【技术实现步骤摘要】
本说明书中实施方式涉及量子芯片测控领域，具体涉及一种用于测试的量子比特线路、量子比特测试方法及相关装置。
技术介绍
1、由于超导材料在低温环境下才能显现超导性能，因此，超导量子芯片中的超导量子比特性能测试需要在低温环境下进行。
2、在相关技术中，通常利用稀释制冷机将环境温度降至毫开(mk)级别，再在该环境温度下测试超导量子比特性能。超导量子芯片的测试线路包括与每个量子比特匹配的微波驱动线路、频率控制线路以及与多个量子比特匹配的读取线路，其中，微波驱动线路用于向每个量子比特施加驱动信号以实现量子比特工作以及能级跃迁，频率控制线路用于向每个量子比特施加频率控制信号以改变量子比特频率，读取线路用于读取和测量量子比特的状态。
3、然而，稀释制冷机中可引入的信号线路的数量有限，从而限制了每次测试过程可测试的量子芯片数量。在制冷机资源有限，且需要测试的量子芯片数量较多的情况下，测试所需的时间可能较长，进而在一定程度上延长了研发周期。
技术实现思路
1、有鉴于此，本说明书的多个实施方式提供了一种用于测试的量子比特线路、量子比特测试方法及相关装置，以在制冷机资源有限的情况下，增加每次测试过程可测试的量子芯片数量，进而缩短较多数量的量子芯片所需的整体测试时间。
2、本说明书的一个实施方式提供一种用于测试的量子比特线路，所述量子比特线路包括通过耦合连接的读取总线和量子处理器，所述读取总线用于传输对量子处理器中的量子比特单元进行测量的读取输入信号和传输由量子处理器中的
3、本说明书的一个实施方式提供一种量子比特测试方法，所述量子比特测试方法采用如上述实施方式所述的用于测试的量子比特线路对量子处理器进行测试，所述量子比特方法包括：设置所述读取总线仅传输所述读取输入信号，在第一频率范围内调整所述读取输入信号的频率，根据接收到的读取输出信号的能谱曲线，确定量子处理器中的待测的量子比特单元中量子比特探测器的频率fx；设置所述读取总线传输所述读取输入信号和所述驱动信号，将所述读取输入信号的频率设置在包括fx的第二频率范围内变化，调整所述驱动信号，根据接收到的读取输出信号的能谱曲线，确定待测的量子比特单元的工作参数；其中，所述第二频率范围处于所述第一频率范围内。
4、本说明书的一个实施方式提供一种版图结构，所述版图结构包括如上述实施方式所述的用于测试的量子比特线路；其中，所述量子比特线路被应用于如上述实施方式所述的量子比特测试方法。
5、本说明书的一个实施方式提供一种量子芯片，所述量子芯片包括如上述实施方式所述的用于测试的量子比特线路；其中，所述量子比特线路被应用于如上述实施方式所述的量子比特测试方法；或者，所述量子芯片采用如上述实施方式所述的版图结构制成。
6、本说明书提供的多个实施方式，通过复用读取总线传输不同频率的读取输入信号和驱动信号，并接收量子处理器中的量子比特单元反馈的读取输出信号，利用读取总线与量子比特单元之间的耦合关系对量子比特单元进行测试，减少了进行超导量子芯片初步测试时每个量子芯片所需的低温信号线路数量，从而在制冷机接入线路数量有限的情况下，增加了每次测试可测试的量子芯片数量，进而缩短了较多数量的量子芯片所需的整体测试时间。
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1.一种用于测试的量子比特线路，其特征在于，包括通过耦合连接的读取总线和量子处理器，所述读取总线用于传输对量子处理器中的量子比特单元进行测量的读取输入信号和传输由量子处理器中的量子比特单元反馈的读取输出信号，所述读取总线还被复用于向量子处理器传输驱动量子处理器中的量子比特单元的驱动信号，并且所述驱动信号与所述读取输入信号的频率不同。
2.根据权利要求1所述的量子比特线路，其特征在于，所述量子处理器包括多个量子比特单元，每个所述量子比特单元包括量子比特探测器和与其相互耦合的量子比特装置。
3.根据权利要求2所述的量子比特线路，其特征在于，用于对所述量子比特装置进行频率控制的频率参数调控端接地或悬空，使得所述量子比特装置的频率为恒定值。
4.一种量子比特测试方法，其特征在于，采用如权利要求1-3中任一项所述的用于测试的量子比特线路对量子处理器进行测试，所述方法包括：
5.根据权利要求4所述的量子比特测试方法，其特征在于，所述待测的量子比特单元的工作参数包括量子比特装置的频率；
6.根据权利要求5所述的量子比特测试方法，其特征
7.根据权利要求6所述的量子比特测试方法，其特征在于，所述根据所述第二特征能谱曲线确定所述量子比特装置的非谐值的步骤，包括：
8.根据权利要求5所述的量子比特测试方法，其特征在于，所述待测的量子比特单元的工作参数还包括量子比特装置的相干时间；所述驱动信号包括两个具有间隔延时参数的驱动子信号；其中，所述驱动子信号的频率被设置为在包括所述量子比特装置的频率的第四频率范围内变化；
9.一种版图结构，其特征在于，包括：如权利要求1-3中任一项所述的用于测试的量子比特线路；其中，所述量子比特线路被应用于如权利要求4-8中任一项所述的量子比特测试方法。
10.一种量子芯片，其特征在于，包括如权利要求1-3中任一项所述的用于测试的量子比特线路；其中，所述量子比特线路被应用于如权利要求4-8中任一项所述的量子比特测试方法；或者，所述量子芯片采用如权利要求9所述的版图结构制成。
...【技术特征摘要】
1.一种用于测试的量子比特线路，其特征在于，包括通过耦合连接的读取总线和量子处理器，所述读取总线用于传输对量子处理器中的量子比特单元进行测量的读取输入信号和传输由量子处理器中的量子比特单元反馈的读取输出信号，所述读取总线还被复用于向量子处理器传输驱动量子处理器中的量子比特单元的驱动信号，并且所述驱动信号与所述读取输入信号的频率不同。
2.根据权利要求1所述的量子比特线路，其特征在于，所述量子处理器包括多个量子比特单元，每个所述量子比特单元包括量子比特探测器和与其相互耦合的量子比特装置。
3.根据权利要求2所述的量子比特线路，其特征在于，用于对所述量子比特装置进行频率控制的频率参数调控端接地或悬空，使得所述量子比特装置的频率为恒定值。
4.一种量子比特测试方法，其特征在于，采用如权利要求1-3中任一项所述的用于测试的量子比特线路对量子处理器进行测试，所述方法包括：
5.根据权利要求4所述的量子比特测试方法，其特征在于，所述待测的量子比特单元的工作参数包括量子比特装置的频率；
...【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，请求不公布姓名，贾志龙，
申请(专利权)人：本源量子计算科技合肥股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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