System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 用于电子设备的温度测试的测试装置制造方法及图纸_技高网

用于电子设备的温度测试的测试装置制造方法及图纸

技术编号:40611635 阅读:3 留言:0更新日期:2024-03-12 22:19
本发明专利技术提供了一种用于待测设备(DUT)的测试装置,该测试装置包括至少一个进气风门和至少一个排气风门。至少一个风扇使再循环流体和外部流体跨测试装置内部的一个或多个DUT移动。在一个方面,测试装置包括门以提供通向室的入口,并且该门包括至少一个通道。流体的至少一部分流过门的至少一个通道。在另一方面,门被配置为提供从室的前部通向室的入口,并且流体在基本上从室的前部朝向室的后部跨一个或多个DUT的方向上移动。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】


技术介绍

1、电子设备的制造商通常在不同的温度条件下测试被称为待测设备(dut)的设备。例如,固态驱动器(ssd)或其他类型的数据存储设备(lsd)通常在离开工厂之前在不同温度下进行测试以确保在数据保持和操作性能方面的质量控制,或确定最大操作温度。在一些情况下,许多dsd可在测试装置内部同时进行温度测试。然而,使用常规测试装置对dsd的这种同时温度测试通常在测试装置的整个测试室中的不同位置处遭受变化的温度。常规测试装置中的这种不均匀温度分布导致针对被测试的装置的不一致测试结果。


技术实现思路

【技术保护点】

1.一种用于测试待测设备(DUT)的测试装置,所述测试装置包括:

2.根据权利要求1所述的测试装置,所述测试装置还包括多个流体流动区,其中所述多个流体流动区中的流体流动区包括:

3.根据权利要求2所述的测试装置,其中所述多个流体流动区中的所述流体流动区相对于所述测试装置搁置在其上的表面基本上水平地堆叠。

4.根据权利要求1所述的测试装置,所述测试装置还包括控制器,所述控制器被配置为控制所述至少一个进气风门和所述至少一个排气风门以近似维持所述测试装置内部的目标温度。

5.根据权利要求1所述的测试装置,所述测试装置还包括用于接近所述测试装置内部的门,其中所述门包括用于流体流的通道,所述流体流包括所述再循环流体和所述外部流体中的至少一者。

6.根据权利要求5所述的测试装置,其中所述通道被配置为将所述外部流体与所述再循环流体混合。

7.根据权利要求5所述的测试装置,其中所述通道包括分配器,所述分配器被配置为在所述测试装置中的多个储存设备之间分配所述再循环流体和所述外部流体中的至少一者。

8.根据权利要求1所述的测试装置,所述测试装置还包括用于在所述测试装置内部接纳DUT的狭槽,其中所述狭槽布置成至少一行,使得所述再循环流体相对于虚拟平面沿顺时针方向或逆时针方向跨所述至少一行中的所述DUT移动。

9.一种用于测试待测设备(DUT)的测试装置,所述测试装置包括:

10.根据权利要求9所述的测试装置,所述测试装置还包括多个流体流动区,其中所述多个流体流动区中的流体流动区包括:

11.根据权利要求9所述的测试装置,其中所述流体流动区相对于所述测试装置搁置在其上的表面水平地堆叠。

12.根据权利要求9所述的测试装置,所述测试装置还包括:

13.根据权利要求12所述的测试装置,其中所述至少一个通道被配置为将所述外部流体与所述再循环流体混合。

14.根据权利要求9所述的测试装置,其中所述至少一个通道包括分配器,所述分配器被配置为在所述测试装置中的多个DUT之间分配在所述通道中流动的所述流体。

15.根据权利要求9所述的测试装置,所述测试装置还包括用于在所述室中接纳DUT的狭槽,其中所述狭槽布置成至少一行,使得所述再循环流体相对于虚拟平面沿顺时针方向或逆时针方向跨所述至少一行中的储存设备移动。

16.一种用于测试待测设备(DUT)的测试装置,所述测试装置包括:

17.根据权利要求16所述的测试装置,所述测试装置还包括:

18.根据权利要求16所述的测试装置,所述测试装置还包括多个流体流动区,其中所述多个流体流动区中的流体流动区包括:

19.根据权利要求16所述的测试装置,其中所述门还包括至少一个通道,所述至少一个通道被配置为将所述流体从所述室的所述前部朝向所述一个或多个DUT引导。

20.根据权利要求19所述的测试装置,其中所述至少一个通道包括分配器,所述分配器被配置为在所述测试装置中的多个DUT之间分配在所述通道中流动的流体。

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【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种用于测试待测设备(dut)的测试装置,所述测试装置包括:

2.根据权利要求1所述的测试装置,所述测试装置还包括多个流体流动区,其中所述多个流体流动区中的流体流动区包括:

3.根据权利要求2所述的测试装置,其中所述多个流体流动区中的所述流体流动区相对于所述测试装置搁置在其上的表面基本上水平地堆叠。

4.根据权利要求1所述的测试装置,所述测试装置还包括控制器,所述控制器被配置为控制所述至少一个进气风门和所述至少一个排气风门以近似维持所述测试装置内部的目标温度。

5.根据权利要求1所述的测试装置,所述测试装置还包括用于接近所述测试装置内部的门,其中所述门包括用于流体流的通道,所述流体流包括所述再循环流体和所述外部流体中的至少一者。

6.根据权利要求5所述的测试装置,其中所述通道被配置为将所述外部流体与所述再循环流体混合。

7.根据权利要求5所述的测试装置,其中所述通道包括分配器,所述分配器被配置为在所述测试装置中的多个储存设备之间分配所述再循环流体和所述外部流体中的至少一者。

8.根据权利要求1所述的测试装置,所述测试装置还包括用于在所述测试装置内部接纳dut的狭槽,其中所述狭槽布置成至少一行,使得所述再循环流体相对于虚拟平面沿顺时针方向或逆时针方向跨所述至少一行中的所述dut移动。

9.一种用于测试待测设备(dut)的测试装置,所述测试装置包括:

10.根据权利要求9所述的测试装置,所述测试装置还包括多个流...

【专利技术属性】
技术研发人员:B·D·潘A·达涅什加
申请(专利权)人:西部数据技术公司
类型:发明
国别省市:

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