【技术实现步骤摘要】
本申请属于电子，尤其涉及一种介质滤波器调试系统。
技术介绍
1、随着5g通信技术的快速发展，滤波器逐渐向小型化发展，介质波导滤波器是最近几年出现的一种新的滤波器品种。虽然介质波导滤波器脱胎于常见的空气填充波导滤波器，但介质波导滤波器的制造工艺与空气填充波导滤波器完全不同，也因此使得介质滤波器的调试技术不同于传统的滤波器调试技术，介质滤波器的自动调试系统在不断发展和更新。
2、目前在调试过程中，介质滤波器放在调试系统测试夹具上，并与矢量网络分析仪(vectornetwork analyzer，vna)连接，vna测量当前滤波器的性能参数后，本地控制机判断响应是否符合设计指标，若符合指标则介质滤波器合格，将介质滤波器从测试夹具移走，若不合格则控制激光刻蚀调谐机对表面金属层进行打磨，对打磨过的介质滤波器再次进行判断，若合格则送去生产包装，若不合格则再次打磨，如此重复几次后仍不符合要求，则此滤波器报废。
3、在该过程中，由于介质滤波器表面的金属层只能被削薄，所以介质滤波器的调试是一个不可逆的过程，在测试设备和算法好坏的过程中，可能会浪费很多介质滤波器，造成很多原料的浪费，导致成本的增加。且目前的介质滤波器的调试系统大部分是定制的，一台机器只能调试一种具有特定拓扑结构的介质滤波器，可拓展性很差。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了一种介质滤波器调试系统，以解决现有技术中介质滤波器的调试造成原料浪费，可拓展性差的问题。
2、本申请实施例提供了一种介质滤波器
3、激光功率传感器，包括设定数量的传感单元，每一所述传感单元上包含激光功率感测区域；其中，设定数量的所述传感单元依照待测介质滤波器中待激光刻蚀部件间的拓扑结构进行排列布局；
4、激光发射器，用于依照预设激光控制参数朝向所述激光功率感测区域发射激光；
5、单片机，连接所述激光功率传感器，用于获取激光功率传感参数及输出与所述激光功率传感参数对应的电气性能参数；
6、控制器，与所述单片机及所述激光发射器连接。
7、可选地，所述待测介质滤波器中待激光刻蚀部件包括谐振腔及耦合膜片；
8、所述传感单元包括与所述谐振腔对应的第一传感单元及与所述耦合膜片对应的第二传感单元；
9、所述第一传感单元及所述第二传感单元依照所述谐振腔与所述耦合膜片间的拓扑结构进行排列布局。
10、可选地，所述待测介质滤波器中所述谐振腔为多个，所述耦合膜片位于相邻两个所述谐振腔之间，多个所述谐振腔与所述耦合膜片之间形成所述拓扑结构。
11、可选地，所述第二传感单元排布于相邻的两个所述第一传感单元之间。
12、可选地，所述第一传感单元的数量大于或等于所述第二传感单元的数量。
13、可选地，所述谐振腔及所述耦合膜片上设置有调谐孔；所述激光功率感测区域对应于所述调谐孔所在区域。
14、可选地，所述控制器包括：本地控制机及所述本地控制机连接的远程算法调试服务器；
15、所述本地控制机与所述单片机及所述激光发射器连接；
16、所述远程算法调试服务器中设置有关系模型库，所述关系模型库中存储有所述待测介质滤波器的电气性能参数与预设激光控制参数间的关系模型，所述预设激光控制参数包括激光发射区域及所述激光发射区域的区域面积。
17、可选地，设定数量的所述传感单元形成首尾相连的环形排布结构。
18、可选地，设定数量的所述传感单元形成依次连接的线形排布结构。
19、可选地，所述电气性能参数包括s参数。
20、由上可见，本申请实施例中，通过设置激光功率传感器，并建立激光功率传感器中感测区域与待测介质滤波器中可激光打磨区域的对应关系，实现利用激光功率传感器对调试系统对应的待测介质滤波器进行激光打磨模拟，并基于此推算出待测介质滤波器中目标部位被打磨后的电气性能，可重复实验模拟操作，不需要借助真实介质滤波器即可实现对调试系统的测试校准，减少原料浪费，且激光功率传感器中感测区域与待测介质滤波器中可激光打磨区域的对应关系，可以根据介质滤波器的型号或拓扑结构的不同进行构建，实现对不同拓扑结构的介质滤波器的模拟操作，具备良好的可拓展性。
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1.一种介质滤波器调试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述待测介质滤波器中待激光刻蚀部件包括谐振腔及耦合膜片；
3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，
4.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述第二传感单元排布于相邻的两个所述第一传感单元之间。
5.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述第一传感单元的数量大于或等于所述第二传感单元的数量。
6.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述谐振腔及所述耦合膜片上设置有调谐孔；所述激光功率感测区域对应于所述调谐孔所在区域。
7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制器包括：本地控制机及所述本地控制机连接的远程算法调试服务器；
8.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，设定数量的所述传感单元形成首尾相连的环形排布结构。
9.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，设定数量的所述传感单元形成依次连接的线形排布结构。
10.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述电气性能参数包括S
...【技术特征摘要】
1.一种介质滤波器调试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述待测介质滤波器中待激光刻蚀部件包括谐振腔及耦合膜片；
3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，
4.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述第二传感单元排布于相邻的两个所述第一传感单元之间。
5.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述第一传感单元的数量大于或等于所述第二传感单元的数量。
6.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述谐振...
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