System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种数据同步装置和方法制造方法及图纸_技高网

一种数据同步装置和方法制造方法及图纸

技术编号:40657031 阅读:18 留言:0更新日期:2024-03-13 21:34
本发明专利技术公开了一种数据同步装置,应用于显示面板的检测,包括:配置模块用于接收上位机的第一信号,以及向采样模块发送第二信号和对应的配置信号;采样模块用于根据第二信号采样数据,拉高该采样数据对应的第一标志位,并将采样数据和第一标志位发送至数据同步模块;数据处理模块用于接收采样数据和第一标志位,寄存采样数据,并按照一定时间间隔,将接收到的最新的第一标志位组合为第三信号,以及将采样数据和第三信号发送至数据同步模块;数据同步模块用于比较第一信号和第三信号,并在第一信号和第三信号相同时,输出并标记已同步的采样数据。本发明专利技术实现显示面板检测中,不同采样速率下对不同参数值的同步采样。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及oled模组的显示测试,更具体地,涉及一种数据同步装置和方法


技术介绍

1、oled以其全固态、主动发光、高亮度、高对比度、超轻超薄、快速响应、宽视角、低功耗、工作温度范围宽、易于柔性显示等诸多优点,oled已被广泛应用于商业、通信、计算机、工业应用等领域,是目前最有发展前景的新型显示技术之一。

2、由于oled模组在工艺上的细微噪声以及相同涂层上分子排布的差异性,导致同一产线上不同模组对电信号的响应不尽相同。因此,为实现对oled屏幕质量的精准评估,及实现高精度的gamma调节,有必要对oled屏幕的灰度、电压、电流等值进行同步测量。

3、对于采样芯片而言,不同的芯片相同的采样速率的配置,其实际的采样速率是不同的。以ad7175为例,在对电压、电流采样都配置为50ksps的采样速率时,其实际的采样速率有约0.2%偏差。随着采样时间的增加,采样点数偏差越大,导致同样序号的采样点在时域上不能够完全同步。


技术实现思路

1、针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求,本专利技术提供了一种数据同步装置和方法,实现显示面板检测中,不同采样速率下对不同参数值的同步采样。

2、为实现上述目的,按照本专利技术的第一个方面,提供了一种数据同步装置,应用于显示面板的检测,包括:

3、配置模块、若干采样模块、数据处理模块和数据同步模块;

4、其中,所述配置模块用于接收上位机的第一信号,还用于向所述采样模块发送第二信号和对应的配置信号

5、所述采样模块用于根据第二信号采样数据,拉高该采样数据对应的第一标志位;所述采样模块还用于将所述采样数据和所述第一标志位发送至所述数据同步模块;

6、所述数据处理模块用于接收若干采样模块发送的多个所述采样数据和多个所述第一标志位,并按照一定时间间隔,将接收到的多个最新的所述第一标志位组合为第三信号;还用于将所述采样数据和所述第三信号发送至所述数据同步模块;所述数据同步模块用于比较所述第一信号和所述第三信号,并在所述第一信号和所述第三信号相同时,输出已同步的采样数据并拉高第二标志位;

7、或,

8、所述数据处理模块用于接收所述采样数据和所述第一标志位,通过所述第一标志位判断采样速率最慢的采样数据,以该采样数据的第一标志位作为第三信号;还用于将所述采样数据和所述第三信号发送至所述数据同步模块;所述数据同步模块在接收到所述第三信号为高时,输出所述采样数据并拉高第二标志位。

9、进一步地,上述数据同步装置还包括:

10、所述采样模块包括电压采样模块、电流采样模块和光采样模块,分别用于采样待测显示面板的电压数据、电流数据和光强度数据。

11、进一步地,上述数据同步装置还包括:

12、所述第一信号是按照预设顺序生成的若干位信号,其中每一位信号对应一个采样模块;

13、所述配置模块用于解析所述第一信号,依据所述第一信号中每一位信号,向对应的采样模块发送第二信号。

14、进一步地,上述数据同步装置还包括:

15、所述数据处理模块组合第三信号,具体包括:

16、所述数据处理模块将所述第一标志位按照顺序组合为第三信号,其中,组合的顺序与所述第一信号的预设顺序相同。

17、进一步地,上述数据同步装置还包括:

18、所述数据同步模块用于比较所述第一信号和所述第三信号,还包括:

19、所述数据同步模块在所述第一信号和所述第三信号不相同时,生成第四信号,发送至所述配置模块,使得所述配置模块修改发送至所述采样模块的所述配置信号;

20、或,所述数据同步模块在所述第一信号和所述第三信号不相同时,生成第四信号,发送至所述数据处理模块,使得所述数据处理模块缓存所述采样数据,直至所述数据处理模块组合的第三信号与所述第一信号相同。

21、进一步地,上述数据同步装置还包括:

22、通过所述第一标志位判断采样速率最慢的采样数据,具体包括:

23、所述数据处理模块以一段时间内,若干采样模块发来的不同第一标志位为高的数量进行判断,第一标志位为高最少的采样数据是采样速率最慢的采样数据。

24、进一步地,上述数据同步装置还包括:

25、所述数据同步装置基于fpga实现,其中,不同采样模块分别对应一块adc芯片。

26、进一步地,上述数据同步装置还包括:

27、所述配置模块是嵌入在fpga中的arm芯片,通过axi总线向所述采样模块发送第二信号和对应的配置信号。

28、进一步地,上述数据同步装置还包括:

29、所述配置信号存储在所述adc芯片的寄存器中,用于改变所述采样模块的采样和输出参数。

30、按照本专利技术的第二个方面,还提供了一种数据同步方法,应用于如上述任一项的数据同步装置,包括:

31、配置模块接收上位机的第一信号,向采样模块发送第二信号和对应的配置信号;

32、所述采样模块根据第二信号采样数据,拉高该采样数据对应的第一标志位;并将所述采样数据和所述第一标志位发送至数据处理模块;

33、所述数据处理模块接收若干采样模块发送的多个所述采样数据和多个所述第一标志位,并按照一定时间间隔,将接收到的多个最新的所述第一标志位组合为第三信号,再将所述采样数据和所述第三信号发送至所述数据同步模块;所述数据同步模块比较所述第一信号和所述第三信号,并在所述第一信号和所述第三信号相同时,输出已同步的采样数据并拉高第二标志位;

34、或,

35、所述数据处理模块接收所述采样数据和所述第一标志位,通过所述第一标志位判断采样速率最慢的采样数据,以该采样数据的第一标志位作为第三信号,再所述采样数据和所述第三信号发送至所述数据同步模块;所述数据同步模块在接收到所述第三信号为高时,输出所述采样数据并拉高第二标志位。

36、总体而言,通过本专利技术所构思的以上技术方案与现有技术相比,能够取得下列有益效果:

37、本专利技术提供的数据同步装置,可以根据上位机发送的第一信号,灵活选择不同采样数据进行数据同步,实现显示面板检测中不同采样速率下对不同参数值的同步采样。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种数据同步装置,应用于显示面板的检测,包括:

2.如权利要求1所述的数据同步装置,其特征在于:

3.如权利要求1所述的数据同步装置,其特征在于:

4.如权利要求3所述的数据同步装置,其特征在于:

5.如权利要求1所述的数据同步装置,其特征在于:

6.如权利要求1所述的数据同步装置,其特征在于:

7.如权利要求1所述的数据同步装置,其特征在于:

8.如权利要求7所述的数据同步装置,其特征在于:

9.如权利要求7所述的数据同步装置,其特征在于:

10.一种数据同步方法,应用于如权利要求1-9任一项的数据同步装置,包括:

【技术特征摘要】

1.一种数据同步装置,应用于显示面板的检测,包括:

2.如权利要求1所述的数据同步装置,其特征在于:

3.如权利要求1所述的数据同步装置,其特征在于:

4.如权利要求3所述的数据同步装置,其特征在于:

5.如权利要求1所述的数据同步装置,其特征在于:

6.如...

【专利技术属性】
技术研发人员:秦明马守领徐鹏
申请(专利权)人:武汉精一微仪器有限公司
类型:发明
国别省市:

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