【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及发光器件领域，特别是涉及一种发光器件的寿命测试装置及寿命测试方法。
技术介绍
1、目前，显示行业中，发光器件包括qled、oled、led等。由于发光器件是一种电子器件，存在着老化等问题，因此，在发光器件的生产中，需要在产品出厂前进行寿命测试，以保障发光器件的出厂质量。
2、通常发光器件的性能可以从发光性能和电学性能两个方面来评价。发光性能主要包括发射光谱、发光亮度、发光效率、发光色度和寿命。电学性能则包括电流与电压的关系等，这些都是衡量材料和器件性能的主要参数。发光器件的寿命测试也是衡量器件性能好坏的一个重要指标，在研发阶段，多样化的寿命测试对于发光器件的研究显得尤为重要，这样可以找到影响器件寿命的主要因素，在制造过程中就可以减小该因素对器件的影响。传统的发光器件寿命测试过程中，均是仅基于发光器件上发光面的亮度衰减值进行寿命的计算，但当发光器件的发光面不均匀时，使得发光器件上不同发光面对应的亮度衰减值不相同，进而导致发光器件寿命测试准确性低下。
技术实现思路
1、基于此，有必要提供一种寿命测试装置及寿命测试方法，以提高发光器件寿命测试的准确性。
2、本专利技术的其中一个目的是提供一种发光器件的寿命测试装置，方案如下：
3、一种发光器件的寿命测试装置，包括：
4、壳体，具有密封测试腔；
5、装载机构，设置在所述密封测试腔中，所述装载机构设有用于容置待检测器件的容置槽；以及
6、光采集机构，设置在所
7、在其中一个实施例中，所述装载机构的相对的两侧上分别设有第一容置槽和第二容置槽，所述光采集机构包括分别设置在所述装载机构的相对两侧的第一光采集机构和第二光采集机构，所述第一光采集机构和所述第二光采集机构用于分别采集放置在所述第一容置槽和所述第二容置槽中的待检测器件发出的光。
8、在其中一个实施例中，所述壳体包括第一配合部和第二配合部，所述第一配合部和所述第二配合部配合围成所述密封测试腔，所述第一配合部上设有第一凹槽，所述第一光采集机构设置在所述第一凹槽中，所述第二配合部上设有第二凹槽，所述第二光采集机构设置在所述第二凹槽中。
9、在其中一个实施例中，所述第二配合部设有环形安装槽，所述装载机构嵌设于所述环形安装槽中，所述装载机构能够相对于所述第二配合部转动；
10、和/或，所述光采集机构的朝向偏离所述容置槽的中心位置。
11、在其中一个实施例中，所述壳体还包括密封圈，所述密封圈设置在所述第一配合部和所述第二配合部的连接位置。
12、在其中一个实施例中，所述装载机构包括电连接板、第一绝缘环以及第二绝缘环，所述电连接板具有相对设置的第一侧和第二侧，所述第一绝缘环设置在所述第一侧，所述第一绝缘环与所述电连接板配合形成所述第一容置槽，所述第二绝缘环设置在所述第二侧，所述第二绝缘环与所述电连接板配合形成所述第二容置槽。
13、在其中一个实施例中，所述装载机构还包括多个第一固定弹片，多个所述第一固定弹片分布在所述第一容置槽的槽口边缘；
14、和/或，所述装载机构还包括多个第二固定弹片，多个所述第二固定弹片分布在所述第二容置槽的槽口边缘。
15、在其中一个实施例中，所述寿命测试装置还包括温度调节机构，所述温度调节机构设置在所述容置槽内。
16、在其中一个实施例中，所述寿命测试装置还包括气氛供给机构，所述气氛供给机构设置在所述密封测试腔外，所述气氛供给机构通过所述壳体上的通气孔与所述密封测试腔连通。
17、本专利技术的其中一个目的是提供一种发光器件的寿命测试方法，方案如下：
18、一种发光器件的寿命测试方法，使用上述任一实施例所述的寿命测试装置，所述寿命测试方法包括以下步骤：
19、将待检测器件设置于所述容置槽中；
20、通过所述光采集机构采集所述待检测器件发出的光。
21、与传统方案相比，上述发光器件的寿命测试装置具有以下有益效果：
22、上述寿命测试装置在密封测试腔中设置装载机构和光采集机构，光采集机构包括硅光二极管，用于采集设置在装载机构上的待检测器件所发出的光，光采集机构还在硅光二极管一侧依次设置物镜和目镜，物镜和目镜构成显微镜，对发光器件上所需要测试的点进行聚焦，由硅光二极管收集其亮度信息，如此，能够使硅光二极管采集的亮度精度更接近真实亮度，提高发光器件寿命测试的准确性。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种发光器件的寿命测试装置，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的寿命测试装置，其特征在于，所述装载机构的相对的两侧上分别设有第一容置槽和第二容置槽，所述光采集机构包括分别设置在所述装载机构的相对两侧的第一光采集机构和第二光采集机构，所述第一光采集机构和所述第二光采集机构用于分别采集放置在所述第一容置槽和所述第二容置槽中的待检测器件发出的光。
3.如权利要求2所述的寿命测试装置，其特征在于，所述壳体包括第一配合部和第二配合部，所述第一配合部和所述第二配合部配合围成所述密封测试腔，所述第一配合部上设有第一凹槽，所述第一光采集机构设置在所述第一凹槽中，所述第二配合部上设有第二凹槽，所述第二光采集机构设置在所述第二凹槽中。
4.如权利要求3所述的寿命测试装置，其特征在于，所述第二配合部设有环形安装槽，所述装载机构嵌设于所述环形安装槽中，所述装载机构能够相对于所述第二配合部转动；
5.如权利要求3所述的寿命测试装置，其特征在于，所述壳体还包括密封圈，所述密封圈设置在所述第一配合部和所述第二配合部的连接位置。
6.如权利要
7.如权利要求2所述的寿命测试装置，其特征在于，所述装载机构还包括多个第一固定弹片，多个所述第一固定弹片分布在所述第一容置槽的槽口边缘；
8.如权利要求1-7中任一项所述的寿命测试装置，其特征在于，所述寿命测试装置还包括温度调节机构，所述温度调节机构设置在所述容置槽内。
9.如权利要求1～7中任一项所述的寿命测试装置，其特征在于，所述寿命测试装置还包括气氛供给机构，所述气氛供给机构设置在所述密封测试腔外，所述气氛供给机构通过所述壳体上的通气孔与所述密封测试腔连通。
10.一种发光器件的寿命测试方法，其特征在于，使用权利要求1～9中任一项所述的寿命测试装置，所述寿命测试方法包括以下步骤：
...【技术特征摘要】
1.一种发光器件的寿命测试装置，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的寿命测试装置，其特征在于，所述装载机构的相对的两侧上分别设有第一容置槽和第二容置槽，所述光采集机构包括分别设置在所述装载机构的相对两侧的第一光采集机构和第二光采集机构，所述第一光采集机构和所述第二光采集机构用于分别采集放置在所述第一容置槽和所述第二容置槽中的待检测器件发出的光。
3.如权利要求2所述的寿命测试装置，其特征在于，所述壳体包括第一配合部和第二配合部，所述第一配合部和所述第二配合部配合围成所述密封测试腔，所述第一配合部上设有第一凹槽，所述第一光采集机构设置在所述第一凹槽中，所述第二配合部上设有第二凹槽，所述第二光采集机构设置在所述第二凹槽中。
4.如权利要求3所述的寿命测试装置，其特征在于，所述第二配合部设有环形安装槽，所述装载机构嵌设于所述环形安装槽中，所述装载机构能够相对于所述第二配合部转动；
5.如权利要求3所述的寿命测试装置，其特征在于，所述壳体还包括密封圈，所述密封圈设置在所述第一配合部和所述第二配合部的连接位置。...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢仕昭，陈亚文，
申请(专利权)人：广东聚华印刷显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。