【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及图像处理，具体涉及一种基于平板电子产品的生产质量监控方法。
技术介绍
1、平板电子产品生产过程中，液晶屏屏幕通常使用玻璃作为基板，而玻璃是一种脆性材料，容易在受到外部冲击或弯曲时发生断裂。因此平板电子产品的显示屏在生产过程中会存在崩边、划伤、裂缝、夹杂物等缺陷。现有技术通过对平板电子产品表面图像进行拍摄采集，并进行边缘检测，进而基于边缘检测结果对平板电子产品进行异常分析，通常可以提取出其中存在的缺陷，从而对电子平板产品进行质量监控；平板电子产品表面图像采集的环境需要光源显示缺陷细节，但是由于玻璃材质存在反光性，在一定角度下光源在屏幕上会留下光斑，边缘检测图像中与崩边缺陷高度相似，从而对缺陷检测结果产生干扰，使得平板电子产品生产质量的检测结果的准确度较低。
技术实现思路
1、为了解决现有方法在对平板电子产品生产质量进行检测时存在的检测结果的准确度较低的问题，本专利技术的目的在于提供一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，所采用的技术方案具体如下：
2、本专利技术提供了一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，该方法包括以下步骤：
3、获取待检测平板电子产品的表面图像，对所述表面图像进行边缘检测获得目标边缘线和非目标边缘线；
4、根据每条目标边缘线上边缘点的斜率变化程度以及每条目标边缘线所围成的闭合区域内非目标边缘线的数量，得到每条目标边缘线的崩边表征值；基于所述崩边表征值确定疑似崩边缺陷边缘线；
5、根据每条疑似崩边缺陷边缘
6、基于所述崩边缺陷边缘线对待检测平板电子产品的质量进行判断。
7、优选的，所述对所述表面图像进行边缘检测获得目标边缘线和非目标边缘线，包括：
8、对所述表面图像进行边缘检测获得若干条边缘线，将闭合的边缘线作为目标边缘线，将非闭合的边缘线作为非目标边缘线。
9、优选的，所述根据每条目标边缘线上边缘点的斜率变化程度以及每条目标边缘线所围成的闭合区域内非目标边缘线的数量，得到每条目标边缘线的崩边表征值，包括：
10、对于第a条目标边缘线：
11、计算第a条目标边缘线上所有边缘点的斜率变化程度的方差；
12、根据第a条目标边缘线上所有边缘点的斜率变化程度、第a条目标边缘线所围成的闭合区域内非目标边缘线的数量和第a条目标边缘线上所有边缘点的斜率变化程度的方差，获得第a条目标边缘线的崩边表征值。
13、优选的，所述斜率变化程度的获取，包括：
14、对于第a条目标边缘线上的第i个边缘点：将第i-1个边缘点的斜率与第i个边缘点的斜率之间的差值的绝对值，作为第i个边缘点的斜率变化程度。
15、优选的，采用如下公式计算第a条目标边缘线的崩边表征值：
16、
17、其中，表示第a条目标边缘线的崩边表征值，表示第a条目标边缘线上的边缘点的数量，表示第a条目标边缘线上第i个像素点的斜率变化程度，表示第a条目标边缘线上所有像素点的斜率变化程度的平均值，表示第a条目标边缘线所围成的闭合区域内非目标边缘线的数量，norm（ ）表示归一化函数，表示取绝对值符号。
18、优选的，所述根据每条疑似崩边缺陷边缘线的崩边表征值、每条疑似崩边缺陷边缘线上边缘点的斜率变化程度与其相邻点的灰度值的波动情况之间的相似程度、每条疑似崩边缺陷边缘线所围成的闭合区域内像素点灰度值的离散程度、每条疑似崩边缺陷边缘线所围成的闭合区域内像素点的灰度值、每条疑似崩边缺陷边缘线所围成的闭合区域内每个像素点与其邻域像素点的灰度差异以及离散情况，得到每条疑似崩边缺陷边缘线的异常程度，包括：
19、对于第b条疑似崩边缺陷边缘线：
20、将第b条疑似崩边缺陷边缘线所围成的闭合区域内最小灰度值的像素点的数量与第b条疑似崩边缺陷边缘线所围成的闭合区域内最大灰度值的像素点的数量之间的比值，记为第一比值；
21、计算第b条疑似崩边缺陷边缘线上所有边缘点的斜率变化程度的方差；
22、对于第b条疑似崩边缺陷边缘线上的第j个边缘点：将位于第b条疑似崩边缺陷边缘线所围成的闭合区域内部，且与第j个边缘点相邻的像素点作为该边缘点的参考点；分别将第j个边缘点与其邻域内每个像素点的灰度值的差值记为第j个边缘点的邻域内每个像素点的灰度差，将第j个边缘点的邻域内所有像素点的灰度差的方差作为第j个边缘点对应的方差值；第j个边缘点的邻域内所有像素点的灰度差构成第j个边缘点对应的灰度差值集合；
23、第b条疑似崩边缺陷边缘线上所有边缘点的参考点的灰度值构成第b条疑似崩边缺陷边缘线对应的参考灰度值序列；第b条疑似崩边缺陷边缘线上所有边缘点对应的斜率变化程度构成第b条疑似崩边缺陷边缘线对应的斜率变化程度序列；
24、根据第b条疑似崩边缺陷边缘线对应的斜率变化程度序列与对应的参考灰度值序列之间的相似程度、第b条疑似崩边缺陷边缘线的崩边表征值、第b条疑似崩边缺陷边缘线上所有边缘点对应的灰度差值集合、第b条疑似崩边缺陷边缘线上所有边缘点对应的方差值、第b条疑似崩边缺陷边缘线上所有边缘点的斜率变化程度的方差和所述第一比值，获得第b条疑似崩边缺陷边缘线的异常程度。
25、优选的，采用如下公式计算第b条疑似崩边缺陷边缘线的异常程度：
26、
27、其中，表示第b条疑似崩边缺陷边缘线的异常程度，表示第b条疑似崩边缺陷边缘线的崩边表征值，表示第b条疑似崩边缺陷边缘线对应的斜率变化程度序列与第b条疑似崩边缺陷边缘线对应的参考灰度值序列之间的相似程度，表示第b条疑似崩边缺陷边缘线所围成的闭合区域内所有像素点的灰度值的方差，表示第b条疑似崩边缺陷边缘线所围成的闭合区域内最小灰度值的像素点的数量，表示第b条疑似崩边缺陷边缘线所围成的闭合区域内最大灰度值的像素点的数量，表示第b条疑似崩边缺陷边缘线上所有边缘点的方差值的最大值，表示所有灰度差值集合中的最大元素值，为预设第一调整参数，大于0。
28、优选的，所述基于所述崩边表征值确定疑似崩边缺陷边缘线，包括：
29、将崩边表征值大于预设崩边阈值的目标边缘线确定为疑似崩边缺陷边缘线。
30、优选的，所述基于所述异常程度筛选崩边缺陷边缘线，包括：
31、将异常程度大于预设异常程度阈值的疑似崩边缺陷边缘线，确定为崩边缺陷边缘线。
32、优选的，所述基于所述崩边缺陷边缘线对待检测平板电子产品的质量进行判断，包括：
33、统计所有本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，其特征在于，所述对所述表面图像进行边缘检测获得目标边缘线和非目标边缘线，包括：
3.根据权利要求1所述的一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，其特征在于，所述根据每条目标边缘线上边缘点的斜率变化程度以及每条目标边缘线所围成的闭合区域内非目标边缘线的数量，得到每条目标边缘线的崩边表征值，包括：
4.根据权利要求1所述的一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，其特征在于，所述斜率变化程度的获取，包括：
5.根据权利要求3所述的一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，其特征在于，采用如下公式计算第a条目标边缘线的崩边表征值：
6.根据权利要求1所述的一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，其特征在于，所述根据每条疑似崩边缺陷边缘线的崩边表征值、每条疑似崩边缺陷边缘线上边缘点的斜率变化程度与其相邻点的灰度值的波动情况之间的相似程度、每条疑似崩边缺陷边缘线所围成的闭合区域内像素点灰度值的离
7.根据权利要求6所述的一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，其特征在于，采用如下公式计算第b条疑似崩边缺陷边缘线的异常程度：
8.根据权利要求1所述的一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，其特征在于，所述基于所述异常程度筛选崩边缺陷边缘线，包括：
9.根据权利要求1所述的一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，其特征在于，所述基于所述崩边缺陷边缘线对待检测平板电子产品的质量进行判断，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，其特征在于，所述对所述表面图像进行边缘检测获得目标边缘线和非目标边缘线，包括：
3.根据权利要求1所述的一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，其特征在于，所述根据每条目标边缘线上边缘点的斜率变化程度以及每条目标边缘线所围成的闭合区域内非目标边缘线的数量，得到每条目标边缘线的崩边表征值，包括：
4.根据权利要求1所述的一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，其特征在于，所述斜率变化程度的获取，包括：
5.根据权利要求3所述的一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，其特征在于，采用如下公式计算第a条目标边缘线的崩边表征值：
6.根据权利要求1所述的一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，其特征在于，所述根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：张志，
申请(专利权)人：深圳市未尔科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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