【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电磁，具体而言，涉及一种地磁干扰检测方法、装置以及检测系统。
技术介绍
1、地磁传感器是目前智能终端中不可或缺的设备之一，在智能终端生产过程中，需要对地磁传感器受到的干扰情况进行检测。但是由于干扰因素较多，使得地磁干扰的检测过程较为繁琐且检测阶段靠后，影响了地磁干扰检测的效率。
技术实现思路
1、本申请提供了一种地磁干扰检测方法、装置以及检测系统，以至少解决检测效率低下的技术问题。
2、根据本申请实施例的第一个方面，提供了一种地磁干扰检测方法，包括：
3、获取电子设备各个运行模式的磁感应强度数据；
4、根据所述磁感应强度数据，计算磁感应强度数据的标准偏差；
5、根据所述标准偏差确定检测结果；其中，所述运行模式包括充电模式和非充电模式。
6、在本申请的另一实施例中，所述获取电子设备各个运行模式的磁感应强度数据，包括：
7、获取所述电子设备处于充电模式时，地磁传感器在预设的第一时长内且位于第一位置采集的磁感应强度值，以及获取所述电子设备处于非充电模式时，所述地磁传感器在预设的第二时长内且位于所述第一位置采集的磁感应强度值。
8、在本申请的另一实施例中，所述根据所述磁感应强度数据，计算磁感应强度数据的标准偏差，包括：
9、根据所述充电模式下和非充电模式下采集的磁感应强度值，分别提取三轴数据，其中，所述三轴数据包括x轴数据、y轴数据和z轴数据；
10、根据所述充电模式下的三
11、根据所述非充电模式下的三轴数据计算得到三个标准偏差。
12、在本申请的另一实施例中，所述根据所述标准偏差确定检测结果，包括：
13、当任一个所述标准偏差超过预设的偏差阈值时，确定所述检测结果为存在地磁干扰。
14、在本申请的另一实施例中，所述地磁传感器通过检测各轴的电压值并结合预设的计算模型计算得到所述磁感应强度值。
15、在本申请的另一实施例中，所述计算模型为：b＝uh*d/(rh*i)；
16、其中，uh为采集的电压值；rh为系数；d为电子设备的电位移；i为电子设备的电流；b为磁感应强度值。
17、在本申请的另一实施例中，所述电子设备处于磁场强度稳定的环境中。
18、根据本申请实施例的第二个方面，提供了一种地磁干扰检测装置，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有地磁干扰检测程序，所述处理器用于在执行地磁干扰检测程序时采用上述第一方面所述的地磁干扰检测方法。
19、根据本申请实施例的第三个方面，提供了一种检测系统，包括检测器和上述第二方面所述的地磁干扰检测装置；所述检测器用于采集电子设备各个运行模式的磁感应强度数据；所述地磁干扰检测装置用于执行上述第一方面所述的地磁干扰检测方法对所述电子设备进行地磁干扰检测。
20、在本申请实施例中，对电子设备的地磁干扰进行检测时，无需采集软磁参数，从而无需等到软磁参数集成后再进行地磁干扰检测，可以提早进行检测；同时，利用电子设备在各个运行模式的磁感应强度数据以及对应的标准偏差即可完成地磁干扰的检测，过程简单，提高了地磁干扰检测的效率。
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1.一种地磁干扰检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的地磁干扰检测方法，其特征在于，所述获取电子设备各个运行模式的磁感应强度数据，包括：
3.根据权利要求2所述的地磁干扰检测方法，其特征在于，所述根据所述磁感应强度数据，计算磁感应强度数据的标准偏差，包括：
4.根据权利要求3所述的地磁干扰检测方法，其特征在于，所述根据所述标准偏差确定检测结果，包括：
5.根据权利要求2所述的地磁干扰检测方法，其特征在于，所述地磁传感器通过检测各轴的电压值并结合预设的计算模型计算得到所述磁感应强度值。
6.根据权利要求5所述的地磁干扰检测方法，其特征在于，所述计算模型为：B＝UH*d/(RH*I)；
7.根据权利要求1-6任一项所述的地磁干扰检测方法，其特征在于，所述电子设备处于磁场强度稳定的环境中。
8.一种地磁干扰检测装置，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有地磁干扰检测程序，所述处理器用于在执行地磁干扰检测程序时采用权利要求1-7任一项所述的地磁干扰检测方法。
9.一
10.根据权利要求9所述的检测系统，其特征在于，所述电子设备包括智能手机，所述检测器包括地磁传感器。
...【技术特征摘要】
1.一种地磁干扰检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的地磁干扰检测方法，其特征在于，所述获取电子设备各个运行模式的磁感应强度数据，包括：
3.根据权利要求2所述的地磁干扰检测方法，其特征在于，所述根据所述磁感应强度数据，计算磁感应强度数据的标准偏差，包括：
4.根据权利要求3所述的地磁干扰检测方法，其特征在于，所述根据所述标准偏差确定检测结果，包括：
5.根据权利要求2所述的地磁干扰检测方法，其特征在于，所述地磁传感器通过检测各轴的电压值并结合预设的计算模型计算得到所述磁感应强度值。
6.根据权利要求5所述的地磁干扰检测方法，其特征在于，所述计算模型为：b＝uh*d/(rh*i)；
【专利技术属性】
技术研发人员：张龙，唐品花，钟守达，苏国波，龙卫卫，
申请(专利权)人：武汉星纪魅族科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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