【技术实现步骤摘要】
本技术涉及材料辐射性能测试，尤其涉及一种材料表面发射率测量装置。
技术介绍
1、材料表面发射率的数据对工程设计、实验科学具有重要的指导作用。由于材料表面发射率的大小受到材料本身性质、材料温度、材料表面处理方式等多种因素的影响，这导致材料表面发射率大小难以通过计算得出，需要进行实验获得数据。
2、目前，能量法是测量材料表面发射率的众多方法中的其中一种。能量法测量材料表面发射率的原理是在同一温度下用同一探测器分别测量黑体及样品的辐射功率，两者的比值就是材料的发射率值。该方法具有测试时间短、能够测量样品表面光谱发射率等优点，具有广泛的应用。
3、能量法需要使用制冷设备对测量装置的内部进行冷却，但是制冷机在工作时的振动会带动测量装置产生振动，由于测量装置用于反射样品或黑体发射的电磁波的反射面较小，振动可能会出现反射面无法对准探测器的情况，导致探测器接收到的电磁波时断时续，最终导致测试结果出现误差。
技术实现思路
1、本技术提供一种材料表面发射率测量装置，用以解决现有技术中制冷设备的振动导致探测器无法连续接收电磁波，最终导致测量结果出现误差的缺陷，实现削弱制冷机的振动传递至测量装置的效果。
2、本技术提供一种材料表面发射率测量装置，包括：
3、支撑架；
4、真空罩，所述真空罩设置在所述支撑架上；
5、发射率测量组件，所述发射率测量组件设置在所述真空罩内，用于测量黑体和样品的发射率；
6、制冷设备，所述制冷设备
7、根据本技术提供的材料表面发射率测量装置，所述制冷设备通过柔性导热件与所述发射率测量组件导热连接。
8、根据本技术提供的材料表面发射率测量装置，所述发射率测量组件包括：
9、第一罩体，所述第一罩体设置在所述真空罩内，且所述第一罩体通过所述柔性导热件与所述制冷设备导热连接；
10、支撑板，所述支撑板设置在所述第一罩体内；
11、反射组件，所述反射组件设置在所述支撑板上，且所述反射组件的入射端可转动；
12、至少两个被测件支架，多个被测件支架设置在所述支撑板上，且多个所述被测件支架沿所述反射组件的入射端的周向分布，其中一个所述被测件支架用于固定所述黑体，其余所述被测件支架用于固定所述样品；
13、探测器，所述探测器设置在所述支撑板上，且所述探测器用于接收所述反射组件反射的由所述黑体或所述样品发射的电磁波。
14、根据本技术提供的材料表面发射率测量装置，还包括斩波器，所述斩波器设置在所述反射组件的发射端与所述探测器的接收端之间。
15、根据本技术提供的材料表面发射率测量装置，所述反射组件包括：
16、第二罩体，所述第二罩体与所述支撑板连接，且所述第二罩体通过所述柔性导热件与所述制冷设备连接；
17、第一反射镜，所述第一反射镜可转动的设置在所述第二罩体内，且用于可选择的接收所述样品或所述黑体发射的电磁波；
18、第二反射镜，所述第二反射镜设置在所述第二罩体内，且用于接收所述第一反射镜反射的电磁波，并将所述电磁波发射至所述探测器；
19、驱动装置，所述驱动装置与所述第一反射镜传动连接，且用于带动所述第一反射镜可选择的接收所述黑体或其中一个所述样品发射的电磁波。
20、根据本技术提供的材料表面发射率测量装置，所述制冷设备包括多个，每个所述制冷设备包括多个冷量输出端，多个所述冷量输出端通过所述柔性导热件分别与所述第一罩体、所述第二罩体、所述样品、所述黑体和所述探测器一一对应连接。
21、根据本技术提供的材料表面发射率测量装置，所述第一反射镜的外侧还设置有第三罩体，所述第三罩体与所述第一反射镜的反射面对应的一侧设置有入射通道。
22、根据本技术提供的材料表面发射率测量装置，所述柔性连接件包括波纹管和/或橡胶隔震垫。
23、根据本技术提供的材料表面发射率测量装置，所述柔性导热件为铜辫子。
24、根据本技术提供的材料表面发射率测量装置，所述驱动装置为第一驱动电机。
25、本技术提供的材料表面发射率测量装置，包括真空罩、发射率测量组件和制冷设备。发射率测量组件设置在真空罩的内部，发射率测量组件用于测量黑体和样品的发射率，真空罩用于为发射率的测量提供真空环境。制冷设备通过柔性连接件悬挂在真空罩的底部，制冷设备用于为发射率测量组件提供冷量。真空罩和制冷设备为发射率的测量提供真空低温环境，可以有效的降低背景噪声。与相关技术中制冷设备与发射率测量组件刚性连接传递冷量的方式相比，本技术中的制冷设备通过柔性连接件悬挂在真空罩的底部，可以有效削弱制冷设备的振动传递至发射率测量组件，使测量过程中，发射率测量组件更加稳定，有效提高测量的准确率。
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1.一种材料表面发射率测量装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的材料表面发射率测量装置，其特征在于，所述制冷设备通过柔性导热件与所述发射率测量组件导热连接。
3.根据权利要求2所述的材料表面发射率测量装置，其特征在于，所述发射率测量组件包括：
4.根据权利要求3所述的材料表面发射率测量装置，其特征在于，还包括斩波器，所述斩波器设置在所述反射组件(330)的发射端与所述探测器(350)的接收端之间。
5.根据权利要求3所述的材料表面发射率测量装置，其特征在于，所述反射组件(330)包括：
6.根据权利要求5所述的材料表面发射率测量装置，其特征在于，所述制冷设备包括多个，每个所述制冷设备包括多个冷量输出端，多个所述冷量输出端通过所述柔性导热件分别与所述第一罩体(310)、所述第二罩体(331)、所述样品(220)、所述黑体(210)和所述探测器(350)一一对应连接。
7.根据权利要求5所述的材料表面发射率测量装置，其特征在于，所述第一反射镜(332)的外侧还设置有第三罩体(335)，所述第三罩体(3
8.根据权利要求1所述的材料表面发射率测量装置，其特征在于，所述柔性连接件包括波纹管(610)和/或橡胶隔震垫(620)。
9.根据权利要求2或6所述的材料表面发射率测量装置，其特征在于，所述柔性导热件为铜辫子。
10.根据权利要求5所述的材料表面发射率测量装置，其特征在于，所述驱动装置为第一驱动电机(334)。
...【技术特征摘要】
1.一种材料表面发射率测量装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的材料表面发射率测量装置，其特征在于，所述制冷设备通过柔性导热件与所述发射率测量组件导热连接。
3.根据权利要求2所述的材料表面发射率测量装置，其特征在于，所述发射率测量组件包括：
4.根据权利要求3所述的材料表面发射率测量装置，其特征在于，还包括斩波器，所述斩波器设置在所述反射组件(330)的发射端与所述探测器(350)的接收端之间。
5.根据权利要求3所述的材料表面发射率测量装置，其特征在于，所述反射组件(330)包括：
6.根据权利要求5所述的材料表面发射率测量装置，其特征在于，所述制冷设备包括多个，每个所述制冷设备包括多个冷量输出端，多个所述冷量输出端通过所...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵雨晨，张恒成，沈福至，黄子淳，李来风，
申请(专利权)人：中国科学院理化技术研究所，
类型：新型
国别省市：
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