【技术实现步骤摘要】
本技术涉及检测设备，尤其涉及定位装置及影像批量检测设备。
技术介绍
1、影像测量仪是在传统测量机的基础上结合图形图像学、光电子学及模式识别等内容于一体的非接触式的新式精准测量仪。影像测量仪的主要功能是对各种零部件进行微观检测，需要仪器具有较高的稳定性，以确保测量结果的准确性。但现有影像测量仪的测量台面、移动滑轨等部件在仪器工作需要时发生位移，这些状况均会导致被测物体出现偏移、不平稳状态，进而对测量结果产生影响。因此现有技术中通常采用夹具对被测物进行夹持与固定。
2、例如，公开号为cn215217498u的中国专利文献公开了一种影像仪批量检测标准件用夹具，该夹具包括推头、弹簧、亚克力板底座和边框，亚克力板底座安装在边框内，在亚克力板底座的至少一侧边部设置有多个标准件放置槽，每个标准件放置槽的口部对应设置有一个推头，推头与一根拉拔杆连接，拉拔杆穿过边框后向外延伸形成拉拔端，弹簧套设在拉拔杆上并被预压缩在推头与边框的内壁上。
3、然而，上述技术方案仍存在如下技术问题：该夹具的标准件放置槽内只能放置特定形状尺寸的标准件，通用性较差。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供定位装置及影像批量检测设备，以解决现有检测装置通用性差的技术问题。
2、为达此目的，本技术采用以下技术方案：
3、一方面，本技术提供定位装置，用于对工作台上的多个工件定位，多个所述工件在所述工作台上呈矩形阵列排布，包括基准台和分隔件，所述基准台设有垂直分布的第一基准平面和第二
4、所述分隔件被配置为设置在任意两个相邻的所述工件之间，所述分隔件设有第一测量基准结构，所述第一测量基准结构用于对与所述第一测量基准结构相邻的所述工件贴合定位。
5、作为优选，所述第一测量基准结构包括第三基准平面以及设置于所述第三基准平面的第二凹槽，所述第三基准平面为所述分隔件的端面，所述第三基准平面用于与相邻的所述工件贴合。
6、作为优选，所述第一测量基准结构包括设置于所述分隔件的端面的凸块，所述凸块用于与相邻的所述工件贴合。
7、作为优选，所述分隔件沿长度方向的一端设有第二测量基准结构，所述第二测量基准结构与所述第一测量基准结构分别与同一所述工件的相邻侧面贴合。
8、作为优选，所述定位装置还包括滑座，所述分隔件沿所述滑座的长度方向滑动设置于所述滑座，所述滑座的长度方向垂直于所述第一基准平面或第二基准平面，且所述滑座的长度方向与所述分隔件的长度方向垂直。
9、作为优选，所述分隔件沿长度方向的一端还设有滑块，沿所述分隔件的长度方向，所述第二测量基准结构位于所述滑块和所述第一测量基准结构之间；所述滑座设有第一滑槽，所述第一滑槽沿所述滑座的长度方向延伸，所述滑块滑动设置于所述第一滑槽。
10、作为优选，所述滑座设有限位结构，所述限位结构能够限制所述分隔件脱离所述滑座。
11、作为优选，所述分隔件设置有多个，多个所述分隔件沿所述滑座的长度方向间隔分布且均滑动位于所述滑座。
12、作为优选，所述分隔件包括第一分隔件、第二分隔件和/或第三分隔件，所述第一分隔件呈“一”字型，所述第二分隔件呈“丁”字型，所述第三分隔件呈“十”字型。
13、另一方面，本技术还提供了影像批量检测设备，包括影像仪，所述影像批量检测设备还包括上述任一方案所述的定位装置，所述定位装置放置于所述影像仪的所述工作台。
14、本技术的有益效果：
15、本技术提出定位装置及影像批量检测设备，该定位装置包括基准台和分隔件，用于对工作台上的多个工件定位，多个工件在工作台上呈矩形阵列排布，基准台设有垂直分布的第一基准平面和第二基准平面，第一基准平面用于对与第一基准平面相邻的工件贴合定位，第二基准平面用于对与第二基准平面相邻的工件贴合定位，第一基准平面和第二基准平面均设有多个第一凹槽；分隔件被配置为设置在任意两个相邻的工件之间，分隔件设有第一测量基准结构，第一测量基准结构用于对与第一测量基准结构相邻的工件贴合定位。当需要检测工件的尺寸和/或形位公差时，将工件与第一基准平面和/或第二基准平面贴合，由于第一基准平面和第二基准平面上均设置有多个第一凹槽，使得工件上有多处悬空，通过获取工件上多处悬空的部分，能够检测和计算出工件的尺寸和/或形位公差；当多个工件在工作台上呈矩形阵列排布时，通过设置分隔件将任意相邻的两个工件分隔并在分隔件上设置第一测量基准结构，分隔件与第一基准平面和/或第二基准平面的配合，使得该定位装置既能够不限尺寸的同时对多个工件进行定位，又不会对工件的边缘特征遮挡，显著提高了定位装置的通用性，提升了检测工件的检测效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.定位装置，用于对工作台(5)上的多个工件(2)定位，多个所述工件(2)在所述工作台(5)上呈矩形阵列排布，其特征在于，包括基准台(1)和分隔件(3)，所述基准台(1)设有垂直分布的第一基准平面(11)和第二基准平面(12)，所述第一基准平面(11)用于对与所述第一基准平面(11)相邻的所述工件(2)贴合定位，所述第二基准平面(12)用于对与所述第二基准平面(12)相邻的所述工件(2)贴合定位，所述第一基准平面(11)和所述第二基准平面(12)均设有多个第一凹槽(13)；
2.根据权利要求1所述的定位装置，其特征在于，所述第一测量基准结构(32)包括第三基准平面以及设置于所述第三基准平面的第二凹槽(321)，所述第三基准平面为所述分隔件(3)的端面，所述第三基准平面用于与相邻的所述工件(2)贴合。
3.根据权利要求1所述的定位装置，其特征在于，所述第一测量基准结构(32)包括设置于所述分隔件(3)的端面的凸块，所述凸块用于与相邻的所述工件(2)贴合。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的定位装置，其特征在于，所述分隔件(3)沿长度方向的一端设
5.根据权利要求4所述的定位装置，其特征在于，所述定位装置还包括滑座(4)，所述分隔件(3)沿所述滑座(4)的长度方向滑动设置于所述滑座(4)，所述滑座(4)的长度方向垂直于所述第一基准平面(11)或第二基准平面(12)，且所述滑座(4)的长度方向与所述分隔件(3)的长度方向垂直。
6.根据权利要求5所述的定位装置，其特征在于，所述分隔件(3)沿长度方向的一端还设有滑块(34)，沿所述分隔件(3)的长度方向，所述第二测量基准结构(33)位于所述滑块(34)和所述第一测量基准结构(32)之间；所述滑座(4)设有第一滑槽(41)，所述第一滑槽(41)沿所述滑座(4)的长度方向延伸，所述滑块(34)滑动设置于所述第一滑槽(41)。
7.根据权利要求5所述的定位装置，其特征在于，所述滑座(4)设有限位结构，所述限位结构能够限制所述分隔件(3)脱离所述滑座(4)。
8.根据权利要求5所述的定位装置，其特征在于，所述分隔件(3)设置有多个，多个所述分隔件(3)沿所述滑座(4)的长度方向间隔分布且均滑动位于所述滑座(4)。
9.根据权利要求1-3中任一项所述的定位装置，其特征在于，所述分隔件(3)包括第一分隔件、第二分隔件和/或第三分隔件，所述第一分隔件呈“一”字型，所述第二分隔件呈“丁”字型，所述第三分隔件呈“十”字型。
10.影像批量检测设备，包括影像仪，其特征在于，所述影像批量检测设备还包括权利要求1-9中任一项所述的定位装置，所述定位装置放置于所述影像仪的所述工作台(5)。
...【技术特征摘要】
1.定位装置，用于对工作台(5)上的多个工件(2)定位，多个所述工件(2)在所述工作台(5)上呈矩形阵列排布，其特征在于，包括基准台(1)和分隔件(3)，所述基准台(1)设有垂直分布的第一基准平面(11)和第二基准平面(12)，所述第一基准平面(11)用于对与所述第一基准平面(11)相邻的所述工件(2)贴合定位，所述第二基准平面(12)用于对与所述第二基准平面(12)相邻的所述工件(2)贴合定位，所述第一基准平面(11)和所述第二基准平面(12)均设有多个第一凹槽(13)；
2.根据权利要求1所述的定位装置，其特征在于，所述第一测量基准结构(32)包括第三基准平面以及设置于所述第三基准平面的第二凹槽(321)，所述第三基准平面为所述分隔件(3)的端面，所述第三基准平面用于与相邻的所述工件(2)贴合。
3.根据权利要求1所述的定位装置，其特征在于，所述第一测量基准结构(32)包括设置于所述分隔件(3)的端面的凸块，所述凸块用于与相邻的所述工件(2)贴合。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的定位装置，其特征在于，所述分隔件(3)沿长度方向的一端设有第二测量基准结构(33)，所述第二测量基准结构(33)与所述第一测量基准结构(32)分别与同一所述工件(2)的相邻侧面贴合。
5.根据权利要求4所述的定位装置，其特征在于，所述定位装置还包括滑座(4)，所述分隔件(3)沿所述滑座(4)...
【专利技术属性】
技术研发人员：谭锡智，谈文轩，陈韬，
申请(专利权)人：上海飞机制造有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。