【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及体积测量，尤其涉及一种材料体积形变参数测量装置及测量方法。
技术介绍
1、材料的体积形变参数是影响材料应用的主要因素之一，现有技术对体积形变的测量常采用毛细管体积膨胀计法，通过活塞推动介质油使试件受压变形，试件的受压变形量由活塞挤出的油量靠毛细管体积膨胀计来测得，而介质油受压后本身会产生不可忽略的变形，以致实测产生很大的误差，对试件在低压下的体积变形也不能测得，再加之放置试件的高压室，压力计连接导管在不同受压作用下的膨胀变化的影响，使得实测精度很差。现有的高压室与环境室一体设计，不方便试件的安装；高压介质与增压系统共同，容易形成油源的污染。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术提供了一种材料体积形变参数测量装置及测量方法，用于解决现有技术中操作不便、误差大的问题。为达上述之一或部分或全部目的或是其他目的，本专利技术提出一种材料体积形变参数测量装置，包括：固定壳体，用于形成围压空间的第一结构，用于形成温度空间的第二结构，升降结构，测量结构和控制器；
2、其中，所述第二结构固定于所述固定壳体内，所述第一结构通过所述升降结构连接所述固定壳体，所述第一结构通过所述升降结构进出所述第二结构，所述测量结构设置于所述第一结构内，所述控制器用于根据预设实验数据设置所述第一结构内的第一实验参数和所述第二结构内的第二实验参数，所述控制器通过压力采集探针采集所述第一结构内的压力参数，所述控制器通过温度采集探针采集所述第二结构内的温度参数，所述控制器与所述测量结构连接以获取测量
3、可选地，所述第一结构包括形成围压空间的围压壳体、液压充流装置和气动回液装置，其中，所述围压壳体上设置有出流口和充流口，所述测量结构设置于所述围压壳体内，所述控制器与所述液压充流装置连接，所述控制器与所述气动回液装置连接，所述液压充流装置的出液口连接所述围压壳体上的充流口，所述气动回液装置的回液口连接所述围压壳体上的出流口，所述控制器通过所述液压充流装置和所述气动回液装置，根据预设实验数据设置所述第一结构内的第一实验参数。
4、可选地，所述升降结构包括升降杆，升降台和升降电机，其中，所述升降杆的一端连接设置于所述固定壳体内的升降台，所述升降杆的另一端贯穿所述固定壳体，所述升降杆的另一端连接固定于所述固定壳体顶端的升降电机，所述升降台固定连接所述第一结构，所述升降电机与所述控制器连接。
5、可选地，所述第二结构包括储液壳体、搅拌装置和挡板，其中，所述储液壳体的底面与所述固定壳体的底面固定连接，所述储液壳体为无盖壳体，所述挡板垂直于所述储液壳体的侧壁，所述挡板将所述储液壳体的内部空间分割为用于所述第一结构出入的第一空间，和，用于放置所述搅拌装置的第二空间，所述挡板上设置有均匀通孔。
6、可选地，所述测量结构包括底座、电涡流非接触测量装置、上测量板、弹簧松紧装置、导向装置、变形测量装置和下测量板，其中，所述下测量板固定在所述底座，所述导向装置贯穿所述上测量板与所述下测量板固定连接，所述变形测量装置贯穿所述上测量板与所述下测量板固定连接，所述电涡流非接触测量装置设置于所述导向装置上，所述电涡流非接触测量装置位于所述上测量板上方，且不与所述上测量板连接，所述弹簧松紧装置贯穿所述上测量板。
7、可选地，所述变形测量装置为采用双边测量方式的测量装置，待测量材料设置于所述变形测量装置的双边之间。
8、可选地，所述围压壳体包括第一壳体和第二壳体，所述第一壳体和所述第二壳体镜像对称，所述第一壳体和所述第二壳体通过卡环结构相连接。
9、另一方面，本申请实施例提供了一种材料体积形变参数测量方法，应用于上述的材料体积形变参数测量装置，包括：将待测量材料设置于测量结构内；
10、所述控制器获取所述第一结构内的压力参数和所述第二结构内的温度参数；
11、当所述压力参数满足第一预设实验数据，且所述温度参数满足第二预设实验数据时，所述控制器控制所述升降结构将所述第一结构放置于所述第二结构内；
12、所述控制器通过所述测量结构获取第一预设实验数据和第二预设实验数据下，待测量材料的测量数据，进而根据所述测量数据确定待测量材料的体积形变参数。
13、可选地，所述根据所述测量数据确定待测量材料的体积形变参数的步骤，包括：
14、获取不同第一预设实验数据和不同第二预设实验数据下，所述待测量材料的测量数据集合；
15、基于所述测量数据集合绘制针对所述待测量材料的体积形变曲线；
16、根据所述体积形变曲线确定不同预设实验数据和不同预设温度数据下，待测量材料的体积形变参数。
17、可选地，所述控制器通过所述测量结构获取预设实验数据和预设温度数据下，待测量材料的测量数据的步骤，包括：
18、所述控制器通过所述测量结构内的电涡流非接触测量装置获取预设实验数据和预设温度数据下，待测量材料的第一测量数据；
19、所述控制器通过所述测量结构内的变形测量装置获取预设实验数据和预设温度数据下，待测量材料的第二测量数据；
20、计算所述第一测量数据和所述第二测量数据的平均值，作为预设实验数据和预设温度数据下，待测量材料的测量数据。
21、有益效果：
22、通过升降结构将带有测量结构的第一结构放入/取出所述第二结构，方便测量结构内待测材料的快速拆装，同时，将第一结构(高压室)和第二结构(环境室)分离设置，使得第一结构(高压室)的压力介质和所述第二结构(环境室)内的温度介质彼此分离，避免压力介质和温度介质的融合污染，进而减少成本，同时避免温度介质受压形变造成测量误差，提高了测量准确性。
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1.一种材料体积形变参数测量装置，其特征在于，所述装置包括：
2.如权利要求1所述的材料体积形变参数测量装置，其特征在于，所述第一结构包括形成围压空间的围压壳体、液压充流装置和气动回液装置，其中，所述围压壳体上设置有出流口和充流口，所述测量结构设置于所述围压壳体内，所述控制器与所述液压充流装置连接，所述控制器与所述气动回液装置连接，所述液压充流装置的出液口连接所述围压壳体上的充流口，所述气动回液装置的回液口连接所述围压壳体上的出流口，所述控制器通过所述液压充流装置和所述气动回液装置，根据预设实验数据设置所述第一结构内的第一实验参数。
3.如权利要求1所述的材料体积形变参数测量装置，其特征在于，所述升降结构包括升降杆，升降台和升降电机，其中，所述升降杆的一端连接设置于所述固定壳体内的升降台，所述升降杆的另一端贯穿所述固定壳体，所述升降杆的另一端连接固定于所述固定壳体顶端的升降电机，所述升降台固定连接所述第一结构，所述升降电机与所述控制器连接。
4.如权利要求1所述的材料体积形变参数测量装置，其特征在于，所述第二结构包括储液壳体、搅拌装置和挡板，其
5.如权利要求1所述的材料体积形变参数测量装置，其特征在于，所述测量结构包括底座、电涡流非接触测量装置、上测量板、弹簧松紧装置、导向装置、变形测量装置和下测量板，其中，所述下测量板固定在所述底座，所述导向装置贯穿所述上测量板与所述下测量板固定连接，所述变形测量装置贯穿所述上测量板与所述下测量板固定连接，所述电涡流非接触测量装置设置于所述导向装置上，所述电涡流非接触测量装置位于所述上测量板上方，且不与所述上测量板连接，所述弹簧松紧装置贯穿所述上测量板。
6.如权利要求5所述的材料体积形变参数测量装置，其特征在于，所述变形测量装置为采用双边测量方式的测量装置，待测量材料设置于所述变形测量装置的双边之间。
7.如权利要求1所述的材料体积形变参数测量装置，其特征在于，所述围压壳体包括第一壳体和第二壳体，所述第一壳体和所述第二壳体镜像对称，所述第一壳体和所述第二壳体通过卡环结构相连接。
8.一种材料体积形变参数测量方法，应用于权利要求1至7任一项所述的材料体积形变参数测量装置，其特征在于，将待测量材料设置于测量结构内；
9.如权利要求8所述的材料体积形变参数测量方法，其特征在于，所述根据所述测量数据确定待测量材料的体积形变参数的步骤，包括：
10.如权利要求8所述的材料体积形变参数测量方法，其特征在于，所述控制器通过所述测量结构获取预设实验数据和预设温度数据下，待测量材料的测量数据的步骤，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种材料体积形变参数测量装置，其特征在于，所述装置包括：
2.如权利要求1所述的材料体积形变参数测量装置，其特征在于，所述第一结构包括形成围压空间的围压壳体、液压充流装置和气动回液装置，其中，所述围压壳体上设置有出流口和充流口，所述测量结构设置于所述围压壳体内，所述控制器与所述液压充流装置连接，所述控制器与所述气动回液装置连接，所述液压充流装置的出液口连接所述围压壳体上的充流口，所述气动回液装置的回液口连接所述围压壳体上的出流口，所述控制器通过所述液压充流装置和所述气动回液装置，根据预设实验数据设置所述第一结构内的第一实验参数。
3.如权利要求1所述的材料体积形变参数测量装置，其特征在于，所述升降结构包括升降杆，升降台和升降电机，其中，所述升降杆的一端连接设置于所述固定壳体内的升降台，所述升降杆的另一端贯穿所述固定壳体，所述升降杆的另一端连接固定于所述固定壳体顶端的升降电机，所述升降台固定连接所述第一结构，所述升降电机与所述控制器连接。
4.如权利要求1所述的材料体积形变参数测量装置，其特征在于，所述第二结构包括储液壳体、搅拌装置和挡板，其中，所述储液壳体的底面与所述固定壳体的底面固定连接，所述储液壳体为无盖壳体，所述挡板垂直于所述储液壳体的侧壁，所述挡板将所述储液壳体的内部空间分割为用于所述第一结构出入的第一空间，和，用于放置所述搅拌装置的第二空间，所述挡板上设置有均匀通孔。
5.如权...
【专利技术属性】
技术研发人员：王哲君，强洪夫，裴书帝，卢士亮，耿挺京，张砚珅，王学仁，
申请(专利权)人：中国人民解放军火箭军工程大学，
类型：发明
国别省市：
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