码仪连接，以形成用于测量待测光模块的并行测试系统。本技术通过设置分路器单元，将至少两条测试路由设置在分路器单元上，通过减少误码仪每只待测光模块对应的平均使用数量，进而降低测试成本；本技术可以同时对多个光模块进行测量，进而使得本技术实施例的测试系统的效率提高。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光模块测试，特别是涉及一种光模块并行测试系统。

技术介绍

1、四通道sfp接口(quad small form-factor pluggable，简写为qsfp28)光模块是目前市场上比较主流的一种100g光模块,其提供4个独立的发送和接收通道的并行信道，传输速率从25gbps提高到100gbps，且尺寸比其他100g模块更小，所以受到越来越多的关注100g qsfp28光模块已经衍生出多个类别，分别具有不同的光模块标准并适合不同的传输应用。

2、如图1所示，表示现有的qsfp28光模块测试系统，在现有的qsfp28光模块测试系统中，采用差分信号进行第一光信号和眼图的测试，每只待测光模块的测试需要使用两台误码仪，误码仪的体积相对较大，在同时对多只待测光模块进行测试时，需要使用更多台误码仪。由于误码仪上搭配有用于传输差分信号的高频线缆，在误码仪数量较多的情况下，使得每只待测光模块对应连接稿频线缆的连连接头数量多，连接空间狭小，操作难度大；另外，测试线缆数量多，切换高频测试指标容易造成不良，相位造成失配，严重影响测试指标，需要经常更换测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光模块并行测试系统，其特征在于，包括信号发射单元(1)、分路器单元(2)和至少两条测量路由(3)，所述分路器单元(2)包括公共输入端和至少两个输出端；两条所述测量路由(3)分别与所述分路器单元(2)的输出端连接，所述信号发射单元(1)与所述分路器单元(2)的公共输入端连接；

2.根据权利要求1所述的光模块并行测试系统，其特征在于，所述测量单元(31)还包括示波器单元(313)，所述示波器单元(313)与所述待测光模块(311)的发送端连接；

3.根据权利要求2所述的光模块并行测试系统，其特征在于，所述示波器单元(313)与所述待测光模块(311)之间设置有...

【技术特征摘要】

1.一种光模块并行测试系统，其特征在于，包括信号发射单元(1)、分路器单元(2)和至少两条测量路由(3)，所述分路器单元(2)包括公共输入端和至少两个输出端；两条所述测量路由(3)分别与所述分路器单元(2)的输出端连接，所述信号发射单元(1)与所述分路器单元(2)的公共输入端连接；

2.根据权利要求1所述的光模块并行测试系统，其特征在于，所述测量单元(31)还包括示波器单元(313)，所述示波器单元(313)与所述待测光模块(311)的发送端连接；

3.根据权利要求2所述的光模块并行测试系统，其特征在于，所述示波器单元(313)与所述待测光模块(311)之间设置有开关单元(314)，用于实现单通道出光选择。

4.根据权利要求2所述的光模块并行测试系统，其特征在于，所述信号发射单元(1)包括第二误码仪(11)和第一标准光源单元(12)；

5.根据权利要求4所述的光模块并行测试系统，其特征在于，所述第二误码仪(11)与第一标准光源单元(12)采用高频电缆连接。

【专利技术属性】
技术研发人员：夏志高，汪松恒，董轩，孙逊，
申请(专利权)人：武汉光迅科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：