基膜尺寸测量装置制造方法及图纸

技术编号:40624892 阅读:7 留言:0更新日期:2024-03-12 22:47
本申请涉及一种基膜尺寸测量装置,基膜尺寸测量装置包括基膜固定机构、直线传动机构、显微镜以及测量机构。基膜固定机构用于固定基膜。直线传动机构设置在基膜固定机构的一侧。显微镜与直线传动机构的滑块连接,显微镜设置在基膜固定机构的上方,用于放大并显示基膜的边界。测量机构用于测量滑块的位移。通过显微镜可准确定位线条的边界,测量机构用于带动显微镜移动,从而将基膜的尺寸转化滑块的位移,通过测量装置能够准确测量出滑块的位移,从而能够提高基膜尺寸测量装置的测量精度。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及基膜尺寸测量装置,特别是涉及基膜尺寸测量装置。


技术介绍

1、随着新能源行业的迅速扩张,对基膜的需求量日益增加。在双向拉伸基膜的生产过程中,热收缩性能是一项重要的参数,很多应用场景对热收缩有很高的要求。

2、以双向拉伸聚酯基膜为例,现有的国家标准是用精度为0.5mm的钢直尺进行人工测量。

3、但由于在测量时存在人为误差,钢直尺的分度值最高精度是0.5mm,测量样品的标准大小是100mm,测量时凭内眼来判断,这就意味着收缩率0.5%以下时全靠人的经验来估,这就带来很大的不确定性。基膜在某些应用场景下需要横向是0%至0.3%的收缩范围,而不同人员在同一工艺环境下产出的基膜做收缩试验时得到差异较大的测试结果,甚至有的明明是负收缩,而结果给出的是正收缩。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对人工测量误差大的问题,提供一种基膜尺寸测量装置。

2、一种基膜尺寸测量装置,所述基膜尺寸测量装置包括:

3、基膜固定机构,用于固定基膜;

4、直线传动机构,设置在所述基膜固定机构的一侧;

5、显微镜,与所述直线传动机构的滑块连接,所述显微镜设置在所述基膜固定机构的上方,用于放大并显示所述基膜的边界;

6、测量机构,用于测量所述滑块的位移。

7、在其中一个实施例中,所述直线传动机构包括:

8、固定座;

9、丝杆,所述丝杆可转动的设置在所述固定座上;

10、螺母座,所述直线传动机构的滑块为螺母座,所述螺母座与所述丝杆螺纹连接;以及

11、转动把手,与所述丝杆的一端连接。

12、在其中一个实施例中,所述直线传动机构包括电机,所述丝杆远离所述转动把手的一端与所述电机的驱动轴连接。

13、在其中一个实施例中,所述基膜尺寸测量装置还包括控制器和位移传感器,所述位移传感器和所述电机分别与所述控制器电连接,所述位移传感器用于监测所述滑块的位移,所述控制器用于接收所述位移,并根据所述位移值控制所述电机停机。

14、在其中一个实施例中,所述测量机构为数显电子尺,所述数显电子尺的测量端与所述滑块连接。

15、在其中一个实施例中,所述数显电子尺的精度.mm。

16、在其中一个实施例中,所述基膜尺寸测量装置还包括显示器,所述显示器与所述显微镜电连接,所述显示器用于显示与所述显微镜的镜头中心位置相对应的十字基准线。

17、在其中一个实施例中,所述基膜固定机构包括放置台和负压组件,所述放置台用于放置基膜,所述放置台上开设有多个抽吸孔,所述负压组件与所述抽吸孔连通。

18、在其中一个实施例中,所述基膜固定机构包括放置台、磁体和按压件,所述放置台用于放置基膜,所述磁体设置在所述放置台的周侧,所述按压件的两端分别与位于所述放置台两端的所述磁体吸合,所述按压件靠近所述磁体的一侧的表面为平面。

19、在其中一个实施例中,所述基膜尺寸测量装置还包括高度调节组件,所述高度调节组件设置在所述直线传动机构的滑块上,所述显微镜设置在所述高度调节组件上。

20、上述基膜尺寸测量装置,通过显微镜可准确定位线条的边界,测量机构用于带动显微镜移动,从而将基膜的尺寸转化滑块的位移,通过测量装置能够准确测量出滑块的位移,从而能够提高基膜尺寸测量装置的测量精度。

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【技术保护点】

1.一种基膜尺寸测量装置,其特征在于,所述基膜尺寸测量装置包括:

2.根据权利要求1所述的基膜尺寸测量装置,其特征在于,所述直线传动机构(200)包括:

3.根据权利要求2所述的基膜尺寸测量装置,其特征在于,所述直线传动机构(200)包括电机(250),所述丝杆(220)远离所述转动把手(240)的一端与所述电机(250)的驱动轴连接。

4.根据权利要求3所述的基膜尺寸测量装置,其特征在于,所述基膜尺寸测量装置还包括控制器和位移传感器,所述位移传感器和所述电机(250)分别与所述控制器电连接,所述位移传感器用于监测所述滑块(230)的位移,所述控制器用于接收所述位移,并根据所述位移的值控制所述电机(250)停机。

5.根据权利要求1所述的基膜尺寸测量装置,其特征在于,所述测量机构(400)为数显电子尺,所述数显电子尺的测量端与所述滑块(230)连接。

6.根据权利要求5所述的基膜尺寸测量装置,其特征在于,所述数显电子尺的精度0.02mm。

7.根据权利要求1所述的基膜尺寸测量装置,其特征在于,所述基膜尺寸测量装置还包括显示器(310),所述显示器(310)与所述显微镜(300)电连接,所述显示器(310)用于显示与所述显微镜(300)的镜头中心位置相对应的十字基准线。

8.根据权利要求1所述的基膜尺寸测量装置,其特征在于,所述基膜固定机构(100)包括放置台(110)和负压组件,所述放置台(110)用于放置基膜,所述放置台(110)上开设有多个抽吸孔,所述负压组件与所述抽吸孔连通。

9.根据权利要求1所述的基膜尺寸测量装置,其特征在于,所述基膜固定机构(100)包括放置台(110)、磁体和按压件,所述放置台(110)用于放置基膜,所述磁体设置在所述放置台(110)的周侧,所述按压件的两端分别与位于所述放置台(110)两端的所述磁体吸合,所述按压件靠近所述磁体的一侧的表面为平面。

10.根据权利要求1所述的基膜尺寸测量装置,其特征在于,所述基膜尺寸测量装置还包括高度调节组件(130),所述高度调节组件(130)设置在所述直线传动机构(200)的滑块(230)上,所述显微镜(300)设置在所述高度调节组件(130)上。

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【技术特征摘要】

1.一种基膜尺寸测量装置,其特征在于,所述基膜尺寸测量装置包括:

2.根据权利要求1所述的基膜尺寸测量装置,其特征在于,所述直线传动机构(200)包括:

3.根据权利要求2所述的基膜尺寸测量装置,其特征在于,所述直线传动机构(200)包括电机(250),所述丝杆(220)远离所述转动把手(240)的一端与所述电机(250)的驱动轴连接。

4.根据权利要求3所述的基膜尺寸测量装置,其特征在于,所述基膜尺寸测量装置还包括控制器和位移传感器,所述位移传感器和所述电机(250)分别与所述控制器电连接,所述位移传感器用于监测所述滑块(230)的位移,所述控制器用于接收所述位移,并根据所述位移的值控制所述电机(250)停机。

5.根据权利要求1所述的基膜尺寸测量装置,其特征在于,所述测量机构(400)为数显电子尺,所述数显电子尺的测量端与所述滑块(230)连接。

6.根据权利要求5所述的基膜尺寸测量装置,其特征在于,所述数显电子尺的精度0.02mm。

7.根据权利要求1所述的基膜尺寸测量装置,其特征在于,...

【专利技术属性】
技术研发人员:王晓军华斌高明辉胡昊
申请(专利权)人:扬州博恒新能源材料科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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