【技术实现步骤摘要】
本申请涉及激光测量，特别涉及一种各向异性二次谐波探测装置。
技术介绍
1、在相关技术中，二次谐波表征技术利用样品对入射光的非线性响应，产生二次谐波信号，从而得到非线性极化率张量的面外分量。
2、而对于测量小样品的非线性极化率张量的面外分量，通过旋转小样品的方法进行测量，容易出现在旋转小样品的过程中小样品被移除激发光的照射区域的现象，而在保持不转动小样品的情况下，通过转动激发光的偏振方向的方式测量，激发光只能垂直照射到样品上，所得到的光谱只能分辨出样品面内的晶格非对称性，无法测量小样品的非线性极化率张量的面外分量。
技术实现思路
1、本申请旨在至少解决相关技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种各向异性二次谐波探测装置，旨在测量小样品的非线性极化率张量的面外分量。
2、第一方面，本申请实施例提供了一种各向异性二次谐波探测装置，包括：第一光偏振移位组件、半反半透棱镜、第二光偏振移位组件、显微物镜和探测组件；所述第一光偏振移位组件用于将入射光转变为朝向所述半反半透棱镜的第一位置出射的第一线偏振光；所述半反半透棱镜用于将所述第一线偏振光透射至所述第二光偏振移位组件；所述第二光偏振移位组件用于将所述第一线偏振光转变为朝向所述显微物镜的第二位置出射的第二线偏振光，其中，所述第二位置为所述显微物镜的侧部位置；所述显微物镜用于将所述第二线偏振光聚焦至样品的表面，以及将所述样品的所述第二线偏振光反射形成的二次谐波信号出射到所述第二光偏振移位组件；所述第二光偏振移位组件还
3、根据本申请的一些实施例，所述第一光偏振移位组件包括第一光束移位器和第一波片。
4、根据本申请的一些实施例，所述入射光为圆偏振光，所述第一光偏振移位组件还包括第一偏振片。
5、根据本申请的一些实施例，所述第一偏振片为可旋转结构。
6、根据本申请的一些实施例，所述第一光束移位器和所述第一波片均为可旋转结构。
7、根据本申请的一些实施例，在所述第一偏振片的入射方向设置有第三波片，所述第三波片用于将激光光源发出的第三线偏振光转变为所述圆偏振光。
8、根据本申请的一些实施例，所述第一线偏振光的偏振方向为s偏振方向或p偏振方向；所述第二光偏振移位组件包括第二光束移位器和第二波片；所述第一线偏振光经所述第二光束移位器和所述第二波片转变为朝向所述显微物镜的侧部位置出射的s偏振光或p偏振光；所述二次谐波信号经所述第二光束移位器和所述第二波片转变成朝向所述半反半透棱镜的所述第三位置出射的s偏振分光量，以及转变成朝向所述半反半透棱镜的所述第四位置出射的p偏振分光量。
9、根据本申请的一些实施例，所述探测组件的入射方向设置有可旋转的第二偏振片，所述第二偏振片用于仅允许所述s偏振分光量入射至所述探测组件，或者，仅允许所述p偏振分光量入射至所述探测组件。
10、根据本申请的一些实施例，所述探测组件的入射方向设置有滤光片。
11、根据本申请的一些实施例，所述探测组件的入射方向设置有透镜。
12、根据本申请实施例的技术方案，至少具有如下有益效果：本申请实施例包括第一光偏振移位组件、半反半透棱镜、第二光偏振移位组件、显微物镜和探测组件；其中，第一光偏振移位组件用于将入射光转变为朝向半反半透棱镜的第一位置出射的第一线偏振光；半反半透棱镜用于将第一线偏振光透射至第二光偏振移位组件；第二光偏振移位组件用于将第一线偏振光转变为朝向显微物镜的第二位置出射的第二线偏振光，其中，第二位置为显微物镜的侧部位置；显微物镜用于将第二线偏振光聚焦至样品的表面，以及将样品的第二线偏振光反射形成的二次谐波信号出射到第二光偏振移位组件；第二光偏振移位组件还用于将二次谐波信号转变成朝向半反半透棱镜的第三位置出射的s偏振分光量，以及转变成向半反半透棱镜的第四位置出射的p偏振分光量；半反半透棱镜还用于将s偏振分光量和p偏振分光量反射至探测组件。本申请实施例能够通过第一光偏振移位组件或者第二光偏振移位组件实现对入射光的平移，并结合显微物镜能够实现入射光斜入射到样品中，从而得到反射的二次谐波信号，进而得到样品的非线性极化率张量的面外分量。
13、本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
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1.一种各向异性二次谐波探测装置，其特征在于，包括：第一光偏振移位组件、半反半透棱镜、第二光偏振移位组件、显微物镜和探测组件；
2.根据权利要求1所述的各向异性二次谐波探测装置，其特征在于，所述第一光偏振移位组件包括第一光束移位器和第一波片。
3.根据权利要求2所述的各向异性二次谐波探测装置，其特征在于，所述入射光为圆偏振光，所述第一光偏振移位组件还包括第一偏振片。
4.根据权利要求3所述的各向异性二次谐波探测装置，其特征在于，所述第一偏振片为可旋转结构。
5.根据权利要求2所述的各向异性二次谐波探测装置，其特征在于，所述第一光束移位器和所述第一波片均为可旋转结构。
6.根据权利要求3所述的各向异性二次谐波探测装置，其特征在于，在所述第一偏振片的入射方向设置有第三波片，所述第三波片用于将激光光源发出的第三线偏振光转变为所述圆偏振光。
7.根据权利要求1-6任一所述的各向异性二次谐波探测装置，其特征在于，所述第一线偏振光的偏振方向为S偏振方向或P偏振方向；
8.根据权利要求1所述的各向异性二次谐波探
9.根据权利要求1所述的各向异性二次谐波探测装置，其特征在于，所述探测组件的入射方向设置有滤光片。
10.根据权利要求1所述的各向异性二次谐波探测装置，其特征在于，所述探测组件的入射方向设置有透镜。
...【技术特征摘要】
1.一种各向异性二次谐波探测装置，其特征在于，包括：第一光偏振移位组件、半反半透棱镜、第二光偏振移位组件、显微物镜和探测组件；
2.根据权利要求1所述的各向异性二次谐波探测装置，其特征在于，所述第一光偏振移位组件包括第一光束移位器和第一波片。
3.根据权利要求2所述的各向异性二次谐波探测装置，其特征在于，所述入射光为圆偏振光，所述第一光偏振移位组件还包括第一偏振片。
4.根据权利要求3所述的各向异性二次谐波探测装置，其特征在于，所述第一偏振片为可旋转结构。
5.根据权利要求2所述的各向异性二次谐波探测装置，其特征在于，所述第一光束移位器和所述第一波片均为可旋转结构。
6.根据权利要求3所述的各向异性二次谐波探测装置，其特征在于，在...
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