【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及故障检测，且更具体地，涉及一种故障检测方法、装置、可读存储介质及电子设备。
技术介绍
1、随着社会经济的发展，为了保证产品质量，生产工艺中产品的故障检测具有十分重要意义。例如，对于半导体的生成，在生产过程中及早发现缺陷，及时排除缺陷原因，丢弃缺陷样本，可以防止对缺陷晶粒继续加工。目前，在对生产工艺中的产品进行故障检测时，对于产品表面的非连续的故障，检测准确性较低。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种故障检测方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备，以解决现有技术中无法准确对非连续的故障进行检测的技术问题。
2、根据本专利技术的第一方面，提供了一种故障检测方法，包括：
3、获取目标图像中的故障区域；
4、在至少两个故障区域对应同一故障类型的情况下，在所述至少两个故障区域中选取出当前故障区域；并确定所述当前故障区域对应的当前连接阈值，
5、若在所述当前故障区域的当前连接阈值范围内存在第一故障区域，所述第一故障区域为与所述当前故障...
【技术保护点】
1.一种故障检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述若在所述当前故障区域的当前连接阈值范围内存在第一故障区域的步骤前，所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定当前故障区域对应的当前连接阈值的步骤，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述至少两个故障区域中选取出当前故障区域的步骤，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述若在所述当前故障区域的当前连接阈值范围内不存在所述第一故障区域，确定第一故障检测结果的步骤，包括：
<...【技术特征摘要】
1.一种故障检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述若在所述当前故障区域的当前连接阈值范围内存在第一故障区域的步骤前，所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定当前故障区域对应的当前连接阈值的步骤，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述至少两个故障区域中选取出当前故障区域的步骤，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述若在所述当前故障区域的当前连接阈值范围内不存在所述第一故障区域，确定第一故障检测结果的步骤，...
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