System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 正交轴向涡流探头及含有其的涡流检测装置制造方法及图纸_技高网
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正交轴向涡流探头及含有其的涡流检测装置制造方法及图纸

技术编号:40609309 阅读:4 留言:0更新日期:2024-03-12 22:16
一种正交轴向涡流探头,包括:探头由激励线圈和检测线圈相互正交放置组合而成;检测线圈为矩形线圈,垂直于待测金属工件表面放置;激励线圈为跑道型线圈,轴向放置于检测线圈中心;一种含有上述正交轴向涡流探头的涡流检测装置,包括:信号发生器、功率放大器、正交轴向涡流探头、扫描辅助组件及信号采集器;功率放大器的输入端与信号发生器电连接,功率放大器的输出端与正交轴向涡流探头的激励线圈电连接;信号采集器的输入端与正交涡流探头的检测线圈电连接;正交轴向涡流探头置于扫描辅助组件上。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及金属材料无损检测设备,特别涉及一种正交轴向涡流探头及含有其的涡流检测装置


技术介绍

1、随着经济的发展和工业化的加速发展,金属材料的需求量不断增大,因此,金属材料的缺陷检测具有重要意义。在众多无损检测技术中,涡流检测是在电磁感应原理基础上发展起来的一种技术。根据电磁感应原理,载有交流电的激励线圈会产生交变磁场,当被测金属材料处于交变磁场时,其表面及近表面会感应出涡流,感应的涡流产生的二次磁场反作用于检测线圈周围原有的磁场分布,在有缺陷和没有缺陷处涡流产生的二次磁场强度不同,从而导致检测线圈的测量阻抗发生变化,因此通过分析检测线圈的阻抗变化就可以有效获得被测金属材料的缺陷特性。

2、在涡流检测技术中,基于正交轴向探头的涡流检测技术,因正交轴向探头所具有的自差分、自消零及噪声抑制的优良特性而格外突出。但传统正交轴向探头的结构设计中,一方面,激励线圈多采用矩形线圈,为了避免电流在流经矩形线圈转角处发生突变,矩形线圈的宽度不能太小,而具有较宽宽度的矩形激励线圈,导致激励线圈产生的交变磁场在矩形线圈的中心处产生较大的无磁场的空心区域,进而导致被测金属材料在无磁场的空心区域中无法被感应出涡流,造成检测精度下降;另一方面,激励线圈设置于外圈而检测线圈设置于内圈,使得检测线圈距离被测金属工件较远,在获取被测金属工件的信息时,精度和灵敏度较低。


技术实现思路

1、有鉴于此,有必要提供一种检测精度和灵敏度较高的正交轴向涡流探头及含有其的涡流检测装置。

2、本专利技术提供的正交轴向涡流探头,包括:探头由激励线圈和检测线圈相互正交放置组合而成;检测线圈为矩形线圈,垂直于待测金属工件表面放置;激励线圈为跑道型线圈,轴向放置于检测线圈中心。

3、优选的,检测线圈为正方形线圈。

4、优选的,激励线圈宽度方向的内侧距离小于等于1mm。

5、优选的,激励线圈由直径为0.1mm的漆包铜线绕制800匝形成。

6、优选的,检测线圈由直径为0.1mm的漆包铜线绕制400匝形成。

7、本专利技术提供的含有上述正交轴向涡流探头的涡流检测装置,包括:信号发生器、功率放大器、正交轴向涡流探头、扫描辅助组件及信号采集器;功率放大器的输入端与信号发生器电连接,功率放大器的输出端与正交轴向涡流探头的激励线圈电连接;信号采集器的输入端与正交涡流检测探头的检测线圈电连接;正交轴向涡流探头置于扫描辅助组件上。

8、优选的,扫描辅助组件,包括:沿长扫描支架和沿宽扫描支架。

9、优选的,沿长扫描支架,包括:探头固定部及握柄;探头固定部,呈长方体状;探头固定部的中心开设探头固定槽;探头固定槽的形状及尺寸,与正交轴向涡流探头的形状及尺寸相匹配;握柄呈长条状,握柄的一端与探头固定部的下端固定连接,握柄的另一端向平行远离探头固定部的方向延伸。

10、优选的,沿宽扫描支架呈长方体状;沿宽扫描支架上开设探头放置槽、工件放置槽、观察窗、及扫描对齐槽;探头放置槽位于沿宽扫描支架的中心部位,探头放置槽贯穿沿宽扫描支架的上下端面,探头放置槽的形状及尺寸,与沿长扫描支架的形状及尺寸相匹配;工件放置槽开设于沿宽扫描支架底部端面;工件放置槽贯穿沿宽扫描支架的左右端面;观察窗开设于探头放置槽的顶部正上方,观察窗贯穿沿宽扫描支架的上下端面;扫描对齐槽呈线状,开设于沿宽扫描支架的上端面;扫描对齐槽位于观察窗左右方向的中心部位。

11、上述正交轴向涡流探头及含有其的涡流检测装置,一方面,与现有技术中呈矩形状的激励线圈相比,设置了跑道型的激励线圈,由于激励线圈的两端呈弧状,使得激励线圈的电流可以避免突变,顺利通过,进一步使得激励线圈在宽度方向的距离可以缩小至较理想的状态,使得激励线圈产生的交变磁场在中心处产生的无磁场空心区域大大缩小;另一方面,与现有技术中检测线圈设置于激励线圈内相比,将检测线圈设置于激励线圈外,更靠近被测金属工件,更容易获得涡流产生的二次磁场对检测线圈周围的磁场分布的影响;因此,与现有技术相比,本专利技术提高了检测的精度和灵敏度。

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【技术保护点】

1.一种正交轴向涡流探头,其特征在于,包括:探头由激励线圈和检测线圈相互正交放置组合而成;检测线圈为矩形线圈,垂直于待测金属工件表面放置;激励线圈为跑道型线圈,轴向放置于检测线圈中心。

2.如权利要求1所述的正交轴向涡流探头,其特征在于:检测线圈为正方形线圈。

3.如权利要求1所述的正交轴向涡流探头,其特征在于:激励线圈宽度方向的内侧距离小于等于1mm。

4.如权利要求1所述的正交轴向涡流探头,其特征在于:激励线圈由直径为0.1mm的漆包铜线绕制800匝形成。

5.如权利要求1所述的正交轴向涡流探头,其特征在于:检测线圈由直径为0.1mm的漆包铜线绕制400匝形成。

6.一种含有如权利要求1~5所述正交轴向涡流探头的涡流检测装置,其特征在于,包括:信号发生器、功率放大器、正交轴向涡流探头、扫描辅助组件及信号采集器;功率放大器的输入端与信号发生器电连接,功率放大器的输出端与正交轴向涡流探头的激励线圈电连接;信号采集器的输入端与正交涡流检测探头的检测线圈电连接;正交轴向涡流探头置于扫描辅助组件上。

7.如权利要求6所述的涡流检测装置,其特征在于:扫描辅助组件,包括:沿长扫描支架和沿宽扫描支架。

8.如权利要求7所述的涡流检测装置,其特征在于:沿长扫描支架,包括:探头固定部及握柄;探头固定部,呈长方体状;探头固定部的中心开设探头固定槽;探头固定槽的形状及尺寸,与正交轴向涡流探头的形状及尺寸相匹配;握柄呈长条状,握柄的一端与探头固定部的下端固定连接,握柄的另一端向平行远离探头固定部的方向延伸。

9.如权利要求8所述的涡流检测装置,其特征在于:沿宽扫描支架呈长方体状;沿宽扫描支架上开设探头放置槽、工件放置槽、观察窗、及扫描对齐槽;探头放置槽位于沿宽扫描支架的中心部位,探头放置槽贯穿沿宽扫描支架的上下端面,探头放置槽的形状及尺寸,与沿长扫描支架的形状及尺寸相匹配;工件放置槽开设于沿宽扫描支架底部端面;工件放置槽贯穿沿宽扫描支架的左右端面;观察窗开设于探头放置槽的顶部正上方,观察窗贯穿沿宽扫描支架的上下端面;扫描对齐槽呈线状,开设于沿宽扫描支架的上端面;扫描对齐槽位于观察窗左右方向的中心部位。

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【技术特征摘要】

1.一种正交轴向涡流探头,其特征在于,包括:探头由激励线圈和检测线圈相互正交放置组合而成;检测线圈为矩形线圈,垂直于待测金属工件表面放置;激励线圈为跑道型线圈,轴向放置于检测线圈中心。

2.如权利要求1所述的正交轴向涡流探头,其特征在于:检测线圈为正方形线圈。

3.如权利要求1所述的正交轴向涡流探头,其特征在于:激励线圈宽度方向的内侧距离小于等于1mm。

4.如权利要求1所述的正交轴向涡流探头,其特征在于:激励线圈由直径为0.1mm的漆包铜线绕制800匝形成。

5.如权利要求1所述的正交轴向涡流探头,其特征在于:检测线圈由直径为0.1mm的漆包铜线绕制400匝形成。

6.一种含有如权利要求1~5所述正交轴向涡流探头的涡流检测装置,其特征在于,包括:信号发生器、功率放大器、正交轴向涡流探头、扫描辅助组件及信号采集器;功率放大器的输入端与信号发生器电连接,功率放大器的输出端与正交轴向涡流探头的激励线圈电连接;信号采集器的输入端与正交涡流检测探头的检测线圈电连接;正交轴向涡流探头置于扫描...

【专利技术属性】
技术研发人员:张富臣牛向平刘小平
申请(专利权)人:宁夏大学
类型:发明
国别省市:

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